显示模组及漏电流检测方法技术

本申请公开一种显示模组及漏电流检测方法，涉及显示技术领域，包括：阵列排布的多个像素，像素包括发光元件；待检测元件，待检测元件包括电源信号输入端；电源信号输出端；检测模块，检测模块包括第一输入端、第一输出端、第一检测线和第二检测线，第一输入端与电源信号输出端电连接于第一节点，第一输出端、第一检测线的第一端和第二检测线的第一端耦接于第二节点，第一检测线的第二端与i个发光元件的第一极电连接，其中，i≥1，且i为整数；第二检测线的第二端和电源信号输入端耦接于第三节点。本申请通过有鉴于此，本申请提供一种显示模组及漏电流检测方法，通过设置漏电流检测模块，能够有效检测显示模组中的漏电流，提高产品良率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
显示模组及漏电流检测方法


[0001]本申请涉及显示
，具体地说，涉及一种显示模组及漏电流检测方法。

技术介绍

[0002]随着显示技术的不断发展，显示面板制造技术也趋于成熟，现有的显示面板主要包括有机发光显示面板(Organic Light Emitting Diode，OLED)、液晶显示面板(Liquid Crystal Display，LCD)、等离子显示面板(Plasma Display Panel，PDP)等。作为自发光显示装置的有机发光显示装置不需要独立的光源。因此，有机发光显示装置能够在低电压下操作，重量轻而薄，并且提供诸如宽视角、高对比度和快速响应的高品质特性。因此，作为下一代显示装置的有机发光显示装置已经受到了关注。有机发光二极管(Organic Light
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Emitting Diode，OLED)可以作为显示装置以及照明装置的发光来源，其具有低能耗、高分辨率、快速响应和其它优良的光电特性，逐渐成为OLED显示的主流技术。
[0003]现有技术中，可穿戴设备越来越多的采用有机发光(OLED)本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示模组，其特征在于，包括：阵列排布的多个像素，所述像素包括发光元件；待检测元件，所述待检测元件包括电源信号输入端；电源信号输出端；检测模块，所述检测模块包括第一输入端、第一输出端、第一检测线和第二检测线，所述第一输入端与所述电源信号输出端电连接于第一节点，所述第一输出端、所述第一检测线的第一端和所述第二检测线的第一端耦接于第二节点，所述第一检测线的第二端与i个所述发光元件的第一极电连接，其中，i≥1，且i为整数；所述第二检测线的第二端和所述电源信号输入端耦接于第三节点；所述检测模块用于检测所述待检测元件是否存在漏流。2.根据权利要求1所述的显示模组，其特征在于，所述检测模块还包括分压电阻、第一晶体管、第一走线和第二晶体管；所述分压电阻的第一端与所述第一节点电连接，所述分压电阻的第二端与所述第一晶体管的第一极电连接，所述第一晶体管的第二极与所述第二节点电连接；或，所述第一晶体管的第一极与所述第一节点电连接，所述第一晶体管的第二极与所述分压电阻的第一端电连接；所述第一走线的第一端与所述第一节点电连接，所述第一走线的第二端与所述第二晶体管的第一极电连接；所述第二晶体管的第二极与所述第三节点电连接。3.根据权利要求2所述的显示模组，其特征在于，所述分压电阻的阻值为固定值。4.根据权利要求2所述的显示模组，其特征在于，所述检测模块还包括第三晶体管，所述第三晶体管的第一端与所述第二节点电连接，所述第三晶体管的第二端与所述第三节点电连接。5.根据权利要求4所述的显示模组，其特征在于，所述第一晶体管、所述第二晶体管和所述第三晶体管均为包括氧化物半导体的薄膜晶体管。6.根据权利要求4所述的显示模组，其特征在于，所述第一晶体管、所述第二晶体管和所述第三晶体管均为包括硅半导体的晶体管。7.根据权利要求1所述的显示模组，其特征在于，所述i＞1，且与所述第二节点电连接的多个所述发光元件为相同颜色的发光元件。8.根据权利要求1所述的显示模组，其特征在于，所述待检测元件还包括第一信号输出端和第二信号输出端；像素包括像素驱动电路，像素驱动电路包括第一电源信号端和第二电源信号端；第一电源信号端与第一信号输出端电连接，第二电源信号端与第二信号输出端电连接；像素驱动电路还包括驱动模块，驱动模块的第一端与第一电源信号端电连接，驱动模块的第二端与发光元件的第二极电连接，发光元件的第二极与第二电源信号端电连接。9.根据权利要求8所述的显示模组，其特征在于，还包括：电源芯片，所述电源芯片包括输出端，所述电源芯片的输出端与第二电源信号端电连接，或者；第二电...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨阳，吕博嘉，
申请(专利权)人：武汉天马微电子有限公司上海分公司，
类型：发明
国别省市：