用于标识物体的特征的偏振捕获设备制造技术

一种设备包括第一偏振图像传感器，其被配置为从第一视角捕获与物体相关的第一图像数据。该设备还包括第二偏振图像传感器，其被配置为从不同于第一视角的第二视角捕获与物体相关的第二图像数据。该设备还包括处理器，该处理器被配置为基于第一图像数据或第二图像数据中的至少一项，来获取物体的偏振信息或深度信息中的至少一项，并且基于偏振信息或深度信息中的至少一项提取物体的特征。信息中的至少一项提取物体的特征。信息中的至少一项提取物体的特征。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于标识物体的特征的偏振捕获设备


[0001]本专利技术总体上涉及成像技术，并且更具体地涉及一种用于标识物体的特征的偏振捕获设备。

技术介绍

[0002]物体在反射、衍射、透射、折射和/或散射入射光时可能会产生与物体的性质相关的偏振特征。因此，偏振信息可以用于确定物体的各种属性。偏振相机已经用于捕获包括偏振信息的物体的图像。

技术实现思路

[0003]本专利技术的一个方面提供了一种设备，该设备包括被配置为从第一视角捕获与物体相关的第一图像数据的第一偏振图像传感器。该设备还包括被配置为从不同于第一视角的第二视角捕获与物体相关的第二图像数据的第二偏振图像传感器。该设备还包括处理器，该处理器被配置为基于第一图像数据或第二图像数据中的至少一项，来获取物体的偏振信息或深度信息中的至少一项，并且基于偏振信息或深度信息中的至少一项来提取物体的特征。
[0004]在一些实施例中，第一偏振图像传感器或第二偏振图像传感器中的至少一项可以是近红外(“NIR”)偏振图像传感器，并且第一图像数据或第二图像数据中的至少一项可以是单色图像数据。
[0005]在一些实施例中，该设备还可以包括光源，其被配置为发射用以照射物体的NIR光。
[0006]在一些实施例中，偏振信息可以包括Strokes参数、线性偏振度(“DOLP”)或线性偏振角(“AOLP”)中的至少一项。
[0007]处理器可以被配置为基于Strokes参数、DOLP、AOLP或深度信息中的至少一项来提取物体的特征。
[0008]在一些实施例中，处理器还可以被配置为基于第一图像数据或第二图像数据中的至少一项计算一个或多个Stokes参数。
[0009]处理器还可以被配置为基于一个或多个Stokes参数计算AOLP或DOLP中的至少一项。
[0010]处理器还可以被配置为基于多个Strokes参数值、多个DOLP值、多个AOLP值或深度信息中的至少一项来构造图像。
[0011]在一些实施例中，处理器还可以被配置为确定物体的材料，并且标识物体的材料的声学属性。
[0012]在一些实施例中，处理器还可以被配置为使用偏振滤波器阵列来对第一图像数据和第二图像数据进行滤波，该偏振滤波器阵列包括与多个偏振取向相关联的多个偏振滤波器。
[0013]在一些实施例中，第一偏振图像传感器或第二偏振图像传感器中的至少一项可以包括：以堆叠配置布置的微透镜阵列、偏振器阵列和像素阵列。
[0014]本专利技术的另一方面提供了一种设备，该设备包括被配置为获取与物体相关的图像数据的偏振图像传感器，该物体被结构光照射。该设备还包括处理器，该处理器被配置为基于图像数据获取物体的偏振信息或深度信息中的至少一项，并且基于偏振信息或深度信息中的至少一项提取物体的特征。
[0015]在一些实施例中，该设备还可以包括被配置为发射结构光的光源。
[0016]在一些实施例中，偏振图像传感器可以是近红外偏振图像传感器，并且图像数据是单色图像数据。
[0017]在一些实施例中，处理器还可以被配置为确定物体的材料，并且标识物体的材料的声学属性。
[0018]本专利技术的另一方面提供一种方法，该方法包括从第一视角捕获与物体相关的第一图像数据。该方法还包括从不同于第一视角的第二视角捕获与物体相关的第二图像数据。该方法还包括基于第一图像数据或第二图像数据中的至少一项，来获取物体的偏振信息或深度信息中的至少一项。该方法还包括基于物体的偏振信息或深度信息中的至少一项来提取物体的特征。
[0019]基于物体的偏振信息或深度信息中的至少一项提取物体的特征可以包括：确定物体的材料，并且该方法还包括标识物体的材料的声学属性。
[0020]基于物体的偏振信息或深度信息中的至少一项提取物体的特征可以包括确定物体的材料，并且其中该方法还包括标识物体的材料的声学属性。
[0021]在一些实施例中，偏振信息可以包括Strokes参数、线性偏振度(“DOLP”)或线性偏振角(“AOLP”)中的至少一项。
[0022]该方法还可以包括基于第一图像数据或第二图像数据中的至少一项，来计算一个或多个Stokes参数；并且基于一个或多个Stokes参数，来计算AOLP或DOLP中的至少一项。
[0023]根据本专利技术的说明书、权利要求和附图，本领域技术人员可以理解本专利技术的其他方面。
附图说明
[0024]根据各种公开的实施例，提供以下附图用于说明目的并且不旨在限制本专利技术的范围。在附图中：
