用于晶体管参数估计的系统和方法技术方案

本发明专利技术公开一种用于晶体管参数估计的系统和方法。在一些实施例中，用于设置晶体管的第一补偿系数的方法包括：确定多个测得的晶体管电流，每个测得的晶体管电流在多个晶体管控制电压的相应一个下确定；基于测得的晶体管电流和晶体管控制电压设置第一补偿系数；以及基于第一补偿系数，调节被施加到晶体管的栅极的电压，电压与颜色值相对应。电压与颜色值相对应。电压与颜色值相对应。

【技术实现步骤摘要】
用于晶体管参数估计的系统和方法
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求于2020年8月7日提交的标题为“通过减小可变空间的维数进行参数估计并由此计算自适应的初始条件”的美国临时申请第63/062,898号的优先权和权益，其全部内容通过引用并入本文。


[0003]根据本公开的实施例的一个或多个方面涉及晶体管驱动电路，并且更具体地涉及用于晶体管参数估计的系统和方法。

技术介绍

[0004]在包括具有不确定参数的晶体管的系统中，或者在包括具有不同参数的多个晶体管的系统中，利用对参数的不确定性或参数的变化进行补偿的电路来驱动该晶体管或这些晶体管可能是有利的。为此，可以使用用于晶体管参数估计的系统和方法。

技术实现思路

[0005]根据本专利技术的实施例，提供了一种用于设置晶体管的第一补偿系数的方法，该方法包括：确定多个测得的晶体管电流，每个测得的晶体管电流在多个晶体管控制电压的相应一个下确定；基于多个测得的晶体管电流和多个晶体管控制电压设置第一补偿系数；以及基于第一补偿系数，调节被施加到晶体管的栅极的电压本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于设置晶体管的第一补偿系数的方法，所述方法包括：确定多个测得的晶体管电流，每个测得的晶体管电流在多个晶体管控制电压的相应一个下确定；基于所述多个测得的晶体管电流和所述多个晶体管控制电压设置所述第一补偿系数；以及基于所述第一补偿系数，调节被施加到所述晶体管的栅极的电压，所述电压与颜色值相对应。2.根据权利要求1所述的方法，其中：所述第一补偿系数是乘法补偿系数；所述方法进一步包括设置加法补偿系数；并且所述乘法补偿系数和所述加法补偿系数的所述设置包括估计所述晶体管的多个参数。3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述多个参数包括阿尔法、阈值电压和迁移率。4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述晶体管的所述多个参数的所述估计包括求解两个参数的两个方程，所述两个参数是所述阿尔法和所述阈值电压。5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述两个方程中的每一个仅取决于所述晶体管的所述多个参数中的所述阿尔法和所述阈值电压。6.根据权利要求4所述的方法，其中：具有在下面值的50％以内的值其中：I1是所述多个测得的晶体管电流中的第一电流，I2是所述多个测得的晶体管电流中的第二电流，I3是所述多个测得的晶体管电流中的第三电流，I4是所述多个测得的晶体管电流中的第四电流，Vgs1是所述多个晶体管控制电压中的与所述第一电流相对应的晶体管控制电压，Vgs2是所述多个晶体管控制电压中的与所述第二电流相对应的晶体管控制电压，Vgs3是所述多个晶体管控制电压中的与所述第三电流相对应的晶体管控制电压，Vgs4是所述多个晶体管控制电压中的与所述第四电流相对应的晶体管控制电压，V
th
是所述阈值电压，并且α是所述阿尔法。7.根据权利要求4所述的方法，其中：具有在下面值的50％以内的值
其中：I1是所述多个测得的晶体管电流中的第一电流，I2是所述多个测得的晶体管电流中的第二电流，Vgs1是所述多个晶体管控制电压中的与所述第一电流相对应的晶体管控制电压，Vgs2是所述多个晶体管控制电压中的与所述第二电流相对应的晶体管控制电压，V
th
是所述阈值电压，并且α是所述阿尔法。8.根据权利要求4所述的方法，其中，所述求解包括得到所述阿尔法和所述阈值电压的近似数值解，所述近似数值解在满足所述两个方程的程度上使误差的测量结果最小化。9.根据权利要求4所述的方法，进一步包括基于所述阿尔法和所述阈值电压以最小二乘拟合来求解所述迁移率。10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述多个参数进一步包括偏置电流。11.根据权利要求10所述的方法，进一步包括基于所述阿...

【专利技术属性】
技术研发人员：高雷夫，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：