一种芯片验证的方法、装置、设备及可读介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种芯片验证的方法、装置、设备及可读介质，该方法包括：运行待测试的芯片，并实时检测芯片的运行状态；响应于检测到芯片发出测试任务完成的信号，将预定义的芯片的状态信息进行存储；将芯片的硬件状态信息进行存储；将芯片的状态信息和硬件状态信息发送到仿真软件中进行仿真。通过使用本发明专利技术的方案，能够解决ASIC平台长时间压力测试或者随机测试过程中出现的问题，能够减少对ASIC debug手段以及Trace工具的依赖，能够快速定位芯片验证测试过程中的问题。验证测试过程中的问题。验证测试过程中的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片验证的方法、装置、设备及可读介质


[0001]本专利技术涉及计算机领域，并且更具体地涉及一种芯片验证的方法、装置、设备及可读介质。

技术介绍

[0002]目前芯片验证的平台主要有Simulation、Emulation、FPGA以及ASIC，Simulation平台能够将芯片运行的状态全部保存下来，可以方便的在线或者离线调试，但能够保存的运行时间有限，而且运行速度过慢，尤其当要抓取波形时更慢；Emulation平台是各大厂商针对Simulation平台慢的缺点发展的硬件加速平台，同样可以将芯片运行的状态全部保存下来，并且所能保存的时间又有所增长，但相比Simulation平台的缺点就是成本高昂，并且要想在Emulation平台上完成大型任务如OS的运行，仍然困难重重；FPGA平台同样也能够将芯片运行的状态全部保存下来，并且所能保存的时间又有所增长，但需要提前将所要监测的信息加入到实现中，虽然FPGA理论上可以像Simulation一样保存所有的信息，但保存的时间仍有所限制，FPGA平台较为适合长时间压力测试或者随机测试，何时保存信号成为本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片验证的方法，其特征在于，包括以下步骤：运行待测试的芯片，并实时检测芯片的运行状态；响应于检测到芯片发出测试任务完成的信号，将预定义的芯片的状态信息进行存储；将芯片的硬件状态信息进行存储；将芯片的状态信息和硬件状态信息发送到仿真软件中进行仿真。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，运行待测试的芯片，并实时检测芯片的运行状态包括：响应于在ASIC上开始测试任务，生成一组测试参数并将测试参数和测试中需要的数据发送到待测试芯片；运行待测试芯片，并实时检测芯片运行测试任务的完成信号。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，响应于检测到芯片发出测试任务完成的信号，将预定义的芯片的状态信息进行存储包括：响应于检测到芯片发出测试任务完成的信号，将预定义的芯片的状态信息存进行暂存；启动DMA将暂存的状态信息发送到DDR中。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将芯片的状态信息和硬件状态信息发送到仿真软件中进行仿真包括：将芯片的状态信息和硬件状态信息发送到Simulation仿真软件；基于硬件状态信息将芯片的状态进行恢复并判断是否恢复成功；响应于芯片的状态恢复成功，使能芯片并使用Simulation仿真软件进行仿真以得到仿真结果；基于仿真结果进行分析。5.一种芯片验证的装置，其特征在于，所述装置包括：检测模块，所述检测模块配置为运行待测试的芯片，并实时检测芯片的运行状态；探针模块，所述探针模块配置为响应于检测到芯片发出测试任务完成的信号，将预定义的芯片的...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨亮，王芳，
申请(专利权)人：山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司，
类型：发明
国别省市：