液晶面板的物理性质测量方法技术

本发明专利技术涉及液晶面板物理性质测量方法领域，其具体步骤是：对所述液晶面板中的的栅极施加该液晶面板源极

【技术实现步骤摘要】
液晶面板的物理性质测量方法


[0001]本专利技术涉及液晶面板物理性能测试


技术介绍

[0002]液晶面板因此其电路构成的特殊性，很难实际测量该液晶面板中的液晶层的各种物理性质。一般情况下为了表征该批次生产的物理性质，厂家会通过制造测试用液晶单元的方式来检测，但是，利用测试用液晶单元中的各种物理性质测量得到的测量结果当然与作为实际产品的液晶面板中的各种物理性质仍旧会有不同。
[0003]液晶面板制造过程中，从玻璃基板边缘充入液晶，由于玻璃基板边缘切割无可避免出现的毛刺和不均匀(因为非晶体切割现有技术的缺陷)，所以实际液晶充入的状态很难通过直接从边缘测量进行确定其各项物理性质指标。

技术实现思路

[0004]本专利技术目的在于提供一种液晶面板物理性质测量方法，可以测量液晶面板的液晶层各种物理性质，该方法包括以下步骤：
[0005]对所述液晶面板中的的栅极施加源极
‑
漏极间导通极限值的电压；
[0006]向所述液晶面板中的液晶层中写入脉冲电压，且将所述的源极的电位保持为地电平；
[0007]检测出写入了所述脉冲电压的所述液晶层的电位的变化而测量所述液晶层中的电压保持率；
[0008]液晶层中的液晶分子被电场驱动，该电场由利用所述驱动的像素电极、与该像素电极对应地设置的共用电极形成，对所述共用电极施加脉冲电压。
[0009]进一步的，向所述液晶面板中的液晶层及与该液晶层并联电连接的辅助电容中写入脉冲电压，且将所述的源极的电位保持为地电平的步骤；
[0010]检测出写入了所述脉冲电压的所述液晶层和所述辅助电容的合成后的电位的变化，测量所述液晶层和所述辅助电容的合成后的电压保持率。
[0011]其中，脉冲电压施加电路，用于向所述液晶面板中的液晶层中写入脉冲电压，且将所述的源极的电位保持为地电平；
[0012]电位变化检测电路，用于检测出利用所述脉冲电压施加电路施加了脉冲电压的所述液晶层的电位的变化，测量所述液晶层(的电压保持率；
[0013]栅极电位保持部，用于对所述液晶面板中的的栅极施加规定值的电压，
[0014]所述液晶层中的液晶分子被电场驱动，该电场由利用所述驱动的像素电极、与该像素电极(对应地设置的共用电极形成，对所述共用电极施加脉冲电压。
[0015]优选的，所述栅极规定值的电压与施加该液晶面板源极
‑
漏极间导通极限值的电压差值不超过
±
0.2V。
[0016]进一步的，所述脉冲电压的频率变化优选正弦曲线。
[0017]有益效果
[0018]本专利技术提供的测量方法，突破现有技术普遍采用样品测量表征液晶面板批量生产物理性质的方法，直观的测量实际产品的物理性质，大大提高了测量结论的准确性，而且，本方法并不需要复杂的测量设备，测量成本低。
具体实施方式
[0019]下面对用于实施本专利技术的最佳的方式进行说明。
[0020]本专利技术目的在于提供一种液晶面板物理性质测量方法，可以测量液晶面板的液晶层各种物理性质，该方法包括以下步骤：
[0021]对所述液晶面板中的的栅极施加源极
‑
漏极间导通极限值的电压；
[0022]向所述液晶面板中的液晶层中写入脉冲电压，且将所述的源极的电位保持为地电平；
[0023]检测出写入了所述脉冲电压的所述液晶层(的电位的变化而测量所述液晶层中的电压保持率，
[0024]液晶层中的液晶分子被电场驱动，该电场由利用所述驱动的像素电极、与该像素电极对应地设置的共用电极形成，对所述共用电极施加脉冲电压。
[0025]进一步的，向所述液晶面板中的液晶层及与该液晶层并联电连接的辅助电容中写入脉冲电压，且将所述的源极的电位保持为地电平的步骤；
[0026]检测出写入了所述脉冲电压的所述液晶层和所述辅助电容的合成后的电位的变化，测量所述液晶层和所述辅助电容的合成后的电压保持率。
