【技术实现步骤摘要】
一种电子设备射频电磁场辐射抗扰度测试装置及使用方法
[0001]本专利技术涉及电子设备
,具体涉及一种电子设备射频电磁场辐射抗扰度测试装置及使用方法。
技术介绍
[0002]在电子设备进行射频电磁场辐射抗扰度测试时,需要使用功率放大器、场强探头、天线等设备,还对场地拥有一定要求,需要在电波暗室内进行测试,电波暗室需要具有合适的尺寸,同时为了保证测试结果的对比性和重复性,要对测试场地的均匀性进行校准,能维持相对于EUT来说具有足够空间的均匀场域,局部安装一些吸收材料使室内的反射减弱。当布置发生变化时(如试验位置的移动或试验设备的改变),都要重新进行校准,重新进行布置电波暗室,在测试人员重新布置电波暗室时,天花板上的吸波材料由于身高限制导致较难布置到,并且,对于一些实验对象来说,需要铺设较多的吸波材料,在测试人员较少的情况下,测试人员难以快速将电波暗室布置完成。
技术实现思路
[0003]为了克服上述的技术问题,本专利技术的目的在于提供一种电子设备射频电磁场辐射抗扰度测试装置及使用方法,通过将吸波板涂上背胶 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电子设备射频电磁场辐射抗扰度测试装置,包括壳体(100),其特征在于,所述壳体(100)一端滑动连接有盒体(200),所述壳体(100)一侧开设有第一出口(101),且壳体(100)顶面开设有第二出口(102),所述盒体(200)一侧开设有装载口(201),且盒体(200)顶面开设有移出口(202),所述盒体(200)内底面均开设有多个L型卡槽(203),且多个L型卡槽(203)内部均活动卡接有吸波板(300),所述壳体(100)另一侧设置有用于移动盒体(200)的移动机构(400),且第一出口(101)与第二出口(102)内部均设置有将吸波板(300)移出盒体(200)的抽出机构(500),且壳体(100)另一端设置有驱动机构(600),所述壳体(100)底端固定连接有行走部件(110)。2.根据权利要求1所述的一种电子设备射频电磁场辐射抗扰度测试装置,其特征在于,所述壳体(100)另一端固定连接有推杆(120)。3.根据权利要求1所述的一种电子设备射频电磁场辐射抗扰度测试装置,其特征在于,所述移动机构(400)包括连接块(410),所述连接块(410)内部转动连接有螺杆(420),且盒体(200)一端固定连接有连接条(430),所述连接条(430)一侧开设有螺纹孔,且螺纹孔内部与螺杆(420)一端旋合连接,所述螺杆(420)另一端固定连接有转柄(440)。4.根据权利要求1所述的一种电子设备射频电磁场辐射抗扰度测试装置,其特征在于,所述抽出机构(500)包括两个对称的连接板(510),且两个连接板(510)一侧均为弧形面,两个所述连接板(510)相背离一侧分别固定连接于相邻的第一出口(101)两端,且两个连接板(510)相邻一侧均开设有滑槽(511),两个所述滑槽(511)之间设置有滑杆(520),所述滑杆(520)的两端均滑动连接于相邻的滑槽(511)内部,且滑杆(520)上固定套接有多个刺环(521)。5.根据权利要求4所述的一种电子设备射频电磁场辐射抗扰度测试装置,其特征在于,所述滑槽(511)包括弧形槽部与直线槽部,所述直线槽部一端与弧形槽部一端均开设有导向槽(512),且两个导向槽(512)内部均滑动连接有滑块(710),两个所述导向槽(512)一端均固定连接有回弹弹簧(720),且两个回弹弹簧(720)一端均与相邻的滑块(710)固定连接。6.根据权利要求5所述的一种电子设备射频电磁场辐射抗扰度测试装置,其特征在于,所述滑块(710)一侧为斜面。7.根据权利要求6所述的一种电子设备射频电磁场辐射抗扰度测试装置,其特征在于,所述滑块(710)一端均匀固定连接有多个凸条(711),所述直线槽部一端与弧形槽部一端外侧壁均固定连接有拨块(730)。8.根据权利要求4所述的一种电子设备射频电磁场辐射抗扰度测试装置,其特征在于,位于第二出口(102)内部的两个连接板(510)顶面之间转动连接有双向螺纹杆(530)。9.根据权利要求1所述的一种电子设备射频电磁场辐射抗扰度测试装置,其特征在于,所述驱动机构(600)包括驱动电机(610),所述驱动电机(610)固定连接于壳体(100)一端,且驱动电机(610)电机轴固定连接有转盘(620),所述转盘(620)一侧外侧边转...
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