一种高精度水平测量支撑装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种高精度水平测量支撑装置，属于高精度水平检测技术领域。该装置包括测量平台，测量平台上设有顶尖支撑结构和天平式支撑结构；顶尖支撑结构包括支撑座和第一顶撑，天平式支撑结构包括称座、支柱、连接轴、称杆以及多个第二顶撑，支柱设于称座内，称杆通过连接轴设置于支柱上，多个第二顶撑设置于称杆上并保持称杆的平衡；第一、第二顶撑均包括支撑杆和设于支撑杆顶端的顶尖球。本装置通过天平式的自平衡结构，在不违反三点定位理论的前提下，使一个基准定位点扩展为多个支撑定位点，提高了工件在水平测量平台上的被动精度，降低了待测工件的自重变形。降低了待测工件的自重变形。降低了待测工件的自重变形。

【技术实现步骤摘要】
一种高精度水平测量支撑装置


[0001]本技术涉及高精度水平检测以及高端精密制造
，特别是指一种高精度水平测量支撑装置，可用于对微米级变形精度的平面或曲面结构的检测。

技术介绍

[0002]目前，达到微米级变形精度的结构广泛出现于航空航天、造船、汽车、电子通信、光学等领域内，进而也提高了对高精度结构的检测需求。通常情况下，企业选择使用三坐标检测仪对微米级结构精度进行检测。三坐标检测仪由检测设备与检测平台组成。
[0003]在传统的高精度工件精度测量过程中，需使用压板、螺栓、垫片和支架等辅助零件，采用挤压方式将工件固定在检测平台上。此类固定的接触面较小，近似于刚性点接触，可被认为是若干集中力施加到了结构的特定点上。这些特定点在这些点接触集中力的作用下产生了明显的局部变形，对结构整体的精度产生了负面影响。此外，对于具有面积高度比大的特点的零件，将其布置在检测平台上后，易出现因自身重力而产生的变形。
[0004]以某太赫兹天线面板为例，通过有限元仿真发现，在水平放置装态下的变形与理论模型相比，其最大差值达到了3微米。这一变形已接本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高精度水平测量支撑装置，包括测量平台；其特征在于，所述测量平台上设有至少一个顶尖支撑结构和至少一个天平式支撑结构；所述顶尖支撑结构包括支撑座和第一顶撑，所述天平式支撑结构包括称座、支柱、连接轴、称杆以及多个第二顶撑，支柱设于称座内，称杆通过连接轴设置于支柱上，多个第二顶撑设置于称杆上并保持称杆的平衡；所述第一、第二顶撑均包括支撑杆和设于支撑杆顶端的顶尖球。2.根据权利要求1所述的一种高精度水平测量支撑装置，其特征在于，所述顶尖支撑结构...

【专利技术属性】
技术研发人员：尹可鑫，张伟明，曹江涛，张灵军，张辉，任兵锐，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第五十四研究所，
类型：新型
国别省市：