一种毫米波雷达电磁兼容测试方法技术

技术编号:32342010 阅读:13 留言:0更新日期:2022-02-16 18:53
本申请涉及电磁兼容测试技术领域,尤其涉及一种毫米波雷达电磁兼容测试方法。方法包括:将待测毫米波雷达设置在半电波暗室内;半电波暗室用于对待测毫米波雷达进行电磁兼容测试;在待测毫米波雷达的探测区域中确定目标物设置区域;将探测目标物设置在目标物设置区域内;探测目标物用于反射待测毫米波雷达所发射的探测波束,探测目标物为无源反射装置;在半电波暗室内施加干扰电磁场;控制待测毫米波雷达在干扰电磁场中对探测目标物进行探测得到测试探测数据。该方法中通过选择无源的探测目标物以供待测毫米波雷达进行探测,在测试过程中不会产生额外的电磁干扰源,从而能够得到准确的抗电磁干扰探测结果。准确的抗电磁干扰探测结果。准确的抗电磁干扰探测结果。

【技术实现步骤摘要】
一种毫米波雷达电磁兼容测试方法


[0001]本申请涉及电磁兼容测试
,尤其涉及一种毫米波雷达电磁兼容测试方法。

技术介绍

[0002]随着汽车自动驾驶领域的发展,其配套的自动驾驶传感器发展也进入了快车道。目前应用最为广泛的自动驾驶传感器是车载毫米波雷达。目前市场主流使用的车载毫米波雷达按照其频率的不同,主要可分为两种:24GHz毫米波雷达和77GHz毫米波雷达。通常24GHz雷达检测范围为中短距离,用作实现盲点探测系统(Blind Spot Dectection,BSD),而77GHz长程雷达用作实现自适应巡航系统(Adaptive Cruise Control,ACC)。由于毫米波雷达广泛应用于自动驾驶领域,给毫米波雷达控制器的安全性提出了前所未有的挑战和要求,要求在较强的电磁场环境中做到电磁自兼容和优异的抗扰表现。
[0003]为了准确评价毫米波雷达的电磁自兼容和电磁抗扰能力,需要对毫米波雷达进行电磁兼容测试。对于一般的毫米波雷达性能测试来说,可以采用雷达模拟器来模拟不同的探测回波,从而使得毫米波雷达在接收到探测回波后对探测回波进行处理,然后根据处理结果来评价毫米波雷达性能。然而,对于毫米波雷达的电磁兼容试验来说,毫米波雷达需要在半电波暗室中进行电磁自兼容和电磁抗扰测试。在测试过程中,半电波暗室内不能出现有源电磁设备,否则将不能获得准确的测试结果。而且在电磁兼容测试过程中,在高场强的环境下,雷达模拟器容易被电磁波干扰损坏。通常的电磁兼容试验评价中排除了对毫米波雷达探测功能的抗扰能力评价。现有技术很难做到在电磁兼容实验室中完美的模拟毫米波雷达的探测应用场景,从而无法实现对毫米波雷达的电磁抗扰能力进行客观评价。

