仪器的正交轴系统的正交性的测量方法技术方案

本发明专利技术描述了一种仪器的正交轴系统的正交性的测量方法，仪器包括具有第一旋转轴的第一旋转装置和设置于第一旋转装置并具有第二旋转轴的第二旋转装置，正交轴系统包括第一旋转轴和第二旋转轴，测量方法包括：将仪器置于承载面；沿着截取面截取第二旋转轴以获得第一虚拟截面，截取面与承载面以及第二旋转轴在承载面的投影正交，对第一虚拟截面进行测量以获得第一位置；使第二旋转轴旋转预设角度，并使用截取面截取第二旋转轴以获得第二虚拟截面，对第二虚拟截面进行测量以获得第二位置；并且基于第一位置和第二位置判断第一旋转轴与第二旋转轴的正交性是否符合要求。根据本发明专利技术，能够提供一种提高正交轴系统的正交性的测量精度的测量方法。精度的测量方法。精度的测量方法。

【技术实现步骤摘要】
仪器的正交轴系统的正交性的测量方法
[0001]本申请是申请日为2021年07月29日、申请号为202110864479.3、专利技术名称为正交轴系统的正交性的测量方法的专利申请的分案申请。


[0002]本专利技术涉及精密工业与工程测量领域，具体涉及仪器的正交轴系统的正交性的测量方法。

技术介绍

[0003]在精密工业以及测量领域，人们在对大型机器进行装配的时候，经常需要通过精密仪器对组装的目标物进行测试以提高装配精度，同时在对完成机器的组装后，也需要对机器进行校准，且在装配过程中，除了对目标物或者目标物上的某个目标点进行三维坐标测量时，还需要对目标物品或目标点的运动情况进行测量，也即，对它们的姿态进行测量，因此需要一种可以在三维坐标基础上，还能完成六个自由度测量的仪器。由此就出现了通过坐标测量仪器对目标物或者目标点进行姿态测量的测量方式。坐标测量仪器的测量精度主要取决于角度和距离的测量精度，为了提高坐标测量仪器的测量精度，需要保证坐标测量仪器中的正交轴系统(至少包括水平轴和俯仰轴)的正交性。由此，针对坐标测量仪器的正交轴系统的正交性的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种仪器的正交轴系统的正交性的测量方法，所述仪器包括具有第一旋转轴的第一旋转装置和设置于所述第一旋转装置并具有第二旋转轴的第二旋转装置，所述第二旋转装置能够绕着所述第一旋转装置旋转，所述正交轴系统包括所述第一旋转轴和所述第二旋转轴，其特征在于，所述测量方法包括：将所述仪器置于承载面；沿着截取面截取所述第二旋转轴以获得第一虚拟截面，所述截取面与所述承载面以及所述第二旋转轴在所述承载面的投影正交，对所述第一虚拟截面进行测量以获得第一位置；使所述第二旋转轴旋转预设角度，并使用所述截取面截取所述第二旋转轴以获得第二虚拟截面，对所述第二虚拟截面进行测量以获得第二位置；并且基于所述第一位置和所述第二位置判断所述第一旋转轴与所述第二旋转轴的正交性是否符合要求。2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述第一位置为所述第一虚拟截面的几何中心，所述第二位置为所述第二虚拟截面的几何中心。3.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，通过测量位于所述第一虚拟截面的边缘的多个第一测量点的空间坐标并基于所述多个第一测量点的空间坐标来获得所述第一位置；通过测量位于所述第二虚拟截面的边缘的多个第二测量点的空间坐标并基于所述多个第二测量点的空间坐标来获得所述第二位置。4.根据权利要求3所述的测量方法，其特征在于，令测量仪的测头在所述截取面上围绕所述第一虚拟截面的外周旋转以获取所述多个第一测量点的空间坐标，在所述截取面上围绕所述第二虚拟截面的外周旋转以获取所述多个第二测量点的空间坐标，所述测量仪在测量过程中保持固定。5.根据权利要求3所述的测量方法，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：章智伟，陈源，张和君，冯福荣，廖学文，程龙军，
申请(专利权)人：深圳市中图仪器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：