一种微波网络分析仪强度参数分析方法及微波网络分析仪技术

本发明专利技术涉及网络分析仪技术领域，具体为一种微波网络分析仪强度参数分析方法及微波网络分析仪，其方法包括如下步骤：准备微波网络分析仪，清洁并检查所有的连接线缆和连接器，将线缆和适配器连接到分析仪上；本发明专利技术提出的方法通过设置不同温度的对照组，以测量分析同一电子元器件在不同温度下的强度参数，而且本发明专利技术提出的微波网络分析仪能够在运输途中对显示屏和按键进行封闭保护，防止它们在受到碰撞时出现损坏，同时该分析仪的散热效果更好，解决了现有的一些微波网络分析仪在运输途中，显示屏和按键直接暴露在外侧，一旦受到碰撞，容易受损甚至损坏，而且分析仪仅采用风扇进行散热，散热效果欠佳的问题。散热效果欠佳的问题。散热效果欠佳的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种微波网络分析仪强度参数分析方法及微波网络分析仪


[0001]本专利技术涉及网络分析仪
，具体为一种微波网络分析仪强度参数分析方法及微波网络分析仪。

技术介绍

[0002]微波网络分析仪是测量微波网络参数的一种仪器，可直接测量有源或无源、可逆或不可逆的双口和单口微波网络的复数散射参数，并以扫频方式给出各散射参数的幅度、相位频率特性。网络分析仪是一种功能强大的测试测量的仪器仪表，只要按照流量正确使用和操作，可以达到极高的精度，它通过使用自身的信号源来进行比对和测量其他电子设备、电子元器件、电子零件、网络接头、电缆线等电气特性和性能参数是否符合标准和要求，能精确地测量入射波、反射波、传输波中的幅度和相位信息，通过比值测量法定量描述被测器件的反射和传输特性。它的应用十分广泛，在很多行业都不可或缺，尤其在测量无线射频(RF)元件和设备的线性特性方面非常有用。
[0003]目前在使用微波网络分析仪对电子元器件进行强度参数测量分析时，大都是对常温状态下的电子元器件进行测量分析，无法对不同温度状态下电子元器件进行测量分析，造成分析结果存有局限性，而且微波网络分析仪在运输途中，其显示屏和按键直接暴露在外侧，一旦受到碰撞，容易受损甚至损坏，而且微波网络分析仪仅采用风扇进行散热，散热效果欠佳。
[0004]因此亟需设计一种微波网络分析仪强度参数分析方法及微波网络分析仪法来解决上述问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种微波网络分析仪强度参数分析方法及微波网络分析仪，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种微波网络分析仪强度参数分析方法，其方法包括如下步骤：
[0007](S1)：准备微波网络分析仪，清洁并检查所有的连接线缆和连接器，将线缆和适配器连接到分析仪上，选择校准工具包或定义输入校准标准，设置IF带宽并平均以最小化校准期间的噪声，手动校正或使用自动校准，保存仪器状态和校准；
[0008](S2)：选择多个同一种类的电子元器件，将电子元器件分为A、B、C、D和E五组，首先将A组的电子元器件放置在低温箱中静置0.5
‑
1h，低温箱的温度设定为0
‑
5℃，取出A组的电子元器件进行参数测量，并使用微波网络分析仪对A组的电子元器件进行测量，得出参数，同时将首先将B组的电子元器件放置在另一个低温箱中静置0.5
‑
1h，低温箱的温度设定为10
‑
15℃，取出B组的电子元器件进行参数测量，并使用微波网络分析仪对B组的电子元器件进行测量，得出参数；
[0009](S3)：将C组的电子元器件放置在室内，并使用微波网络分析仪对C组的电子元器
件进行测量，得出参数，同时将D组和E组的电子元器件放入不同高温箱中，D组对应高温箱的温度设定在40
‑
55℃，E组对应高温箱的温度设定在60
‑
70℃，在0.5
‑
1h后，取出D组和E组的电子元器，并使用微波网络分析仪对D组和E组的电子元器件进行测量，得出参数；
[0010](S4)：在得出A、B、C、D和E五组的参数后，生成折线图，同时得出该电子元器件在不同温度下的强度参数。
[0011]优选的，所述步骤(S1)中，在校准时微波网络分析仪的设置频率与滤波器的中心频率相同，且微波网络分析仪的宽带设置为100M。
[0012]优选的，所述步骤(S2)中，在测试过程中网络分析仪的最大允许输入信号为20dBm，且当输入信号大于10dBm时，应加相应的衰减器。
[0013]优选的，所述步骤(S2)中，在对电子元器件进行分组时，确保多个电子元器件的电阻、规格、尺寸大小和材质要完全一致。
[0014]优选的，所述步骤(S3)中，在将C组的电子元器件静置在室内时，确保室内的温度在20
‑
30℃，且C组电子元器件的静置时间为10
‑
20min。
[0015]一种微波网络分析仪，包括分析仪本体、显示屏本体、按键本体、顶壳、电路板本体、封闭盖和固定机构，所述分析仪本体顶部的两侧均栓接有连接件，所述封闭盖与连接件转动连接，所述封闭盖的表面设置有防撞层，所述封闭盖左右两侧的表面均开设有固定槽，所述分析仪本体正面的两侧均安装有与固定机构配合使用的插槽，所述顶壳的内部安装有盒体，所述盒体的两侧分别连通有进水管和出水管，所述顶壳的左右两侧分别贯穿设置有第一接口和第二接口，所述进水管与第一接口相互连通，所述出水管与第二接口相互连通，所述进水管的表面安装有第一水泵，所述出水管的表面安装有第二水泵，所述电路板本体的顶部设置有导热层，所述分析仪本体贯穿设置有若干个导热柱，所述导热柱的顶端贯穿至盒体的内部，所述导热柱的底端与导热层相接触。
