【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种制造垂直存储器阵列的方法,所述方法包含:提供衬底;在所述衬底中形成第一沟槽;在所述衬底中形成第二沟槽;在所述衬底中进行离子注入,以在所述第一及第二沟槽之间形成接合(joint)漏极区;在所述衬底及 所述第一沟槽上形成电荷捕捉结构;在所述衬底及所述第二沟槽上形成电荷捕捉结构;以及在所述第一及第二沟槽中形成多晶硅栅极层。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:徐子轩,李明修,吴昭谊,郭明昌,
申请(专利权)人:旺宏电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
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