一种芯片的测试定位装置制造方法及图纸

本申请涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种芯片的测试定位装置，包括固定台、放置台、第一转轴、第二转轴、圆盘、滑动杆、滑轨、滑块和定位块；放置台和滑轨均设置于固定台；滑轨为多个，各个滑轨内均滑动设置有滑块；定位块与滑块一一对应连接；多个定位块环绕放置台设置，各个定位块均高于放置台；固定台的内部设有空腔，第一转轴和第二转轴转动安装于空腔内；第一转轴的第一端设有主动轮，第一转轴的第二端延伸至外部；第二转轴的第一端设有与主动轮啮合传动连接的从动轮，第二转轴的第二端与圆盘连接；圆盘设有多个弧形槽，各个弧形槽内滑动设有滑动杆；滑动杆与滑块一一对应连接。本申请解决了现有技术中存在定位调试不方便的技术问题。术问题。术问题。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片的测试定位装置


[0001]本申请涉及芯片测试
，特别涉及一种芯片的测试定位装置。

技术介绍

[0002]芯片是将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路，为了检验芯片是否能够正常使用，需要对芯片进行可靠性测试。可靠性测试就是为了评估产品在规定的寿命期间内，在预期的使用、运输或储存等所有环境下，保持功能可靠性而进行的活动。是将产品暴露在自然的或人工的环境条件下经受其作用，以评价产品在实际使用、运输和储存的环境条件下的性能，并分析研究环境因素的影响程度及其作用机理。通过使用各种环境试验设备模拟气候环境中的高温、低温、高温高湿以及温度变化等情况，加速反应产品在使用环境中的状况，来验证其是否达到在研发、设计、制造中预期的质量目标，从而对产品整体进行评估，以确定产品可靠性寿命。
[0003]现有的测试夹具利用容纳结构来放置校准件及芯片托板，能够使校准件与芯片托板相接触。同时，微调结构安装于底座上，且微调结构用于调节并固定校准件及芯片托板的位置，以达到了提高测试精准度的效果。但是现有的测试夹具在对放置的芯片进行精准定位时，往往通过转动两个螺栓来完成，这样不仅操作不便，而且费时费力，从而产生浪费时间的问题。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本申请的目的在于提供一种芯片的测试定位装置，有效地解决了现有技术中存在定位调试不方便的技术问题。
[0005]为达到上述目的，本申请提供以下技术方案：
[0006]一种芯片的测试定位装置，包括固定台、放置台、第一转轴、第二转轴、圆盘、滑动杆、滑轨、滑块和定位块；
[0007]所述放置台和所述滑轨均设置于所述固定台上；
[0008]所述滑轨为多个，各个所述滑轨内均滑动设置有所述滑块；
[0009]所述定位块为多个，所述定位块与所述滑块一一对应连接；
[0010]多个所述定位块环绕所述放置台设置，且各个所述定位块均高于所述放置台；
[0011]所述固定台的内部设有空腔，所述第一转轴和所述第二转轴均转动安装于所述空腔内；
[0012]所述第一转轴的第一端设有主动轮，所述第一转轴的第二端延伸至所述固定台的外部；
[0013]所述第二转轴的第一端设有与所述主动轮啮合传动连接的从动轮，所述第二转轴的第二端与所述圆盘连接；
[0014]所述圆盘上设有多个弧形槽，各个所述弧形槽内均滑动设有所述滑动杆；
[0015]所述滑动杆与所述滑块一一对应连接。
[0016]优选地，在上述的测试定位装置中，所述第一转轴和所述第二转轴之间通过所述主动轮和所述从动轮垂直传动连接。
[0017]优选地，在上述的测试定位装置中，所述定位块具体为四个；
[0018]四个所述定位块关于所述放置台的中心呈中心对称设置。
[0019]优选地，在上述的测试定位装置中，所述第一转轴的第二端设有转盘。
[0020]优选地，在上述的测试定位装置中，各个所述滑轨均包括对称设置的两个导向件；
[0021]所述滑块的两端分别与两个所述导向件滑动连接。
[0022]优选地，在上述的测试定位装置中，所述空腔内固定安装有支撑板；
[0023]所述圆盘位于所述支撑板的上方，且所述圆盘与所述支撑板转动连接。
