一种半导体检测用翻转台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体检测用翻转台，包括支撑架和固定单元；支撑架：其上端的左右两侧均通过轴承转动连接有第一支撑轴，两个第一支撑轴之间设有框板；固定单元：包括夹板、矩形孔、第二支撑轴和弹簧，所述夹板对称滑动连接于框板的内部前后两侧，夹板的上表面均对称开设有矩形孔，矩形孔的内部均设有第二支撑轴，第二支撑轴的外弧面均活动套接有弹簧，四个弹簧的相对背离端头分别与框板的上表面四个避让槽的纵向相对内侧壁接触，四个弹簧的相对内侧端头分别与四个矩形孔的纵向相对背离内侧壁接触，固定单元还包括放置槽，该半导体检测用翻转台，能对半导体定心夹持，使用简单方便，给检测提供了便利。给检测提供了便利。给检测提供了便利。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体检测用翻转台


[0001]本技术涉及半导体生产
，具体为一种半导体检测用翻转台。

技术介绍

[0002]在我们的生活中离不开半导体的使用，是因为大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联，进而半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，进而在半导体在生产中需要进行检测，以此提高生产质量保证半导体的使用安全，为了提高半导体的检测效率，会使用到翻转台，半导体固定在翻转台，然后翻转台可以快速的对半导体进行翻面，对半导体的另一面固定，传统的翻转台在对半导体固定时，一般是固定单元的一端移动，另一端静止，然后对半导体进行夹持固定，虽然结构简单，使用成本小，但是不能保证翻转台的旋转轴心和半导体的纵向的中心截面共面，进而在旋转后，半导体会发生纵向的错位，给检测带来了不便，为此，我们提出一种半导体检测用翻转台。

