一种多晶硅片的检测机制造技术

本发明专利技术涉及多晶硅片检测技术领域，公开了一种多晶硅片的检测机，包括底座、竖板、横板、下转盘和上转盘；所述竖板竖向固定在底座的上方，且竖板固定在底座的左侧上方，竖板的左侧下方表面安装有工控电脑，所述横板横向固定在竖板的右侧，且横板横向固定在竖板右侧的中间位置，所述横板的右侧表面开设有贯穿口，贯穿口贯通横板的上方和下方，且贯穿口上方的横板表面开设有支槽。本发明专利技术通过在横板的下方设置可以转动的下转盘，可以改变不同灯珠位于贯穿口下方，能够实现在不同光照效果下对多晶硅片的透光检测，横板上方设置可转动的下转盘，改变不同放大镜位于贯穿口上方，实现在不同放大效果情况下对多晶硅片纹路的检测，检测的效果更好。更好。更好。

【技术实现步骤摘要】
一种多晶硅片的检测机


[0001]本专利技术涉及多晶硅片检测
，具体为一种多晶硅片的检测机。

技术介绍

[0002]目前，多晶硅片，是单质硅的一种形态，熔融的单质硅在过冷条件下凝固时，硅原子以金刚石晶格形态排列成许多晶核，如这些晶核长成晶面取向不同的晶粒，则这些晶粒结合起来，就结晶成多晶硅，多晶硅片分为电子级和太阳能级，被应用在太阳能电池板的制造和半导体芯片的制作。
[0003]在多晶硅片制作完成后，需要对其进行抽样检查，检查时主要观察多晶硅片表面的质量，可以通过放大镜等观察多晶硅片的纹路或者透光效果，进而判断其质量，现有技术依然人工检测时，不方便检测不同光照效果下的透光效果和纹路，也不方便对不同放大效果下的情况进行检测。因此，我们提出一种多晶硅片的检测机。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种多晶硅片的检测机，通过在横板的下方设置可以转动的下转盘，可以改变不同灯珠位于贯穿口下方，能够实现在不同光照效果下对多晶硅片的透光检测，横板上方设置可转动的下转盘，改变不同放大镜位于贯穿口上方，实现在不同放大效果情况下对多晶硅片纹路的检测，检测的效果更好，解决了
技术介绍
中所提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种多晶硅片的检测机，包括底座、竖板、横板、下转盘和上转盘；所述竖板竖向固定在底座的上方，且竖板固定在底座的左侧上方，竖板的左侧下方表面安装有工控电脑；
[0006]所述横板横向固定在竖板的右侧，且横板横向固定在竖板右侧的中间位置，所述横板的右侧表面开设有贯穿口，贯穿口贯通横板的上方和下方，且贯穿口上方的横板表面开设有支槽，支槽环绕设置在贯穿口的外圈，且支槽与贯穿口连通；
[0007]所述下转盘设置在横板的右侧下方，下转盘的外圈上方表面嵌入安装有灯珠，灯珠设置有多个，且多个灯珠均匀的分布在下转盘的外圈表面，右侧的灯珠位于贯穿口的正下方，所述下转盘中部下方的底座表面竖向安装有第二电动推杆，第二电动推杆垂置于底座表面，所述下转盘通过第二转轴可转动的安装在第二电动推杆的顶部，且下转盘下方的第二转轴外圈安装有电滑环，电滑环与灯珠电性连接，且电滑环下方通过导线与工控电脑电性连接；
[0008]所述上转盘设置在横板的右侧上方，且上转盘中部下方的横板表面竖向安装有第一电动推杆，第一电动推杆垂置于横板的表面，所述上转盘通过第一转轴可转动的安装在第一电动推杆的顶部，所述上转盘的外圈表面开设有通口，通口设置有多个，且多个通口均匀的分布在上转盘的外圈表面，通口的上方和下方贯通，通口内部嵌入安装有放大镜，右侧的通口位于贯穿口的正上方；
[0009]所述竖板的左侧上方表面横向固定有支撑块，支撑块的内部竖向开设有放置槽，
放置槽设置有多个，多个放置槽均匀的分布在支撑块内侧，且放置槽内部的两侧表面均固定有橡胶块，橡胶块通过贴合的方式固定在放置槽的表面。
[0010]作为本专利技术的一种优选实施方式，所述横板的右侧下方固定有遮光罩，且遮光罩环绕固定在贯穿口外圈的横板底部。
