一种测斜方位数据的校正方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种测斜方位数据的校正方法，包括：获取设定采样时间内的传感器数据；对传感器数据进行滤波及校正处理，获得目标传感器数据；根据目标传感器数据，结合设定公式，确定校正后的测斜方位数据。本发明专利技术实施例提供的测斜方位数据的校正方法，在不改变仪器硬件电路和机械结构的情况下，利用校正算法对传感器采集到的磁通门传感器数据和加速度传感器数据进行校正，进而根据校正后的数据确定最终的测斜方位数据，提高了测斜方位数据的准确性，为实时钻井和地层测井评价等工作提供了可靠数据支撑。供了可靠数据支撑。供了可靠数据支撑。

【技术实现步骤摘要】
一种测斜方位数据的校正方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及测井
，尤其涉及一种测斜方位数据的校正方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在石油钻井过程中，需要根据设计的井眼轨迹控制钻头的钻进角度和方向，测斜数据的精确测量和准确定位是定向钻井能否成功的关键因素之一。实时钻井的随钻测斜方位数据高精度测量是大斜度井、水平井、小井眼以及侧钻多分支储层评价的重要技术手段，为实时精准调整钻头轨迹提供了可靠的依据，是定向钻井的关键技术。
[0003]现有的电缆测井、随钻测井、存储式测井等施工方案，测斜仪均是仪器组合中的一个必测的测井项目。在地层测井评价时，高端成像测井仪测量的成像数据需要获取准确的井斜角和井斜方位角数据，才能实现井壁二维及三维成像。同时，若测量井是斜井，地层倾角测井、电成像测井、电阻率测井等测井项目均需做井斜校正，此时，井斜角和井斜方位角(测斜方位资料)成为井斜校正的重要环境参数。
[0004]测斜资料的测量是由仪器组合中独立的短节所完成，测井短节中有一个数字式连续测斜仪，一般由3个重力加速度传感器(加表)和3个磁通门传感器(磁表)组成，两组传感器3个轴两两正交。利用3个正交加表测量重力在X、Y、Z轴的重力分量，计算井斜角；利用3个正交的磁表测量地磁场在X、Y、Z轴的磁场分量，并结合重力分量计算井斜方位角。然而，目前在实钻测斜及实时连续动态测斜中，由于仪器振动、井下环境噪声等多种因素的影响，会导致测斜仪测量的重力分量和磁场分量精度下降，使得井斜角和井斜方位角的计算存在较大误差，甚至超出允许的测量误差范围。因此，需要通过相关的测斜数据校正方法，消除振动及噪声等环境因素对测斜数据精度的影响，得到更为准确的测斜数据，为实时钻井和地层测井评价提供可靠的数据支撑。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例提供了一种测斜方位数据的校正方法、装置、设备及存储介质，实现了提高测斜方位数据的精度的效果。
[0006]第一方面，本专利技术实施例提供了一种测斜方位数据的校正方法，包括：
[0007]获取设定采样时间内的传感器数据，所述传感器数据包括磁通门传感器数据和加速度传感器数据，所述磁通门传感器数据包括磁表X分量数据、磁表Y分量数据和磁表Z分量数据，所述加速度传感器数据包括加表X分量数据、加表Y分量数据和加表Z分量数据；
[0008]对所述传感器数据进行滤波及校正处理，获得目标传感器数据；
[0009]根据所述目标传感器数据，结合设定公式，确定校正后的测斜方位数据。
[0010]进一步地，对所述传感器数据进行滤波及校正处理，获得目标传感器数据，包括：
[0011]对所述传感器数据进行低通滤波及限幅滤波处理，获得滤波传感器数据；
[0012]对所述滤波传感器数据进行校正处理，获得目标传感器数据。
[0013]进一步地，对所述传感器数据进行低通滤波及限幅滤波处理，获得滤波传感器数据，包括：
[0014]根据设定截止频率，对所述传感器数据进行低通滤波处理，获取频率小于等于所述设定截止频率的低频传感器数据；
[0015]对所述低频传感器数据中的磁表Z分量数据和加表Z分量数据进行限幅滤波处理，将限幅滤波处理后的低频传感器数据确定为所述滤波传感器数据。
[0016]进一步地，对所述滤波传感器数据进行校正处理，获得目标传感器数据，包括：
[0017]针对所述滤波传感器数据中的磁表X分量数据、磁表Y分量数据、加表X分量数据和加表Y分量数据，分别绘制原始磁表X
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Y分量散点图和原始加表X
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Y分量散点图；其中，所述原始磁表X
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Y分量散点图中的每一个点的横纵坐标值分别为同一次采样中的磁表X分量数据和磁表Y分量数据，所述原始加表X
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Y分量散点图中的每一个点的横纵坐标值分别为同一次采样中的加表X分量数据和加表Y分量数据；
[0018]对所述原始磁表X
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Y分量散点图和原始加表X
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Y分量散点图分别进行圆方程拟合，确定原始磁表圆和原始加表圆；
[0019]根据所述原始磁表圆和原始加表圆进行圆校正，令所述原始磁表X
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Y分量散点图中的各点分布在标准磁表圆上，所述原始加表X
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Y分量散点图中的各点分布在标准加表圆上；其中，所述标准磁表圆和标准加表圆的圆心为坐标原点，所述标准磁表圆和标准加表圆的半径分别为所述原始磁表圆和原始加表圆的半径；
[0020]根据所述标准磁表圆和标准加表圆进行夹角校正，令夹角校正后的标准磁表圆和标准加表圆之间的夹角为设定值；
[0021]将夹角校正后的标准磁表圆和标准加表圆对应的标准磁表X分量数据、标准磁表Y分量数据和标准磁表Z分量数据、标准加表X分量数据、标准加表Y分量数据和标准加表Z分量数据确定为所述目标传感器数据。
[0022]进一步地，根据所述原始磁表圆和原始加表圆进行圆校正，包括：
[0023]根据所述原始磁表圆和原始加表圆，分别对所述原始磁表X
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Y分量散点图和原始加表X
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Y分量散点图中的各点进行圆心校正，令圆心校正后的原始磁表X
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Y分量散点图和原始加表X
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Y分量散点图中的各点对应的圆心为原点；
[0024]分别对所述圆心校正后的原始磁表X
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Y分量散点图和原始加表X