技术实现思路

[0004]本专利技术要解决的技术问题是现有的毫米波雷达测试方法无法对毫米波雷达的抗干扰能力进行准确测试的问题。
[0005]为解决上述技术问题,本申请实施例公开了一种毫米波雷达电磁兼容测试方法,所述方法包括:
[0006]将待测毫米波雷达设置在半电波暗室内;所述半电波暗室用于对所述待测毫米波雷达进行电磁兼容测试;
[0007]在所述待测毫米波雷达的探测区域中确定目标物设置区域;
[0008]将探测目标物设置在所述目标物设置区域内;所述探测目标物用于反射所述待测毫米波雷达所发射的探测波束,所述探测目标物为无源反射装置;
[0009]在所述半电波暗室内施加干扰电磁场;
[0010]控制所述待测毫米波雷达在所述干扰电磁场中对所述探测目标物进行探测得到测试探测数据。
[0011]进一步的,所述探测目标物为八面角反。
[0012]进一步的,所述在所述待测毫米波雷达的探测区域中确定目标物设置区域,包括:
[0013]根据所述待测毫米波雷达建立空间直角坐标系;
[0014]确定所述待测毫米波雷达分别沿XY、XZ、YZ平面所发射的探测波束在所述空间直角坐标系中的交集区域;
[0015]确定所述交集为所述目标物设置区域。
[0016]进一步的,所述将探测目标物设置在所述目标物设置区域内,包括:
[0017]在所述目标物设置区域内确定与所述待测毫米波雷达具有预设距离的截面;
[0018]将所述探测目标物设置在所述截面内。
[0019]进一步的,所述将所述探测目标物设置在所述截面内之后,还包括:
[0020]根据所述待测毫米波雷达探测参数和所述预设距离确定所述截面的边界坐标;
[0021]根据所述边界坐标确定目标监控区域。
[0022]进一步的,所述在所述半电波暗室内施加预设场强的干扰电磁场之前,还包括:
[0023]控制所述待测毫米波雷达对所述探测目标物进行探测得到标准探测数据。
[0024]进一步的,所述控制所述待测毫米波雷达在所述干扰电磁场中对所述探测目标物进行探测得到测试探测数据之后,包括:
[0025]获取所述标准探测数据和所述测试探测数据;
[0026]根据所述探测数据确定所述待测毫米波雷达的抗干扰测试结果。
[0027]进一步的,所述根据所述探测数据确定所述待测毫米波雷达的抗干扰测试结果之前,还包括:
[0028]根据所述目标监控区域在所述标准探测数据中确定第一探测数据;
[0029]根据所述目标监控区域在所述测试探测数据中确定第二探测数据。
[0030]进一步的,所述根据所述探测数据确定所述待测毫米波雷达的抗干扰测试结果,包括:
[0031]根据所述第一探测数据和所述第二探测数据确定所述待测毫米波雷达的抗干扰测试结果。
[0032]进一步的,所述根据所述第一探测数据和所述第二探测数据确定所述待测毫米波雷达的抗干扰测试结果,包括:
[0033]若所述第一探测数据与所述第二探测数据的波动值小于阈值,则所述毫米波雷达的抗电磁干扰测试通过。
[0034]本申请实施例提供的毫米波雷达电磁兼容测试方法,具有如下技术效果:
[0035]该方法中通过选择无源的探测目标物以供待测毫米波雷达进行探测,在测试过程中不会产生额外的电磁干扰源,从而能够得到准确的抗电磁干扰探测结果。此外,通过将探测目标物设置在特定的目标物设置区域内,在评价待测毫米波雷达的抗电磁干扰能力时,可仅关注目标物设置区域内的探测数据,一方面可以减少数据处理量,另一方面可以更加精确的判断待测毫米波雷达在电磁干扰下的探测能力。
附图说明
[0036]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案和优点,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅
仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它附图。
[0037]图1为本申请实施例提供的一种毫米波雷达电磁兼容测试方法的流程示意图;
[0038]图2为本申请实施例提供的一种对待测毫米波雷达进行电磁兼容测试的半电波暗室结构示意图;
[0039]图3为本申请实施例提供的一种确定目标物设置区域的方法流程示意图;
[0040]图4为本申请实施例提供的一种目标物设置区域的结构示意图;
[0041]图5为本申请实施例提供的一种探测目标物所在位置与待测毫米波雷达所在位置的坐标系映射示意图。
[0042]以下对附图作补充说明:
[0043]101

吸波尖劈;102

支撑装置;103

电磁场加载装置;104

待测毫米波雷达;105

探测目标物;106

测试控制设备。
具体实施方式
[0044]下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种毫米波雷达电磁兼容测试方法,其特征在于,所述方法包括:将待测毫米波雷达设置在半电波暗室内;所述半电波暗室用于对所述待测毫米波雷达进行电磁兼容测试;在所述待测毫米波雷达的探测区域中确定目标物设置区域;将探测目标物设置在所述目标物设置区域内;所述探测目标物用于反射所述待测毫米波雷达所发射的探测波束,所述探测目标物为无源反射装置;在所述半电波暗室内施加干扰电磁场;控制所述待测毫米波雷达在所述干扰电磁场中对所述探测目标物进行探测得到测试探测数据。2.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述探测目标物为八面角反。3.根据权利要求1或2所述的测试方法,其特征在于,所述在所述待测毫米波雷达的探测区域中确定目标物设置区域,包括:根据所述待测毫米波雷达建立空间直角坐标系;确定所述待测毫米波雷达分别沿XY、XZ、YZ平面所发射的探测波束在所述空间直角坐标系中的交集区域;确定所述交集为所述目标物设置区域。4.根据权利要求3所述的测试方法,其特征在于,所述将探测目标物设置在所述目标物设置区域内,包括:在所述目标物设置区域内确定与所述待测毫米波雷达具有预设距离的截面;将所述探测目标物设置在所述截面内。5.根据权利要求4所述的测试方法,其特征在于,所述将所述探测目标物设置在所述截面内之后,还包括:根据所述待测毫米波雷达探测参数和所述预设距离确定...

【专利技术属性】
技术研发人员:周欣
申请(专利权)人:中汽创智科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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