光学系统、镜头模组和电子设备技术方案

技术编号:32517109 阅读:16 留言:0更新日期:2022-03-02 11:13
一种光学系统、镜头模组和电子设备,光学系统沿光轴由物侧至像侧依次包含:具有曲折力的第一透镜至第九透镜,且第一透镜和第八透镜具有正曲折力,第二透镜和第九透镜具有负曲折力。第一透镜、第二透镜、第三透镜和第四透镜的物侧面以及第四透镜的像侧面于近光轴处均为凸面,第一透镜、第二透镜和第九透镜的像侧面以及第八透镜的物侧面于近光轴处均为凹面。光学系统满足关系式:Fno*TTL/Imgh<2.3;其中,Fno为光学系统的光圈数,TTL为第一透镜的物侧面至光学系统的成像面于光轴上的距离,Imgh为光学系统最大视场角对应像高的一半。上述光学系统能具有更大的进光量,从而获取更多的场景内容和丰富的成像信息。内容和丰富的成像信息。内容和丰富的成像信息。

【技术实现步骤摘要】
光学系统、镜头模组和电子设备


[0001]本专利技术属于光学成像
,尤其涉及一种光学系统、镜头模组和电子设备。

技术介绍

[0002]随着科技的更新换代,消费者们对如手机、平板电脑等电子设备的成像质量要求也越来越高。目前,五片式成像镜头做的比较成熟,但分辨率愈来愈不能满足消费者的需求。相较于五片,九片式成像镜头组具有明显优势,能够获得更大的进光量和解析力;但是九片式成像镜头的透镜数量变多,从而导致整个光学镜头的尺寸过大。因此,如何在使光学镜头能拥有大进光量以确保成像质量的同时,还保持光学镜头具有较小的总尺寸成为了关键问题。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是提供一种光学系统、镜头模组和电子设备,该光学系统具有大进光量和小尺寸的特点。
[0004]为实现本专利技术的目的,本专利技术提供了如下的技术方案:
[0005]第一方面,本专利技术提供了一种光学系统,从物侧到像侧沿光轴依次包括:具有正曲折力的第一透镜,所述第一透镜的物侧面于近光轴处为凸面;像侧面于近光轴处为凹面;具有负曲折力的第二透镜,所述第二透镜的物侧面于近光轴处为凸面,像侧面于近光轴处为凹面;具有曲折力的第三透镜,所述第三透镜的物侧面于近光轴处为凸面;具有曲折力的第四透镜,所述第四透镜的物侧面于近光轴处为凸面,像侧面于近光轴处为凸面;第五透镜;第六透镜;第七透镜;具有正曲折力的第八透镜,所述第八透镜的物侧面于近光轴处为凹面;具有负曲折力的第九透镜,所述第九透镜的像侧面于近光轴处为凹面;所述光学系统满足关系式:Fno*TTL/Imgh<2.3;其中,Fno为所述光学系统的光圈数,TTL为所述第一透镜物侧面至所述光学系统的成像面于光轴上的距离,Imgh为所述光学系统最大视场角对应像高的一半。
[0006]其中,一种成像光学系统包含具有正曲折力的第一透镜以及负曲折力的第二透镜组合,利于矫正系统的轴上球差,具有正负的第三透镜和第四透镜,利于矫正系统的像散,具有负曲折力的第八透镜和具有负曲折力的第九透镜,有助于矫正系统的场曲;第一、二透镜于近光轴处物侧面为凸面以及像侧面为凹面,有利于光学系统光线的汇聚,提高系统的光学性能,第三透镜于近光轴处为凸面,产生较强正折光力,有利于缩短总长,第四透镜物侧面和像侧面均为凸面,可良好地校正球面像差、像散、场曲,第八透镜于近光轴处物侧面为凹面,利于系统矫正畸变,第九透镜于近光轴处像侧面为凹面,可以降低系统的敏感度,使光学系统利于工程制造。满足上述关系式,可以使系统获得更大的相对孔径和更大的像面,从而使光学系统能具有更大的进光量,在暗光的拍摄条件下,获取更多的场景内容和丰富成像信息,同时光学成像系统能保持较小的总尺寸的特点。当高于上述关系式的上限时,第一透镜物侧面至光学系统的成像面于光轴上的距离过长,不利于小尺寸的设计。
[0007]一种实施方式中,所述光学系统满足关系式:1.0<CT3/ET3<2.0;其中,CT3为所述第三透镜于光轴上的中心厚度,ET3为所述第三透镜的边缘厚度。边缘厚度为第三透镜物侧面的最大有效口径处至像侧面的最大有效口径处于光轴方向的距离。满足上述关系式,利于镜片的加工成型,利于降低组装的难度,且可以有效的矫正系统的场曲。当低于上述关系式的下限时,第三透镜于光轴上的中心厚度过小,不利于镜片的加工成型;当高于上述关系式的上限时,第三透镜于光轴上的中心厚度过大,会导致光学系统于近光轴处的长度过大,不利于小尺寸的设计。
[0008]一种实施方式中,所述光学系统满足关系式:1.2<|R6+R7|/|R6

