本发明专利技术提供一种Socket连接器引脚连通性的测试装置，包括：测试板和假CPU芯片，其中测试板上设置有电源电路、显示电路、焊盘阵列和回路选择电路，电源电路用于提供测试电源；显示电路连接于测试电源的正极与焊盘阵列之间，用于将测试电源引入焊盘阵列并显示测试结果；焊盘阵列的焊盘与待测试的Socket连接器引脚数量相同且排布方式相同，用于插接待测试的Socket连接器的全部引脚；回路选择电路用于对经过焊盘阵列的电流回路进行切换选择，以使测试覆盖到插接于焊盘阵列的Socket连接器的全部引脚；假CPU芯片用于模拟实际CPU芯片的引脚结构，插接于所述待测试的Socket连接器，以形成电流回路。成电流回路。成电流回路。
【技术实现步骤摘要】
Socket连接器引脚连通性的测试装置、系统及测试方法
[0001]本专利技术涉及电气测试
，尤其涉及一种Socket连接器引脚连通性的测试装置、系统及测试方法。
技术介绍
[0002]主板在实际使用时，CPU要安装到主板上，需要在主板上使用Socket连接器来安装CPU芯片。Socket连接器，即用来安装CPU芯片的底座。为避免信号传输出现错误，首先需要测试Socket连接器的电气连通性。通常验证Socket连接器的电气连通性，要使用相应的Socket连接器验证工具。这种验证工具一般都是各芯片安装座开发厂商的定制工具，其价格昂贵，开发定制复杂。因此，为满足平时的测试需求，需要开发一款简单可行的测试验证工具。
技术实现思路
[0003]为解决上述问题，本专利技术提供一种Socket连接器引脚连通性的测试装置，能够快速测试Socket连接器的电气连通性，满足芯片研发厂商、系统厂商对于Socket连接器的测试检测需求。
[0004]第一方面，本专利技术提供一种Socket连接器引脚连通性的测试装置，包括：测试板和假CPU芯片，
[0005]所述测试板上设置有电源电路、显示电路、焊盘阵列和回路选择电路，所述电源电路用于提供测试电源；
[0006]所述显示电路连接于所述测试电源的正极与所述焊盘阵列之间，用于将所述测试电源引入所述焊盘阵列并显示测试结果；
[0007]所述焊盘阵列的焊盘与待测试的Socket连接器引脚数量相同且排布方式相同，用于插接所述待测试的Socket连接器的全部引脚；
[0008]所述回路选择电路用于对经过所述焊盘阵列的电流回路进行切换选择，以使测试覆盖到插接于所述焊盘阵列的Socket连接器的全部引脚；
[0009]所述假CPU芯片，用于模拟实际CPU芯片的引脚结构，插接于所述待测试的Socket连接器，以形成电流回路。
[0010]可选地，所述电源电路包括：
[0011]电源连接器，用于连接外部供电电源；
[0012]至少一个电池，用于提供内部供电电源；
[0013]电源开关，与所述电源连接器和所述电池的正极连接，用于控制电源的输出。
[0014]可选地，所述显示电路包括：与所述焊盘阵列的焊盘数量相等的LED二极管，每个LED二极管对应连接一个焊盘，且每个LED二极管串联一个限流电阻。
[0015]可选地，所述LED二极管按照待测试的Socket连接器的引脚排布方式排布在所述测试板上。
[0016]可选地，所述测试板上位于每个LED二极管下方位置分别设置一个测试点，以便手动测试。
[0017]可选地，所述焊盘阵列分为多个区域，每个区域独立供电。
[0018]可选地，所述回路选择电路包括两组跳线插针，与所述焊盘阵列中的两组信号电源回路焊盘一一对应，所述信号电源回路焊盘通过所述跳线插针与测试电源负极连接。
[0019]可选地，所述假CPU芯片包括PCB板，所述PCB板采用双层板，所述PCB板底面的焊盘排布与待测试的Socket连接器对应的实际CPU相同，所述PCB板顶面将所有的焊盘连接在一起。
[0020]可选地，所述假CPU芯片还包括封装金属盖，所述封装金属盖与实际CPU的封装金属盖相同。
[0021]第二方面，本专利技术提供一种Socket连接器引脚连通性的测试系统，包括：上述Socket连接器引脚连通性的测试装置，还包括控制板和上位机，所述控制板将所述测试装置检测到的未连通信号焊盘位置上传到所述上位机。
[0022]第三方面，本专利技术提供一种Socket连接器引脚连通性的测试方法，基于上述Socket连接器引脚连通性的测试装置实现，包括：
[0023]接通电源，将所述回路选择电路与所述焊盘阵列的两组信号电源回路焊盘形成的电流回路全部连通，测试是否有未连通的Socket连接器引脚；
[0024]断开所述回路选择电路与所述焊盘阵列的其中一组信号电源回路焊盘形成的电流回路，只连通所述回路选择电路与所述焊盘阵列的另外一组信号电源回路焊盘形成的电流回路，测试断开的一组信号电源回路焊盘所连接的Socket连接器引脚是否存在未连通引脚；
[0025]将所述回路选择电路的连通方式进行调换，再次测试断开的一组信号电源回路焊盘所连接的Socket连接器引脚是否存在未连通引脚。
