核电厂仪控系统的定期试验装置、方法、介质、电子设备制造方法及图纸

技术编号:32458870 阅读:16 留言:0更新日期:2022-02-26 08:43
本发明专利技术公开了一种核电厂仪控系统的定期试验装置、方法、介质、电子设备,包括终端单元、试验单元和维护单元,终端单元安装在仪控系统上,试验单元的信号输出端与终端单元电连接,维护单元的信号输入端与仪控系统的维护信号输出端电连接,维护单元的信号输出端与试验单元的信号输入端电连接;终端单元包括实际信号端子和试验信号端子,实际信号端子与核电厂的现场传感器硬接线连接;本发明专利技术通过在终端单元设置实际信号端子和试验信号端子,使得在进行试验时,可以不拆除现场传感器的硬接线,试验信号通过试验信号端子注入,避免接线终端反复拆接带来的繁琐和可能造成的风险。拆接带来的繁琐和可能造成的风险。拆接带来的繁琐和可能造成的风险。

【技术实现步骤摘要】
核电厂仪控系统的定期试验装置、方法、介质、电子设备


[0001]本专利技术涉及核电
,具体涉及一种核电厂仪控系统的定期试验装置、方法、介质、电子设备。

技术介绍

[0002]按照核电厂设计准则,核电厂在正常运行和换料检修期间需要按照既定计划对数字化仪控系统进行定期试验,对仪控系统的功能和性能进行确认。
[0003]定期试验包括T1、T2、T3,其中T1试验是输入通道的定期试验,目的是为了验证模拟量输入通道的精度,以及数字量输入通道的可用性,试验对象包括仪控系统的所有硬接点输入通道,是定期试验中测试量最大试验。
[0004]T1试验可以在核电厂正常运行期间和换料大修期间执行,在进行T1试验时,首先要对被测试的输入通道进行参数维修旁通,并断开信号输入端子与现场传感器信号的硬连接线,在信号输入端子注入试验信号,将维护单元上读取系统接收到的信号与预期值比较,从而判断被测通道的是否合格。
[0005]但是上述的方法存在几项缺点:
[0006]1.每次试验都需要进行拆线,耗费大量的时间和人力;
[0007]2.接线终端由于反复拆接线,必然造成一定的损耗,恢复接线的可靠性会降低;
[0008]3.存在人因失误造成接线错误的风险,与核安全理念相悖。

技术实现思路

[0009]本专利技术所要解决的技术问题是在进行数字化仪控系统的试验中需要频繁的插拔接线终端,目的在于提供一种核电厂仪控系统的定期试验装置、方法、介质、电子设备,解决了仪控系统的试验信号输入的问题。/>[0010]本专利技术通过下述技术方案实现:
[0011]一种核电厂仪控系统的定期试验装置,包括:
[0012]终端单元,其安装在仪控系统上;
[0013]试验单元,其信号输出端与所述终端单元电连接;
[0014]维护单元,其信号输入端与所述仪控系统的维护信号输出端电连接,所述维护单元的信号输出端与所述试验单元的信号输入端电连接;
[0015]所述终端单元包括:
[0016]印制板;
[0017]实际信号端子,其固定设置在所述印制板上,且与所述仪控系统电连接,所述实际信号端子与核电厂的现场传感器硬接线连接;
[0018]试验信号端子,其固定设置在所述印制板上,且与所述仪控系统电连接;
[0019]处于正常工作状态时,正常信号通过所述实际信号端子输入所述仪控系统;
[0020]处于试验状态时,所述试验信号端子与所述试验单元的信号输出端连接,试验信
号通过所述试验信号端子输入所述仪控系统。
[0021]具体地,所述试验信号端子包括:
[0022]端子本体,其固定设置在印制板上,且与所述仪控系统的信号输入端电连接,所述端子本体上设置有多个信号插孔;
[0023]试验信号拨片,其与所述信号插孔适配,且在未进行定期试验时,所述试验信号拨片设置在所述信号插孔内。
[0024]具体地,所述信号插孔包括:
[0025]正端信号插孔;
[0026]负端信号插孔,其横截面与所述正端信号插孔的横截面相异;
[0027]所述试验信号拨片包括:
[0028]正端插针,其位置与所述正端信号插孔对应,且其横截面与所述正端信号插孔匹配;
[0029]负端插针,其位置与所述负端信号插孔对应,且其横截面与所述负端信号插孔匹配。
[0030]具体地,所述试验单元包括:
[0031]上位机,其信号输入端与所述维护单元的信号输出端电连接;
[0032]信号源,其控制端与所述上位机的控制端电连接;
[0033]试验信号接头,所述信号源的输出端与所述试验信号接头电连接,所述试验信号接头上设置有与所述信号插孔适配的信号插针。
[0034]优选地,所述信号源包括模拟信号源和数字信号源,所述模拟信号源的类型包括mA有源、mA无源、TC