R7|<2.0;其中,R7为所述第四透镜的物侧面于近光轴处的曲率半径,R6为所述第三透镜的像侧面于近光轴处的曲率半径。满足上述关系式,可以有效的控制第三透镜和四透镜的弯曲度,有利于降低制造的敏感度,且可以平衡系统的高级彗差,提高系统的成像质量。
[0009]一种实施方式中,所述光学系统满足关系式:0.3<|f9/(f2+f1)|<1.1;其中,f1为所述第一透镜的有效焦距,f2为所述第二透镜的有效焦距,f9为所述第九透镜的有效焦距。通过控制第九透镜与第一透镜和第二透镜之和的比值在一定的范围,能够合理分配第一透镜、第二透镜以及第九透镜的光焦度,有利于减小系统的球差,从而使得成像系统轴上区域具有良好的成像质量。
[0010]一种实施方式中,所述光学系统满足关系式:0.7<f8/f<1.0;其中,f8为所述第八透镜的有效焦距,f为所述光学系统的有效焦距。满足上述关系式,通过控制第八透镜的有效焦距和整个系统的有效焦距比值在一定的范围,从而第八透镜的光焦度在合理的范围,能够校正高级球差,使得系统具有良好的成像质量。
[0011]一种实施方式中,所述光学系统满足关系式:0.2<|SAG61/CT6|<0.8;其中,SAG61为所述第六透镜的物侧面和光轴的交点至所述第六透镜的物侧面的最大有效口径处于光轴上的距离,CT6为所述第六透镜于光轴上的中心厚度。满足上述关系式,通过控制此条件式在一定的范围,可有效控制第六透镜的弯曲度,有利于降低第六透镜制造的敏感度,且利于镜片的加工成型,更好的实现工程制造。
[0012]一种实施方式中,所述光学系统满足关系式:0.3<D6/CT7<0.8;其中,D6为所述第六透镜和所述第七透镜在光轴上的空气间隙,CT7为所述第七透镜在光轴上的中心厚度。满足上述关系式,保证第六七透镜的空气间隙和第七透镜的厚度比在一定的范围,可以有效的平衡系统产生的高级像差,且利于工程制作中的场曲调整,提高系统的成像质量。当低于条件式的比值时,第六透镜和第七透镜在光轴上的空气间隙过小,光学系统的高级像差难以平衡,当高于条件式的比值时,第七透镜在光轴上的中心厚度过小,光学系统的主光线角度过大难以与芯片的主光线角度匹配。
[0013]一种实施方式中,所述光学系统满足关系式:2.1<R3/R4<3.7;其中,R4为所述第二透镜的像侧面于近光轴处的曲率半径,R3为所述第二透镜的物侧面于近光轴处的曲率半径。满足上述关系式,合理控制第二透镜的曲率半径比值,可以有效的平衡系统的像差,降低系统的敏感度,提高成像系统的性能。当低于上述条件式比值的下限时,第二透镜物侧面于近光轴处的曲率半径过小导致面型过度弯曲,系统的敏感度会增大,不利于工程制造,当高于上述条件式比值的上限时,第二透镜物侧面于近光轴处的曲率半径过大导致面型过于平整,难以矫正系统的场曲像差,从而使系统的性能不佳。
[0014]一种实施方式中,所述光学系统满足关系式:1.1<TTL/f<1.4;其中,TTL为所述第一透镜的物侧面至所述光学系统成像面于光轴上的距离,f为所述光学系统的有效焦距。满足上述关系式,可利于光学系统的长度的压缩,同时防止系统的视场角过大,使光学系统能够本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学系统,其特征在于,从物侧到像侧沿光轴依次包括:具有正曲折力的第一透镜,所述第一透镜的物侧面于近光轴处为凸面;像侧面于近光轴处为凹面;具有负曲折力的第二透镜,所述第二透镜的物侧面于近光轴处为凸面,像侧面于近光轴处为凹面;具有曲折力的第三透镜,所述第三透镜的物侧面于近光轴处为凸面;具有曲折力的第四透镜,所述第四透镜的物侧面于近光轴处为凸面,像侧面于近光轴处为凸面;第五透镜;第六透镜;第七透镜;具有正曲折力的第八透镜,所述第八透镜的物侧面于近光轴处为凹面;具有负曲折力的第九透镜,所述第九透镜的像侧面于近光轴处为凹面;所述光学系统满足关系式:Fno*TTL/Imgh<2.3;其中,Fno为所述光学系统的光圈数,TTL为所述第一透镜的物侧面至所述光学系统的成像面于光轴上的距离,Imgh为所述光学系统最大视场角对应像高的一半。2.如权利要求1所述的光学系统,其特征在于,所述光学系统满足关系式:1.0<CT3/ET3<2.0;其中,CT3为所述第三透镜于光轴上的中心厚度,ET3为所述第三透镜的边缘厚度。3.如权利要求1所述的光学系统,其特征在于,所述光学系统满足关系式:1.2<|R6+R7|/|R6

R7|<2.0;其中,R7为所述第四透镜的物侧面于近光轴处的曲率半径,R6为所述第三透镜的像侧面于近光轴处的曲率半径。4.如权利要求1所述的光学系统,其特征在于,所述光学系统满足关系式:0.3<|f9/(f2+f1)|<1.1;其中,f1为所述第一透镜的有效焦距,f2为所述第二透镜的有效焦距,f9为所述第九透镜的有效焦距。5.如权利要求1所述的光学系统,其特征在于,所述光学系统满足关系式:0.7&l...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐标李明
申请(专利权)人:江西晶超光学有限公司
类型:发明
国别省市:

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