[0026]本专利技术提供的Socket连接器引脚连通性的测试装置，能够满足芯片研发厂商、系统厂商对于Socket连接器的测试检测需求。该测试装置将Socket连接器的引脚全部引到测试板led上，且预留测试点，便于测试。测试板led阵列按照Socket连接器的引脚排布方式排布在测试板上，且分区域划分，方便快速定位故障位置。
附图说明
[0027]图1为本专利技术一实施例的Socket连接器引脚连通性的测试装置所包括的测试板的结构示意图；
[0028]图2为本专利技术一实施例的Socket连接器引脚连通性的测试装置所包括的假CPU芯片的结构示意图；
[0029]图3为本专利技术一实施例的Socket连接器引脚连通性的测试装置整体示意图；
[0030]图4为本专利技术一实施例的Socket连接器引脚连通性的测试系统示意图。
具体实施方式
[0031]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅
仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0032]下面结合附图，对本专利技术的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0033]本专利技术一实施例提供一种Socket连接器引脚连通性的测试装置，该测试装置包括两部分，测试板和一颗假CPU芯片，测试板为测试载体，用来安装待测试的Socket连接器，上面有LED二极管指示连通情况。假CPU芯片与实际CPU芯片结构相同，模拟实际CPU安装到Socket连接器上的压力承载情况，假CPU芯片安装到Socket连接器上，使Socket连接器连通测试板与假CPU芯片。
[0034]具体地，测试板上设置有电源电路、显示电路、焊盘阵列和回路选择电路，其中电源电路用于提供连通性测试所需的测试电源。显示电路连接于测试电源的正极与焊盘阵列之间，显示电路用于将测试电源引入焊盘阵列并显示测试结果。焊盘阵列的焊盘数量与待测试的Socket连接器引脚数量相同，且焊盘排布方式与Socket连接器引脚排布方式相同，焊盘阵列用于插接待测试的Socket连接器的全部引脚。回路选择电路用于对经过焊盘阵列的的电流回路进行切换选择，以使测试覆盖到插接于焊盘阵列的Socket连接器的全部引脚。另外，假CPU芯片，用于模拟实际CPU芯片的引脚结构，插接于待测试的Socket连接本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种Socket连接器引脚连通性的测试装置，其特征在于，包括：测试板和假CPU芯片，其中，所述测试板上设置有电源电路、显示电路、焊盘阵列和回路选择电路，所述电源电路用于提供测试电源；所述显示电路连接于所述测试电源的正极与所述焊盘阵列之间，用于将所述测试电源引入所述焊盘阵列并显示测试结果；所述焊盘阵列的焊盘与待测试的Socket连接器引脚数量相同且排布方式相同，用于插接所述待测试的Socket连接器的全部引脚；所述回路选择电路用于对经过所述焊盘阵列的电流回路进行切换选择，以使测试覆盖到插接于所述焊盘阵列的Socket连接器的全部引脚；所述假CPU芯片，用于模拟实际CPU芯片的引脚结构，插接于所述待测试的Socket连接器，以形成电流回路。2.根据权利要求1所述的Socket连接器引脚连通性的测试装置，其特征在于，所述电源电路包括：电源连接器，用于连接外部供电电源；至少一个电池，用于提供内部供电电源；电源开关，与所述电源连接器和所述电池的正极连接，用于控制电源的输出。3.根据权利要求1所述的Socket连接器引脚连通性的测试装置，其特征在于，所述显示电路包括：与所述焊盘阵列的焊盘数量相等的LED二极管，每个LED二极管对应连接一个焊盘，且每个LED二极管串联一个限流电阻。4.根据权利要求3所述的Socket连接器引脚连通性的测试装置，其特征在于，所述LED二极管按照待测试的Socket连接器的引脚排布方式排布在所述测试板上。5.根据权利要求4所述的Socket连接器引脚连通性的测试装置，其特征在于，所述测试板上位于每个LED二极管下方位置分别设置一个测试点，以便手动测试。6.根据权利要求1所述的Socket连接器引脚连通性的测试装置，其特征在于，所述焊盘阵列分为多个区域，每个区域独立供电。...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙瑛琪，杨晓君，袁飞，孟凡晓，冯军，
申请(专利权)人：海光信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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