K型、TC

N型、PT100、脉冲方波,所述数字信号源的类型包括干节点和湿节点。
[0035]一种核电厂仪控系统的定期试验方法,基于上述的一种核电厂仪控系统的定期试验装置,所述方法包括以下步骤:
[0036]断开实际信号向仪控系统的输入路径;
[0037]连接试验信号向仪控系统的输入路径;
[0038]向仪控系统输入试验信号;
[0039]读取仪控系统接收的测试信号,所述测试信号为试验信号在仪控系统内进行逻辑运算后的信号;
[0040]生成试验结果,并判断仪控系统是否合格。
[0041]具体地,所述向仪控系统输入试验信号的方法包括以下步骤:
[0042]在上位机确定仪控系统的参数,所述参数包括信号类型、信号注入时序和信号值;
[0043]上位机确定待注入的试验信号的参数;
[0044]上位机控制信号源输出对应参数的试验信号。
[0045]具体地,所述生成试验结果的方法包括以下步骤:
[0046]根据仪控系统和试验信号确定预期值,所述预期值为仪控系统在合格的状态下,接收试验信号并进行逻辑运算后的数值;
[0047]接收维护单元发送的测试信号;
[0048]获得误差范围;
[0049]对比预期值与测试信号,若预期值与测试信号在误差范围内,则判定仪控系统合格;若预期值与测试信号在误差范围外,则判断仪控系统不合格。
[0050]一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述一种核电厂仪控系统的定期试验方法的步骤。
[0051]一种电子设备,包括:至少一个处理器;以及,
[0052]与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,
[0053]所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行时实现上述一种核电厂仪控系统的定期试验方法的步骤。
[0054]本专利技术与现有技术相比,具有如下的优点和有益效果:
[0055]本专利技术通过在终端单元设置实际信号端子和试验信号端子,使得在进行试验时,可以不拆除现场传感器的硬接线,试验信号通过试验信号端子注入,避免接线终端反复拆接带来的繁琐和可能造成的风险;
[0056]同时,通过上位机控制信号源输出不同试验信号,以实现对不同的仪控系统进行试验,并自动与预期值进行比较,生成试验结果,提高试验效率。
附图说明
[0057]附图示出了本专利技术的示例性实施方式,并与其说明一起用于解释本专利技术的原理,其中包括了这些附图以提供对本专利技术的进一步理解,并且附图包括在本说明书中并构成本说明书的一部分,并不构成对本专利技术实施例的限定。
[0058]图1是根据本专利技术所述的一种核电厂仪控系统的定期试验装置的结构框图。
[0059]图2是根据本专利技术所述的终端单元的结构示意图。
[0060]附图标记:1
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种核电厂仪控系统的定期试验装置,其特征在于,包括:终端单元,其安装在仪控系统上;试验单元,其信号输出端与所述终端单元电连接;维护单元,其信号输入端与所述仪控系统的维护信号输出端电连接,所述维护单元的信号输出端与所述试验单元的信号输入端电连接;所述终端单元包括:印制板;实际信号端子,其固定设置在所述印制板上,且与所述仪控系统电连接,所述实际信号端子与核电厂的现场传感器硬接线连接;试验信号端子,其固定设置在所述印制板上,且与所述仪控系统电连接;处于正常工作状态时,正常信号通过所述实际信号端子输入所述仪控系统;处于试验状态时,所述试验信号端子与所述试验单元的信号输出端连接,试验信号通过所述试验信号端子输入所述仪控系统。2.根据权利要求1所述的一种核电厂仪控系统的定期试验装置,其特征在于,所述试验信号端子包括:端子本体,其固定设置在印制板上,且与所述仪控系统的信号输入端电连接,所述端子本体上设置有多个信号插孔;试验信号拨片,其与所述信号插孔适配,且在未进行定期试验时,所述试验信号拨片设置在所述信号插孔内。3.根据权利要求2所述的一种核电厂仪控系统的定期试验装置,其特征在于,所述信号插孔包括:正端信号插孔;负端信号插孔,其横截面与所述正端信号插孔的横截面相异;所述试验信号拨片包括:正端插针,其位置与所述正端信号插孔对应,且其横截面与所述正端信号插孔匹配;负端插针,其位置与所述负端信号插孔对应,且其横截面与所述负端信号插孔匹配。4.根据权利要求3所述的一种核电厂仪控系统的定期试验装置,其特征在于,所述试验单元包括:上位机,其信号输入端与所述维护单元的信号输出端电连接;信号源,其控制端与所述上位机的控制端电连接;试验信号接头,所述信号源的输出端与所述试验信号接头电连接,所述试验信号接头上设置有与所述信号插孔适配的信号插针。5.根据权利要求4所述的一种核电厂仪控系统的定期试验装置,其特征在于,所述信号源包括模拟信号源和数字信号源,所述模拟信号源的类型包括mA有源、...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈阳刘明明贺先建吴志强王远兵彭浩陈钊邓兴陈
申请(专利权)人:中国核动力研究设计院
类型:发明
国别省市:

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