一种双光源检测识别方法及系统技术方案

本发明专利技术属于成像光谱技术领域，尤其涉及一种双光源检测识别方法，包括第一光源和第二光源，所述方法包括：将第一光源设置在检测台一侧，将第二光源设置在检测台的另一侧，移动待检测物体至检测台中央；启动第一光源和第二光源对待检测物体进行照射；通过第一光源对待检测物体的表面进行照射，由输出光路采集第一光源照射待检测物体的反射光，输入至光谱仪中；若待检测物体为透明物体，通过第二光源对待检测物体的背面进行照射通过输出光路采集第二光源照射待检测物体的后的透射光，输入至光谱仪中；根据待检测物体光谱数据，分析并获取待检测物体的材质信息，用户无需反复调节光路的搭建方式就可同时检测识别透明和非透明物体。搭建方式就可同时检测识别透明和非透明物体。搭建方式就可同时检测识别透明和非透明物体。

【技术实现步骤摘要】
一种双光源检测识别方法及系统


[0001]本专利技术属于成像光谱
，尤其涉及一种双光源检测识别方法及系统。

技术介绍

[0002]随着人们的环保意识逐渐增强，垃圾分类已然成为保护环境的一个重要行 径。但由于垃圾的类型繁多，单靠人工手动对垃圾进行分类不仅效率低下。因 而，安全高效地对垃圾分类成为保护环境的重要一步。
[0003]目前，市面上具有通过获取垃圾光谱图像进行分类的方法，采集垃圾光谱 数据时，检测不透明物体材质的时候用的反射光路，光源和光谱仪在物体的同 侧；在检测透明物体材质的时候，由于大部分的光都透过透明物体，只有极少 的光反射进入到光谱仪，通过透射的光路，很难检测透明的物体，故需将物体 用的透射光路，光源与光谱仪分别设置在物体的两侧；由于垃圾类型繁多，透 明物体与非透明物体通常会共同出现，检测识别透明与不透明物体的时候，需 要不断变更光路的搭建方式，导致检测过程繁琐，极大地降低了检测的效率与 智能化。因而，实有必要设计一种双光源检测识别方法及系统。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种双本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双光源检测识别方法，其特征在于，包括第一光源和第二光源，所述方法包括：将第一光源设置在检测台一侧，将第二光源设置在检测台的另一侧，移动待检测物体至检测台中央；同时启动第一光源和第二光源对待检测物体进行照射；通过第一光源对待检测物体的表面进行照射，采集所述第一光源照射待检测物体的反射光，输入至光谱仪中；若待检测物体为透明物体，通过第二光源对待检测物体的背面进行照射，采集所述第二光源照射待检测物体的后的透射光，输入至光谱仪中；根据待检测物体光谱数据，分析并获取待检测物体的材质信息。2.根据权利要求1所述的双光源检测识别方法，其特征在于，所述根据待检测物体光谱数据，分析并获取待检测物体的材质信息的步骤，具体包括：结合所述第一光源的反射光和第二光源的透射光，获取待检测物体光谱数据；根据待检测物体光谱数据通过材质标准光谱数据或机器学习模型进行分析比对，生成待检测物体的材质信息。3.根据权利要求2所述的双光源检测识别方法，其特征在于，所述结合所述第一光源的反射光和第二光源的透射光，获取待检测物体光谱数据的步骤，具体包括：若所述待检测物体为非透明物体，则根据所述第一光源照射待检测物体后的反射光谱，生成待检测物体光谱数据；若所述待检测物体为透明物体，则结合所述第一光源进待检测物体后的反射光和所述第二光源穿过带检测物体后的透射光，生成待检测物体光谱数据。4.根据权利要求3所述的双光源检测识别方法，其特征在于，所述根据待检测物体光谱数据通过材质标准光谱数据或机器学习模型进行分析比对，生成待检测物体的材质信息的步骤，具体包括：获取待检测物体光谱数据，提取待检测物体光谱数据对应的待检测物体特征向量；将待检测物体特征向量与预设的材质光谱数据进行对比，匹配与待检测物体特征向量相对应的材质光谱数据，生成待检测物体的材质信息。5.根据权利要求3所述的双光源检测识别方法，其特征在于，所述根据待检测物体光谱数据通过材质标准光谱数据或机器学习模型进行分析比对，生成待检测物体的材质信息的步骤，还包括：获取待检测物体光谱数据，将所述待检测物体光谱数据输入至光谱分析机器学习模型，根据所述光谱分析机器学习模型，生成光谱分析结果。6.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：莫卓亚，刘元路，杨日伦，
申请(专利权)人：广东弓叶科技有限公司，
类型：发明
国别省市：