[0025]图1示出了根据本专利技术的实施例的偏振捕获设备的示意图；
[0026]图2示出了根据本专利技术的实施例的偏振捕获系统的示意图；
[0027]图3示出了根据本专利技术的另一实施例的偏振捕获设备的示意图；
[0028]图4示出了根据本专利技术的另一实施例的偏振捕获系统的示意图；
[0029]图5是根据本专利技术的实施例的由偏振捕获设备或偏振捕获系统执行的方法的示意图；
[0030]图6A示出了根据本专利技术的实施例的包括偏振捕获设备的近眼显示器(“NED”)的示意图；
[0031]图6B示出了根据本专利技术的实施例的图6A所示的NED的一半的截面图的示意图；
[0032]图6C示出了根据本专利技术的另一实施例的图6A所示的NED的一半的截面图的示意图；以及
[0033]图7是根据本专利技术的实施例的像素化偏振相机的示意图。
具体实施方式
[0034]将参考附图描述与本专利技术一致的实施例，附图仅是用于说明目的的示例，并不旨在限制本专利技术的范围。在可能的情况下，在整个附图中使用相同的附图标记来指代相同或相似的部分，并且可以省略其详细描述。
[0035]此外，在本专利技术中，所公开的实施例和所公开的实施例的特征可以组合。所描述的实施例是本专利技术的部分实施例，而不是全部实施例。基于所公开的实施例，本领域普通技术人员可以导出与本专利技术相一致的其他实施例。例如，可以基于所公开的实施例进行修改、改编、替换、添加或其他变化。所公开的实施例的这种变化仍在本专利技术的范围内。因此，本专利技术不限于所公开的实施例。相反，本专利技术的范围由所附权利要求限定。
[0036]如本文中使用的，术语“耦合(couple)”、“耦合(coupled)”、“耦合(coupling)”等可以包括光耦合、机械耦合、电耦合、电磁耦合或其任何组合。两个光学元件之间的“光耦合”是指其中两个光学元件布置成光学系列的配置，并且从一个光学元件输出的光束可以被另一光学元件直接或间接接收。光学系列是指光路中多个光学元件的光学定位，使得从一个光学元件输出的光束可以被一个或多个其他光学元件透射、反射、衍射、转换、修改或以其他方式处理或操纵。在一些实施例中，布置多个光学元件的顺序可以影响或可以不影响多个光学元件的整体输出。耦合可以是直接耦合或间接耦合(例如，通过中间元件耦合)。
[0037]短语“A或B中的至少一个”可以包括A和B的所有组合，诸如仅A、仅B、或A本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种设备，包括：第一偏振图像传感器，被配置为从第一视角捕获与物体相关的第一图像数据；第二偏振图像传感器，被配置为从第二视角捕获与所述物体相关的第二图像数据，所述第二视角不同于所述第一视角；以及处理器，被配置为基于所述第一图像数据或所述第二图像数据中的至少一项，来获取所述物体的偏振信息或深度信息中的至少一项，并且基于所述偏振信息或所述深度信息中的所述至少一项，来提取所述物体的特征。2.根据权利要求1所述的设备，其中所述第一偏振图像传感器或所述第二偏振图像传感器中的至少一项是近红外(“NIR”)偏振图像传感器，并且所述第一图像数据或所述第二图像数据中的至少一项是单色图像数据。3.根据权利要求1或权利要求2所述的设备，还包括光源，所述光源被配置为发射用以照射所述物体的NIR光。4.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中所述偏振信息包括Strokes参数、线性偏振度(“DOLP”)或线性偏振角(“AOLP”)中的至少一项；并且优选地，其中所述处理器被配置为基于所述Strokes参数、所述DOLP、所述AOLP或所述深度信息中的至少一项来提取所述物体的所述特征。5.根据权利要求4所述的设备，其中所述处理器还被配置为基于所述第一图像数据或所述第二图像数据中的至少一项，来计算一个或多个Stokes参数；并且优选地，其中所述处理器还被配置为基于所述一个或多个Stokes参数，来计算所述AOLP或所述DOLP中的至少一项。6.根据权利要求4或权利要求5所述的设备，其中所述处理器还被配置为基于以下至少一项来构造图像：多个Strokes参数值、多个DOLP值、多个AOLP值或所述深度信息。7.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中所述处理器还被配置为确定所述物体的材料，并且标识所述物体的所述材料的声学属性。8.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中所述处理器还被配置为使用偏振滤波器阵列来对所述第一图像数据和所述第二图像数据进行滤波，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：S，
申请(专利权)人：脸谱科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：