一种检测电路及传感器制造技术

技术编号:32472100 阅读:26 留言:0更新日期:2022-03-02 09:33
一种检测电路,用于检测应力对电特性的影响,该检测电路包括:PMOS管主导自振荡环(101)、NMOS管主导自振荡环(102)和频率读取模块(103);PMOS管主导自振荡环(101)的信号路径中的PMOS管数量大于NMOS管数量;NMOS管主导自振荡环(102)的信号路径中的NMOS管数量大于PMOS管数量;频率读取模块(103)用于读取PMOS管主导自振荡环(101)或NMOS管主导自振荡环(102)输出的频率信号。该NMOS管主导自振荡环(102)输出的频率信号表征应力对NMOS管的电特性影响,PMOS管主导自振荡环(101)输出的频率信号表征应力对PMOS管的电特性影响。可以根据应力对NMOS管的影响以及PMOS管的影响改善电路的制造工艺,以减少应力对电路的电特性的影响。响。响。响。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员:曾秋玲刘燕翔陈赞锋夏禹
申请(专利权)人:华为技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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