一种基于PXI结构的塔康信号速度参数的校准方法及装置制造方法及图纸

技术编号:32458228 阅读:102 留言:0更新日期:2022-02-26 08:41
本发明专利技术提供了一种基于PXI结构的塔康信号速度参数的校准方法及装置,将塔康信号模拟器连接至单定向耦合器的耦合向的一个直通端口,PXI矢量信号发生器板卡连接至定向耦合器的另一个直通端口,PXI信号分析模块连接至定向耦合器的耦合端口,PXI矢量信号发生器板卡的触发输出端口连接至PXI信号分析模块的触发输入端口,PXI零槽控制器、PXI矢量信号发生器板卡和PXI信号分析模块均连接至PXI总线。本发明专利技术节省了系统体积,集成了测试功能,并提高了校准准确度,使塔康信号速度参数能够最终溯源至国家标准。幅点的定位更准确,测量结果准确度也更高。更高。更高。

【技术实现步骤摘要】
一种基于PXI结构的塔康信号速度参数的校准方法及装置


[0001]本专利技术涉及仪器计量
,尤其是一种自动校准的方法及装置,可用于塔康信号速度参数的校准测试。

技术介绍

[0002]在导航设备的调试、检验和现场维护过程中必须对塔康信号的速度参数进行校准,以验证导航设备的性能指标。
[0003]目前在测量塔康信号的速度参数时,还没有相应的达到准确度要求校准方法,仅能使用一般使用脉冲功率源结合数字示波器,利用脉冲功率源为塔康信号模拟器提供激励信号,数字示波器测量激励与应答之间的时间延时。而针对在时间上处于变化的速度参数,则只能才能读秒表计时的方法,测量准确度极低,无法进行有效校准。

技术实现思路

[0004]为了克服现有技术的不足,本专利技术提供一种基于PXI结构的塔康信号速度参数的校准方法及装置。本专利技术的目的在于针对上述现有技术的不足,提供了一种基于PXI结构的塔康信号速度参数的校准方法及装置,该系统基于PXI总线的系统架构,节省了系统体积,集成了测试功能,并提高了校准准确度,使塔康信号速度参数能够最终溯源至国家本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于PXI结构的塔康信号速度参数的校准方法,其特征在于包括下述步骤:步骤一:连接PXI结构的测试系统;将塔康信号模拟器连接至单定向耦合器(5)的耦合向的一个直通端口,PXI矢量信号发生器板卡(3)连接至定向耦合器(5)的另一个直通端口,PXI信号分析模块(4)连接至定向耦合器(5)的耦合端口,PXI矢量信号发生器板卡(3)的触发输出端口连接至PXI信号分析模块(4)的触发输入端口;步骤二:设置PXI信号分析模块(4)的本振频率为GJB 914的一个波道,使得PXI信号分析模块(4)根据GJB 914设置为GJB 914中应答信号的对应波道,并设置PXI矢量信号发生器板卡(3)发射带双脉冲调制的塔康激励信号,发射周期为t;步骤三:将PXI信号分析模块(4)设置为触发采集模式;步骤四:开始采集应答信号,将每次触发后采集得到的波形在PXI零槽控制器(2)中进行存储;步骤五:调用PXI零槽控制器(2)中采集得到的每个波形文件,测量i次采集到的应答信号的前沿(50%幅度点)与触发信号之间的时间差为T
i
;步骤六:根据测量得到的时间差T
i
计算速度测量结果,计算公式为:其中,C为光速,得到该速度测量结果后,提供给模拟器使用单位,用以修正模拟器速度值,校准被测设备。2.一种利用权利要求1所述基于PXI结构的塔康信号速度参数的校准装置,其特征在于:所述基于PXI结构的塔康信号速度参数的校准装置,包括PXI机箱(1),PXI零槽控制器(2)、PXI矢量信号发生器板卡(3)、PXI信号分析模块(4)和单定向耦合器(5),PXI零槽控制器(2)、PXI矢量信号发生器板卡(3)和PXI信号分析模块(4)均连接至PXI总线,并将PXI零槽控制器(2)、PXI矢量信号发生器板卡(3)、PXI信号分析模块(4)集成安装在PXI机箱(1)内,PXI零槽控制器(2)通过PXI总线控制PXI矢量信号发生器板卡(3)和PXI信号分析模块(4),PXI矢量信号发生器板卡(3)连接到单定向耦合器(5)一个直通端口,被测塔康信号模拟器连接到单定向耦合器(5)的另一个直通端口,PXI信号分析模块(4)连接到单定向耦合器(5)的耦合端口。3.根据权利要求2所述的基于PXI结构的塔康信号速度参数的校准装置,其特征在于:所述基于PXI结构的塔康信号速度参数的校准装置的PXI矢量信号发生器板卡(3)发射塔康信号模拟器所需的激励信号,编辑PXI矢量信号发生...

【专利技术属性】
技术研发人员:程翊昕陆强行江杨宁梁双港王胜奎王震宇朱恒飞李佳蔚
申请(专利权)人:中电科瑞测西安科技服务有限公司
类型:发明
国别省市:

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