核反应检测装置、方法以及程序制造方法及图纸

核反应检测装置具备：FPGA(Field Programmable Gate Array：现场可编程门阵列)(100)，其配置于粒子放射线入射的环境中，并形成有用户电路(101)，该用户电路(101)构成为在FPGA所包含的半导体元件中产生SEU(Single Event Upset：单粒子翻转)时输出与正常时不同的值；以及SEF检测部(210)，其基于来自所述FPGA(100)的用户电路(101)的输出值，检测在用户电路中发生了异常动作(SEF)。户电路中发生了异常动作(SEF)。户电路中发生了异常动作(SEF)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】核反应检测装置、方法以及程序


[0001]本专利技术涉及确定粒子线的能量，并进行该粒子的能量的SEU截面测定的技术。

技术介绍

[0002]为了测定SEU(Single Event Upset：单粒子翻转)截面的能量依赖性，以往通过照射特定能量的粒子束来测定SEU截面。例如，CYRIC(Cyclotron and Radioisotope Center：回旋加速器和放射性同位素中心)、TSL(The Svedberg Lab.)作为单色/准单色中子源而已知，通过仅生成特定的能量，能够求出由该能量的粒子引起的SEU截面(非专利文献1)。
[0003]在此，SEU是指单一的粒子(中子、质子、重粒子等)入射到存储器等LSI(Large Scale Integration：大规模集成电路)并通过核反应生成的电荷，由此使保存于LSI的数据(位)反转的现象。另外，SEU也被称为软错误。
[0004]另外，SEU截面(SEU Cross Section)是指表示粒子产生SEU的比例的尺度。若将对半导体照射注量(fluence)Φ[n/cm2]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种核反应检测装置，其特征在于，具备：FPGA，其配置于粒子放射线入射的环境中，并形成有用户电路，该用户电路构成为在FPGA所包含的半导体元件中产生SEU时输出与正常时不同的值，其中，所述FPGA为现场可编程门阵列，所述SEU为单粒子翻转；以及异常动作检测部，其根据来自所述FPGA的用户电路的输出值，检测在用户电路中发生了异常动作。2.根据权利要求1所述的核反应检测装置，其特征在于，所述用户电路具备：存储电路部；以及存储监视电路部，其以FPGA的时钟周期监视存储电路部中包含的各数据，检测任意一个数据的值有变化并输出检测结果。3.根据权利要求2所述的核反应检测装置，其特征在于，所述存储监视电路部具备：数据更新电路部，其使存储电路部的全部数据的值相同且以时钟周期发生变化；数据比较电路部，其对存储电路部的各数据进行比较；以及检测电路部，其基于数据比较电路部的比较结果来检测各数据的值变成不相同的情况并输出检测结果。4.根据权利要求1～3中任一项所述的核反应检测装置，其特征在于，所述核...

【专利技术属性】
技术研发人员：岩下秀德，船津玄太郎，古坂道弘，加美山隆，佐藤博隆，鬼柳善明，
申请(专利权)人：国立大学法人北海道大学国立大学法人东海国立大学机构，
类型：发明
国别省市：