[0016]优选的，所述固定机构包括固定销、连接板和拉环，所述固定销与插槽的内壁滑动连接，所述连接板与固定销的一端栓接，所述拉环设置在连接板远离固定销的一侧。
[0017]优选的，所述进水管的表面安装有第二单向阀，所述出水管的表面安装有第一单向阀。
[0018]优选的，所述盒体内腔的底部安装有若干个温度传感器，所述温度传感器的型号为WZP
‑
130。
[0019]优选的，所述导热层的材质为导热硅脂，所述导热柱的材质为铜铝合金，所述防撞层为减震橡胶材料制成。
[0020]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0021]1、本专利技术提出的方法通过设置不同温度的对照组，以测量分析同一电子元器件在不同温度下的强度参数，解决了目前在使用微波网络分析仪对电子元器件进行强度参数测量分析时，大都是对常温状态下的电子元器件进行测量分析，无法对不同温度状态下电子元器件进行测量分析，造成分析结果存有局限性的问题，而且本专利技术提出的微波网络分析仪能够在运输途中对显示屏和按键进行封闭保护，防止它们在受到碰撞时出现损坏，同时该分析仪的散热效果更好，解决了现有的一些微波网络分析仪在运输途中，显示屏和按键直接暴露在外侧，一旦受到碰撞，容易受损甚至损坏，而且分析仪仅采用风扇进行散热，散热效果欠佳的问题。
[0022]2、本专利技术通过固定销、连接板和拉环的设置，当封闭盖向下旋转并位于分析仪本体的前方时，将固定销穿过插槽并进入固定槽的内部，便可将封闭盖固定，同时连接板和拉环方便他人拉动固定销进行移动，通过第一单向阀和第二单向阀的设置，它们起到止回的作用，通过温度传感器的设置，当盒体内部的水吸热时，水温会上升，当温度传感器监测到水温过高时，第二水泵开启，将盒体内部的水排出，同时第一水泵开启，重新补充温度较低的水，导热硅脂具有良好的导热性能和绝缘性，其在导热的同时起到绝缘的作用，而铜铝合金则具有良好的导热性，并能够有效将电路板的温度导入至盒体的内部，而减震橡胶则具有良好的防撞效果。
附图说明
[0023]图1为本专利技术的结构立体示意图；
[0024]图2本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微波网络分析仪强度参数分析方法，其特征在于，其方法包括如下步骤：(S1)：准备微波网络分析仪，清洁并检查所有的连接线缆和连接器，将线缆和适配器连接到分析仪上，选择校准工具包或定义输入校准标准，设置IF带宽并平均以最小化校准期间的噪声，手动校正或使用自动校准，保存仪器状态和校准；(S2)：选择多个同一种类的电子元器件，将电子元器件分为A、B、C、D和E五组，首先将A组的电子元器件放置在低温箱中静置0.5
‑
1h，低温箱的温度设定为0
‑
5℃，取出A组的电子元器件进行参数测量，并使用微波网络分析仪对A组的电子元器件进行测量，得出参数，同时将首先将B组的电子元器件放置在另一个低温箱中静置0.5
‑
1h，低温箱的温度设定为10
‑
15℃，取出B组的电子元器件进行参数测量，并使用微波网络分析仪对B组的电子元器件进行测量，得出参数；(S3)：将C组的电子元器件放置在室内，并使用微波网络分析仪对C组的电子元器件进行测量，得出参数，同时将D组和E组的电子元器件放入不同高温箱中，D组对应高温箱的温度设定在40
‑
55℃，E组对应高温箱的温度设定在60
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70℃，在0.5
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1h后，取出D组和E组的电子元器，并使用微波网络分析仪对D组和E组的电子元器件进行测量，得出参数；(S4)：在得出A、B、C、D和E五组的参数后，生成折线图，同时得出该电子元器件在不同温度下的强度参数。2.根据权利要求1所述的一种微波网络分析仪强度参数分析方法，其特征在于：所述步骤(S1)中，在校准时微波网络分析仪的设置频率与滤波器的中心频率相同，且微波网络分析仪的宽带设置为100M。3.根据权利要求1所述的一种微波网络分析仪强度参数分析方法，其特征在于：所述步骤(S2)中，在测试过程中网络分析仪的最大允许输入信号为20dBm，且当输入信号大于10dBm时，应加相应的衰减器。4.根据权利要求1所述的一种微波网络分析仪强度参数分析方法，其特征在于：所述步骤(S2)中，在对电子元器件进行分组时，确保多个电子元器件的电阻、规格、尺寸大小和材质要完全一致。5.根据权利要求1所述的一种微波网络分析仪强度参数分析方法，其特征在于：所述步骤...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐元，
申请(专利权)人：深圳市圣格特电子有限公司，
类型：发明
国别省市：