[0027]其中，脉冲电压施加电路，用于向所述液晶面板中的液晶层(中写入脉冲电压，且将所述的源极的电位保持为地电平；
[0028]电位变化检测电路，用于检测出利用所述脉冲电压施加电路施加了脉冲电压的所述液晶层的电位的变化，测量所述液晶层(的电压保持率；
[0029]栅极电位保持部，用于对所述液晶面板中的的栅极施加规定值的电压，
[0030]所述液晶层中的液晶分子被电场驱动，该电场由利用所述驱动的像素电极、与该像素电极(对应地设置的共用电极形成，对所述共用电极施加脉冲电压。
[0031]所述栅极规定值的电压与施加该液晶面板源极
‑
漏极间导通极限值的电压差值不超过
±
0.2V。
[0032]所述脉冲电压的频率变化优选正弦曲线。
[0033]频率变化，能够作为监测液晶屏幕在实际使用中的性能，当电压和频率不稳定时，会否产生故障，对液晶造成不可逆转的损坏，这些，在常规的监测中一般是不做考量的，本测试方法增设这一点，能够更为实际的评估液晶面板因物理性质差异带来可能的潜在质量缺陷。
[0034]液晶面板包括阵列基板、CF基板及设置在阵列基板与CF基板之间的液晶。其中阵列基板通过在一玻璃基板上进行成膜、显影、蚀刻等工艺形成有效显示区及外围线路区。且该阵列基板的外围线路区包括模组COF压接区域及短路棒区域。该模组COF压接区域用于后段模组组装时，供驱动IC压接在该阵列基板上，并与阵列基板上的TFT、数据线及扫描线连接。短路棒区域上设置至少一线路，该线路与阵列基板上的扫描线或数据线连接，从而使得
与该线路连接的数据线或扫描线可以形成全部或部分短路。该短路棒区域上设置的线路还可以与阵列基板上的TFT的栅极连接。该短路棒区域上设置的线路主要是用于在阵列基板的制程中对阵列基板上的线路进行测试，以及用于在成盒段液晶面板的画面检测等等。
[0035]但是，在上述测试均结束后，必须通过激光将该短路棒区域上设置的线路去除，以防止短路棒区域上设置的线路造成阵列基板上的其他线路短路。该短路棒区域的宽度为150
‑
350um。由于短路棒区域上的线路将被激光去除，所以在后段模组组装的模组COF制程中，CO F等部件不会与模组COF压接区域外的其他线路(主要包括短路棒区域设置的线路)连接，因此模组COF压接区域外围不再需要设置安全区域，即本专利技术中的液晶面板比现有技术中的液晶面板，减少了安全区域的面积，故提高了液晶面板的利用率。
[0036]此外，在上述的实施方式中包含各种阶段的专利技术，可以利用所公开的多个构成要件的适当的组合来提取出各种专利技术。例如，即使从实施方式中所示的全部构成要件中删除几个构成要件，也可以解决在专利技术所要解决的课题的部分中所述的课题，在可以获得在专利技术的效果的部分中所述的效果的情况下，该删除了构成要件的构成也可以作为专利技术而被提取。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种液晶面板的物理性质测量方法，用于测量液晶面板的物理性质，其特征在于，具有：对所述液晶面板中的的栅极施加该液晶面板源极
‑
漏极间导通极限值的电压；向所述液晶面板中的液晶层中写入脉冲电压，且将所述的源极的电位保持为地电平；检测出写入了所述脉冲电压的所述液晶层的电位的变化而测量所述液晶层中的电压保持率，所述液晶层中的液晶分子被电场驱动，该电场由利用所述驱动的像素电极、与该像素电极对应地设置的共用电极形成，对所述共用电极施加脉冲电压。2.根据权利要求1所述的液晶面板的物理性质测量方法，其特征在于，向所述液晶面板中的液晶层及与该液晶层并联电连接的辅助电容中写入脉冲电压，且将所述的源极的电位保持为地电平的步骤；检测出写入了所述脉冲电压的所述液晶层和所述辅助电容的合成后的电位的变化，测量所述液晶层和所述辅助电容的合成后的电压保持率。3.根据权利要求1所述的液晶面板的物理性质测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗施庆，李军，
申请(专利权)人：湖南宏晶电子有限公司，
类型：发明
国别省市：