【技术实现步骤摘要】
显示面板的检测方法、装置、设备及存储介质
[0001]本申请涉及显示
,具体而言,本申请涉及一种显示面板的检测方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
[0002]氧化物材料由于其高电子迁移率大、低漏电流等特性,适合制作高端TFT(Thin Film Transistor,薄膜晶体管)
‑
LCD(Liquid Crystal Display,液晶显示)产品,对于小尺寸窄边框产品中具有优势。
[0003]但由于氧化物材料的工艺要求严格且固有的TFT特性,在开发小尺寸产品,特别是开发小尺寸产品的过程中,检测时容易发生在检测画面下的可见类似群辉点的不良现象,从而影响产品的画面品质及降低产品的良率。
[0004]在这检查画面的电信号波形下,虽会检出群辉点不良,但是这些屏在其他正常画面下显示都是正常的,且经过RA(Reliability,可靠性)测试结果也是正常的。故,现有针对采用氧化物材料的LCD产品的检测方法容易造成检测结果的过判,导致产品良率的牺牲。
技术实现思路
[0005 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示面板的检测方法,其特征在于,依次包括画面驱动模式和关断驱动模式;所述关断驱动模式包括:停止向显示面板中的像素电路发送画面使能信号和数据信号;向所述显示面板中的像素驱动电路发送第一控制信号和第一驱动信号;所述第一控制信号用于控制所述像素驱动电路将所述第一驱动信号输送到所述像素电路,以控制所述像素电路处于导通状态;所述第一控制信号的下降沿晚于所述第一驱动信号的下降沿。2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述第一控制信号的下降沿的坡度小于所述第一驱动信号的下降沿的坡度。3.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述关断驱动模式还包括:在所述第一控制信号的下降沿间隔设定时段后,向所述显示面板中的像素驱动电路发送第二控制信号,以控制所述像素驱动电路处于导通状态。4.根据权利要求3所述的检测方法,其特征在于,所述第一驱动信号的维持时间不小于第一设定时长,所述第一设定时长不小于10微秒且不大于500微秒;和/或,所述第一控制信号的维持时间比所述第一驱动信号的维持时间多第二设定时长,所述第二设定时长不小于500微秒;和/或,所述第二控制信号的维持时间大于第三设定时长,所述第三设定时长不小于4个脉冲宽度。5.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述第一驱动信号包括:时钟控制信号、下拉维持关闭的信号和下拉维持单元的使能信号中的至少一种。6.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述关断驱动模式还包括:向与所述显示面板电连接的放电器发送接地控制信号,以控制所述放电器导通且接地。7.根据权利要求1
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6中任一项所述的检测方法,其特征在于,所述画面驱动模式依次包括:第一驱动模式和第二驱动模式;所述第一驱动模式包括:向显示面板中的像素电路发送第一画面使能信号和第一数据信号;向所述显示面板中的像素驱动电路发送第三控制...
【专利技术属性】
技术研发人员:叶纯,杨钰婷,汪中尚,杨茜,李光辉,雷金波,
申请(专利权)人:南京京东方显示技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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