光学探测装置及显示面板的烧录系统制造方法及图纸

本申请公开了一种光学探测装置及显示面板的烧录系统，光学探测装置用于检测显示面板的发光参数，光学探测装置包括：集光组件，包括第一探头和第二探头，第一探头用于汇集第一显示区发射的光线，第二探头用于汇集第二显示区发射的光线；传导通道，与集光组件连接，用于将第一探头和第二探头所汇集的光线分别传导至光线接收组件；光线接收组件，与传导通道连接且用于接收由传导通道入射的光线；光线处理器，与光线接收组件电连接，光线处理器用于对光线接收组件接收到的光线进行转换处理以得到显示面板的发光参数。本申请能够提高显示面板OTP烧录产能。板OTP烧录产能。板OTP烧录产能。

【技术实现步骤摘要】
光学探测装置及显示面板的烧录系统


[0001]本申请涉及显示
，具体涉及一种光学探测装置及显示面板的烧录系统。

技术介绍

[0002]在显示领域，目前通常采用一次性可编程(One Time Programming， OTP)的烧录方案，将不同的驱动电压调节值烧录至驱动芯片内，以提高显示模组的显示一致性。
[0003]随着屏下摄像头技术的发展，OTP烧录方案也随之变化。对于采用屏下摄像头技术的全面屏，需要单独对主屏区域和屏下摄像头区域(副屏区域)进行OTP烧录，即每个全面屏均需要进行两次烧录，主副屏区域烧录切换时还需要切换探头位置并重新进行对位，工艺复杂且耗时长。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供一种光学探测装置及显示面板的烧录系统，能够提高OTP烧录产能。
[0005]第一方面，本申请实施例提供一种光学探测装置，用于检测显示面板的发光参数，所述显示面板包括第一显示区以及第二显示区，所述第一显示区的透光率大于所述第二显示区的透光率，所述光学探测装置包括：集光组件，包括第一探头和第二探头，所述第一探头本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学探测装置，用于检测显示面板的发光参数，所述显示面板包括第一显示区以及第二显示区，所述第一显示区的透光率大于所述第二显示区的透光率，其特征在于，所述光学探测装置包括：集光组件，包括第一探头和第二探头，所述第一探头用于汇集所述第一显示区发射的光线，所述第二探头用于汇集所述第二显示区发射的光线；传导通道，与所述集光组件连接，用于将所述第一探头和所述第二探头所汇集的光线分别传导至光线接收组件；所述光线接收组件，与所述传导通道连接且用于接收由所述传导通道入射的光线；光线处理器，与所述光线接收组件电连接，所述光线处理器用于对所述光线接收组件接收到的光线进行转换处理以得到显示面板的发光参数。2.根据权利要求1所述的光学探测装置，其特征在于，所述第二探头的尺寸小于或等于所述第二显示区的尺寸。3.根据权利要求1所述的光学探测装置，其特征在于，所述集光组件还包括第一透镜和第二透镜，所述第一透镜设置于所述第一探头与所述光线接收组件之间，所述第二透镜设置于所述第二探头与所述光线接收组件之间。4.根据权利要求3所述的光学探测装置，其特征在于，所述第一透镜的光轴平行于所述第一探头的光轴，所述第二透镜的光轴平行于所述第二探头的光轴。5.根据权利要求4所述的光学探测装置，其特征在于，所述第一探头和所述第二探头均包括透镜。6.根据权利要求1所述的光学探测装置，其特征在于，所述光线接收组件包括光线接收器，所述传导通道包括主通道、与所述主通道连通的第一子通道和第二子通道，所述光线接收器设置于所述主通道内，所述第一子通道和所述第二子通道连接于所述主通道的同一端，所述第一探头设置于所述第一子通道远离所述主通道的一端，所述第二探头设置于所述第二子通道远离所述主通道的一端。7.根据权利要求6所述的光学探测装置，其特征在于，还包括通道切换组件，用于使所述第一子通道和所述第二子通道选择性导通。8.根据权利要求7所述的光学探测装置，其特征在于，所述通道切换组件包括第一光阑和第二光阑，所述第一光阑设置于所述第一子通道内且用于控制所述第一子通道的通断，所述第二光阑设置于所述第二子通道内且用于控制所述第二子通道的通断。9.根据权利要求6所述的光学探测装置，其特征在于，所述第一探头的光轴和所述第二探头的光轴平行设置，所述主通道的延伸方向平行于所述第一探头和所述第二探头的光轴。10.根据权利要求9所述的光学探测装置，其特征在于，所述第一子通道包括第一子段和第二子段，所述第二子段连接所述第一子段和所述主通道，所述第一探头设置于...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈润润，杨星星，
申请(专利权)人：合肥维信诺科技有限公司，
类型：新型
国别省市：