[0024]优选地，在上述的测试定位装置中，所述支撑板的顶部固定设有限位轮；
[0025]所述圆盘的底部设有与所述限位轮相匹配的限位槽；
[0026]所述限位轮的外壁与所述限位槽的内壁通过齿面啮合传动连接。
[0027]优选地，在上述的测试定位装置中，各个所述定位块相向的一面均设有第一垫块。
[0028]优选地，在上述的测试定位装置中，还包括安装座；
[0029]所述固定台安装于所述安装座上；
[0030]所述安装座上设有多个安装耳。
[0031]优选地，在上述的测试定位装置中，还包括压紧机构；
[0032]所述压紧机构设有夹板；
[0033]所述夹板位于所述放置台的上方，用于与所述放置台之间形成压紧芯片的压紧空间。
[0034]与现有技术相比，本申请的有益效果是：
[0035]本申请提供了一种芯片的测试定位装置，通过旋转第一转轴，然后主动轮在第一转轴的带动下，带动从动轮转动，从动轮再通过第二转轴带动圆盘转动，由于弧形槽的设计，当圆盘转动时，由于弧形槽和滑轨的限位，能够带动滑动杆沿直线活动，从而实现滑动杆、滑块和定位块三者的同时沿直线移动，而且各个方向的各个定位块受到的力大小均等，使得定位块在对芯片位置进行定位调节时，可以受力均匀地对芯片夹持定位，不仅代替了采用转动螺栓的方式对芯片进行定位，具有操作方便的优点，有效地解决了现有技术中存在定位调试不方便的技术问题，而且还可以有效地保证对芯片的定位效果，有利于保障芯片进行可靠性测试的数据结果的准确性。
附图说明
[0036]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0037]图1为本申请实施例提供的一种芯片的测试定位装置的内部结构示意图；
[0038]图2为本申请实施例提供的一种芯片的测试定位装置的立体结构示意图；
[0039]图3为本申请实施例提供的一种芯片的测试定位装置的俯视图；
[0040]图4为本申请实施例提供的一种芯片的测试定位装置的剖视图。
[0041]图中：
[0042]1为固定台、2为放置台、3为第一转轴、4为第二转轴、5为圆盘、6为滑动杆、7为滑轨、8为滑块、9为定位块、10为空腔、11为主动轮、12为从动轮、13为弧形槽、14为转盘、15为支撑板、16为限位轮、17为第一垫块、18为安装座、19为安装耳、20为压紧机构。
具体实施方式
[0043]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0044]在本申请实施例的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请实施例的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0045]在本申请实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片的测试定位装置，其特征在于，包括固定台、放置台、第一转轴、第二转轴、圆盘、滑动杆、滑轨、滑块和定位块；所述放置台和所述滑轨均设置于所述固定台上；所述滑轨为多个，各个所述滑轨内均滑动设置有所述滑块；所述定位块为多个，所述定位块与所述滑块一一对应连接；多个所述定位块环绕所述放置台设置，且各个所述定位块均高于所述放置台；所述固定台的内部设有空腔，所述第一转轴和所述第二转轴均转动安装于所述空腔内；所述第一转轴的第一端设有主动轮，所述第一转轴的第二端延伸至所述固定台的外部；所述第二转轴的第一端设有与所述主动轮啮合传动连接的从动轮，所述第二转轴的第二端与所述圆盘连接；所述圆盘上设有多个弧形槽，各个所述弧形槽内均滑动设有所述滑动杆；所述滑动杆与所述滑块一一对应连接。2.根据权利要求1所述的测试定位装置，其特征在于，所述第一转轴和所述第二转轴之间通过所述主动轮和所述从动轮垂直传动连接。3.根据权利要求1所述的测试定位装置，其特征在于，所述定位块具体为四个；四个所述定位块关于所述放置台的中心呈中心对称设置。4.根据权利要求1所述的测...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵云，崔超，林伟斌，肖勇，王浩林，蔡梓文，
申请(专利权)人：南方电网科学研究院有限责任公司，
类型：新型
国别省市：