一种对电子辐射系统辐射指向测试的系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种对电子辐射系统辐射指向测试的系统及方法，其中系统包括测试计算机、控制计算机、信号发生器、发射天线、接收天线、功率衰减器、矢量网络分析仪和转台，测试计算机用于向电子辐射系统下发辐射方位与波束切换命令；信号发生器用于产生电子辐射系统所需的微波输入信号；发射天线用于辐射电子辐射系统的微波信号；接收天线用于接收微波信号；功率衰减器用于将微波信号进行衰减；矢量网络分析仪用于将微波信号进行显示和测试；转台用于完成水平旋转；控制计算机用于完成对信号发生器、矢量网络分析仪和转台的控制和同步输出，同时接收矢量网络分析仪的测试结果。本发明专利技术可极大提高电子辐射系统辐射指向测试效率。明可极大提高电子辐射系统辐射指向测试效率。明可极大提高电子辐射系统辐射指向测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种对电子辐射系统辐射指向测试的系统及方法


[0001]本专利技术涉及电子
，尤其涉及一种对电子辐射系统辐射指向测试的系统及方法。

技术介绍

[0002]通常情况下，调试人员对电子辐射系统进行辐射指向测试都是通过在外场实际使用场景(地面)完成，传统的电子辐射系统辐射范围覆盖一个象限(较宽)，在进行辐射指向测试时，需要调试人员携带大量的测试仪器在天气较好情况下通过估算检测方位点进行测试，当测试系统接收到辐射系统发出的一定功率值时，即认为辐射指向正常，在内场环境仅测试发射机输出功率，与辐射相关的电缆和发射天线基于设计保证，不进行辐射指向测试。
[0003]随着电子技术的发展，辐射信号的指向宽度越来越窄(能量集中)、辐射指向精度越来越高，传统的辐射指向测试方法在实际应用中经常出现测试指标不满足要求的情况，此时需要协调大量的人力、物力进行排查，且辐射指向测试时发射功率较大，对人体有害，且需要较远距离开阔无遮挡的环境，不利于大规模生产，影响生产的效率。

技术实现思路

[0004]为了解决上述问题，本专利技术提出一种对电子辐射本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种对电子辐射系统辐射指向测试的系统，其特征在于，包括：测试计算机，用于向所述电子辐射系统下发辐射方位与波束切换命令；信号发生器，用于产生所述电子辐射系统所需的微波输入信号；发射天线，用于辐射所述电子辐射系统的微波信号；接收天线，用于接收所述电子辐射系统的微波信号；功率衰减器，用于将所述接收天线接收到的微波信号进行衰减；矢量网络分析仪，用于将所述功率衰减器接收到的微波信号进行显示和测试，接收所述信号发生器的同步输出信号；转台，其上方设置有平台用于固定所述电子辐射系统，根据驱动信号完成所述平台的水平旋转；控制计算机，用于完成对所述信号发生器、所述矢量网络分析仪和所述转台的控制和同步输出，同时接收所述矢量网络分析仪的测试结果。2.根据权利要求1所述的一种对电子辐射系统辐射指向测试的系统，其特征在于，所述发射天线安装在所述转台的天线支架上。3.根据权利要求1所述的一种对电子辐射系统辐射指向测试的系统，其特征在于，所述接收天线安装在所述发射天线的法向位置。4.根据权利要求1所述的一种对电子辐射系统辐射指向测试的系统，其特征在于，所述转台的旋转角度范围为360
°
。5.根据权利要求1
‑
4任一项所述的一种对电子辐射系统辐射指向测试的系统，其特征在于，所述控制计算机通过总线通讯完成对所述信号发生器、所述矢量网络分析仪和所述转台的控制和同步输出，同时通过数据线接收所述矢量网络分析仪的测试结果。6.一种对电子辐射系统辐射指向测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1.控制计算机通过控制信号初始化信号发生器和矢量网络分析仪；S2.通过测试计算机向所述电子辐射系统下发辐射方位N1与波束切换命令；S3....

【专利技术属性】
技术研发人员：龚小立，李钊，任锋，何燕平，黄莉清，罗天男，凌丽娜，任智德，薛磊，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第二十九研究所，
类型：发明
国别省市：