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Y分量散点图中的各点进行半径校正，令半径校正后的原始磁表X
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Y分量散点图和原始加表X
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Y分量散点图中的各点与原点的距离分别为所述原始磁表圆和原始加表圆的半径。
[0025]进一步地，分别对所述原始磁表X
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Y分量散点图和原始加表X
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Y分量散点图中的各点进行圆心校正，包括：
[0026]根据所述原始磁表圆和原始加表圆，分别确定磁表圆心坐标及加表圆心坐标；
[0027]根据所述磁表圆心坐标与原点坐标及加表圆心坐标与原点坐标之间的偏差，分别确定磁表圆心偏移量和加表圆心偏移量；
[0028]根据所述磁表圆心偏移量和加表圆心偏移量，分别移动所述原始磁表X
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Y分量散点图和原始加表X
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Y分量散点图中的各点。
[0029]进一步地，分别对所述圆心校正后的原始磁表X
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Y分量散点图和原始加表X
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Y分量散点图中的各点进行半径校正，包括：
[0030]根据所述原始磁表圆和原始加表圆，分别确定磁表圆半径、加表圆半径及所述圆心校正后的原始磁表X
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Y分量散点图和原始加表X
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Y分量散点图中的各点对应的圆心角；
[0031]根据所述磁表圆半径、加表圆半径和对应的圆心角，结合设定圆坐标公式，确定半径校正后的原始磁表本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测斜方位数据的校正方法，其特征在于，包括：获取设定采样时间内的传感器数据，所述传感器数据包括磁通门传感器数据和加速度传感器数据，所述磁通门传感器数据包括磁表X分量数据、磁表Y分量数据和磁表Z分量数据，所述加速度传感器数据包括加表X分量数据、加表Y分量数据和加表Z分量数据；对所述传感器数据进行滤波及校正处理，获得目标传感器数据；根据所述目标传感器数据，结合设定公式，确定校正后的测斜方位数据。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述传感器数据进行滤波及校正处理，获得目标传感器数据，包括：对所述传感器数据进行低通滤波及限幅滤波处理，获得滤波传感器数据；对所述滤波传感器数据进行校正处理，获得目标传感器数据。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，对所述传感器数据进行低通滤波及限幅滤波处理，获得滤波传感器数据，包括：根据设定截止频率，对所述传感器数据进行低通滤波处理，获取频率小于等于所述设定截止频率的低频传感器数据；对所述低频传感器数据中的磁表Z分量数据和加表Z分量数据进行限幅滤波处理，将限幅滤波处理后的低频传感器数据确定为所述滤波传感器数据。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，对所述滤波传感器数据进行校正处理，获得目标传感器数据，包括：针对所述滤波传感器数据中的磁表X分量数据、磁表Y分量数据、加表X分量数据和加表Y分量数据，分别绘制原始磁表X
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Y分量散点图和原始加表X
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Y分量散点图；其中，所述原始磁表X
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Y分量散点图中的每一个点的横纵坐标值分别为同一次采样中的磁表X分量数据和磁表Y分量数据，所述原始加表X
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Y分量散点图中的每一个点的横纵坐标值分别为同一次采样中的加表X分量数据和加表Y分量数据；对所述原始磁表X
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Y分量散点图和原始加表X
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Y分量散点图分别进行圆方程拟合，确定原始磁表圆和原始加表圆；根据所述原始磁表圆和原始加表圆进行圆校正，令所述原始磁表X
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Y分量散点图中的各点分布在标准磁表圆上，所述原始加表X
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Y分量散点图中的各点分布在标准加表圆上；其中，所述标准磁表圆和标准加表圆的圆心为坐标原点，所述标准磁表圆和标准加表圆的半径分别为所述原始磁表圆和原始加表圆的半径；根据所述标准磁表圆和标准加表圆进行夹角校正，令夹角校正后的标准磁表圆和标准加表圆之间的夹角为设定值；将夹角校正后的标准磁表圆和标准加表圆对应的标准磁表X分量数据、标准磁表Y分量数据和标准磁表Z分量数据、标准加表X分量数据、标准加表Y分量数据和标准加表Z分量数据确定为所述目标传感器数据。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述原始磁表圆和原始加表圆进行圆校正，包括：根据所述原始磁表圆和原始加表圆，分别对所述原始磁表X
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Y分量散点图和原始加表X
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Y分量散点图中的各点进行圆心校正，令圆心校正后的原始磁表X
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Y分量散点图和原始加表X
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【专利技术属性】
技术研发人员：柳杰，李芳，陈晓波，王生焕，诸梦青，曾鑫，周升升，徐欢，林哲锐，
申请(专利权)人：杭州丰禾测控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：