技术实现思路

[0003]本技术要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供一种半导体检测用翻转台，能对方便快捷的对半导体进行定心夹持，保证翻转台的旋转轴心和半导体的纵向的中心截面共面方便半导体的检测，可以有效解决
技术介绍
中的问题。
[0004]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体检测用翻转台，包括支撑架和固定单元；
[0005]支撑架：其上端的左右两侧均通过轴承转动连接有第一支撑轴，两个第一支撑轴之间设有框板；
[0006]固定单元：包括夹板、矩形孔、第二支撑轴和弹簧，所述夹板对称滑动连接于框板的内部前后两侧，夹板的上表面均对称开设有矩形孔，矩形孔的内部均设有第二支撑轴，第二支撑轴的外弧面均活动套接有弹簧，四个弹簧的相对背离端头分别与框板的上表面四个避让槽的纵向相对内侧壁接触，四个弹簧的相对内侧端头分别与四个矩形孔的纵向相对背离内侧壁接触，可以方便快捷的夹持不同宽度的半导体，能对半导体定心夹持，保证夹持不同宽度的半导体在翻面后位置不会发生纵向错位方便检测。
[0007]进一步的，所述固定单元还包括放置槽，所述放置槽对称开设于两个夹板的相对内侧面，放置槽的上端分别延伸出夹板的上表面，方便半导体的放置。
[0008]进一步的，所述支撑架的右侧面下端设有PLC控制器，PLC控制器的输入端电连接外部电源，方便电器的控制。
[0009]进一步的所述支撑架的右侧面上端设有电机，电机的输出轴和右侧的第一支撑轴右端固定连接，电机的输入端电连接PLC控制器的输出端，给半导体的翻转提供了动力。
[0010]进一步的，所述框板的上表面右端转动连接有转轴，转轴的下端设有齿轮，齿轮位于框板的内部，前侧的夹板右侧面上端设有支撑板，支撑板的下表面右端和后侧的夹板右
侧面下端均设有齿条，齿条均与齿轮啮合连接，保证两个夹板能同步运动。
[0011]进一步的，所述转轴的上端设有手轮，方便两个夹板的打开。
[0012]进一步的，还包括定位柱，所述定位柱设置于前侧的夹板上表面后侧，定位柱的外弧面矩形孔内滑动连接有标尺，定位柱的上端螺纹孔内螺纹连接有螺栓，螺栓的下端和标尺的上表面接触，方便半导体的夹持。
[0013]与现有技术相比，本技术的有益效果是：本半导体检测用翻转台，具有以下好处：
[0014]在使用时，顺时针转动手轮，手轮通过转轴带动齿轮转动，齿轮带动两个齿条移动，后侧的齿条将带动后侧的夹板向后移动，齿条前侧的齿条通过支撑板带动前侧的夹板移动，两个夹板带动四个弹簧向背离的方向移动，进而将压缩弹簧，前侧的夹板带动定位柱向前移动，定位柱带动标尺向前移动，进而标尺的前移一端距离后，标尺的前端和框板的前侧壁接触，然后停止转动，此时两个夹板相对内侧壁之间的距离小于半导体的宽度，两个放置槽前后内侧壁之间的距离大于半导体的宽度，然后将半导体的两边分别放置到放置槽中，半导体然后松开手轮，压缩的弹簧将在框板的支撑下驱动两个夹板向内移动，进而将半导体夹紧，并且在齿条和齿轮的作用下，两个夹板同步向内移动，标尺的位置可以调节，可以方便快捷的夹持不同宽度的半导体，能对半导体定心夹持，保证翻转台的旋转轴心和半导体的纵向的中心截面共面，保证夹持不同宽度的半导体在翻面后位置不会发生纵向错位方便检测。
附图说明
[0015]图1为本技术结构示意图；
[0016]图2为本技术A处放大结构示意图；
[0017]图3为本技术B处放大结构示意图；
[0018]图4为本技术C处放大结构示意图。
[0019]图中：1支撑架、2第一支撑轴、3框板、4电机、5 PLC控制器、 6固定单元、61夹板、62矩形孔、63第二支撑轴、64弹簧、65放置槽、7支撑板、8齿条、9转轴、10齿轮、11手轮、12定位柱、13 标尺、14螺栓。
具体实施方式
[0020]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0021]请参阅图1
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4，本实施例提供一种技术方案：一种半导体检测用翻转台，包括支撑架1和固定单元6；
[0022]支撑架1：其上端的左右两侧均通过轴承转动连接有第一支撑轴 2，两个第一支撑轴2之间设有框板3，支撑架1的右侧面下端设有 PLC控制器5，PLC控制器5的输入端电连接外部电源，支撑架1的右侧面上端设有电机4，电机4的输出轴和右侧的第一支撑轴2右端固定连接，电机4的输入端电连接PLC控制器5的输出端，用固定螺栓将支撑架1固定到检测设
备的工作台上，当需要翻面检测时，调控 PLC控制器5，电机4运转，电机4的输出轴带动右侧的第一支撑轴 2旋转，右侧的第一支撑轴2带动框板3绕第一支撑轴2的轴心旋转；
[0023]固定单元6：包括夹板61、矩形孔62、第二支撑轴63和弹簧64，夹板61对称滑动连接于框板3的内部前后两侧，夹板61的上表面均对称开设有矩形孔62，矩形孔62的内部均设有第二支撑轴63，第二支撑轴63的外弧面均活动套接有弹簧64，第二支撑轴63给弹簧64 提供了导向支撑，四个弹簧64的相对背离端头分别与框板3的上表面四个避让槽的纵向相对内侧壁接触，四个弹簧64的相对内侧端头分别与四个矩形孔62的纵向相对背离内侧壁接触，固定单元6还包括放置槽65，放置槽65对称开设于两个夹板61的相对内侧面，放置槽65的上端分别延伸出夹板61的上表面，框板3的上表面右端转动连接有转轴9，转轴9的下端设有齿轮10，齿轮10位于框板3的内部，前侧的夹板61右侧面上端设有支撑板7，支撑板7的下表面右端和后侧的夹板61右侧面下端均设有齿条8，齿条8均与齿轮10 啮合连接，转轴9的上端设有手轮11，顺时针转动手轮11，手轮11 通过转轴9带动齿轮10转动本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体检测用翻转台，其特征在于：包括支撑架(1)和固定单元(6)；支撑架(1)：其上端的左右两侧均通过轴承转动连接有第一支撑轴(2)，两个第一支撑轴(2)之间设有框板(3)，固定单元(6)：包括夹板(61)、矩形孔(62)、第二支撑轴(63)和弹簧(64)，所述夹板(61)对称滑动连接于框板(3)的内部前后两侧，夹板(61)的上表面均对称开设有矩形孔(62)，矩形孔(62)的内部均设有第二支撑轴(63)，第二支撑轴(63)的外弧面均活动套接有弹簧(64)，四个弹簧(64)的相对背离端头分别与框板(3)的上表面四个避让槽的纵向相对内侧壁接触，四个弹簧(64)的相对内侧端头分别与四个矩形孔(62)的纵向相对背离内侧壁接触。2.根据权利要求1所述的一种半导体检测用翻转台，其特征在于：所述固定单元(6)还包括放置槽(65)，所述放置槽(65)对称开设于两个夹板(61)的相对内侧面，放置槽(65)的上端分别延伸出夹板(61)的上表面。3.根据权利要求1所述的一种半导体检测用翻转台，其特征在于：所述支撑架(1)的右侧面下端设有PLC控制器(5)，PLC控制器(...

【专利技术属性】
技术研发人员：李云峰，
申请(专利权)人：苏州翼云电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：