[0011]作为本专利技术的一种优选实施方式，所述横板的下方左侧表面焊接固定有三角板，且三角板的左侧通过焊接的方式固定在竖板的右侧表面。
[0012]作为本专利技术的一种优选实施方式，所述底座下方的四角表面均固定有防滑垫，防滑垫设置有四个，且防滑垫通过贴合的方式固定在底座的底部表面。
[0013]作为本专利技术的一种优选实施方式，所述工控电脑的左侧下方连接有电源线，且电源线与工控电脑电性连接。
[0014]作为本专利技术的一种优选实施方式，所述支槽的表面固定有橡胶垫，且橡胶垫通过贴合的方式固定在支槽的表面。
[0015]作为本专利技术的一种优选实施方式，所述竖板垂置于底座的左侧表面，且横板横向垂置于竖板的右侧表面。
[0016]作为本专利技术的一种优选实施方式，所述灯珠、第一电动推杆和第二电动推杆均与工控电脑电性连接。
[0017]与现有技术相比，本专利技术的有益效果如下：
[0018]1.本专利技术的多晶硅片的检测机，通过在横板的下方设置可以转动的下转盘，可以改变不同灯珠位于贯穿口下方，能够实现在不同光照效果下对多晶硅片的透光检测，横板上方设置可转动的下转盘，改变不同放大镜位于贯穿口上方，实现在不同放大效果情况下对多晶硅片纹路的检测，检测的效果更好。
[0019]2.本专利技术的多晶硅片的检测机，通过使横板的右侧下方固定有遮光罩，且遮光罩环绕固定在贯穿口外圈的横板底部，在灯珠从贯穿口向多晶硅片照射时，遮光罩可以具有聚光避免光线散发的作用。
[0020]3.本专利技术的多晶硅片的检测机，通过使横板的下方左侧表面焊接固定有三角板，且三角板的左侧通过焊接的方式固定在竖板的右侧表面，三角板焊接在横板和竖板之间，可以提高横板被固定的稳定性。
[0021]4.本专利技术的多晶硅片的检测机，通过使底座下方的四角表面均固定有防滑垫，防滑垫设置有四个，且防滑垫通过贴合的方式固定在底座的底部表面，防滑垫的设置，可以提高底座支撑在桌面时的稳定性。
附图说明
[0022]通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本专利技术的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
[0023]图1为本专利技术多晶硅片的检测机的整体结构示意图；
[0024]图2为本专利技术多晶硅片的检测机的截面结构示意图；
[0025]图3为本专利技术多晶硅片的检测机的横板结构示意图；
[0026]图4为本专利技术多晶硅片的检测机的支撑块结构示意图。
[0027]图中：1、底座；2、竖板；3、横板；4、下转盘；5、上转盘；6、通口；7、贯穿口；8、灯珠；9、
支撑块；10、三角板；11、放大镜；12、电滑环；13、第一转轴；14、第一电动推杆；15、支槽；16、橡胶垫；17、工控电脑；18、防滑垫；19、电源线；20、导线；21、第二电动推杆；22、第二转轴；23、遮光罩；24、放置槽；25、橡胶块。
具体实施方式
[0028]为使本专利技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本专利技术。
[0029]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0030]在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“设置”应做广义理解，例如，可以是固定相连、设置，也可以是可拆卸连接、设置，或一体地连接、设置；本专利技术中提供的用电器的型号仅供参考。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据实际使用情况更换功能相同的不同型号用电器，对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多晶硅片的检测机，其特征在于，包括底座(1)、竖板(2)、横板(3)、下转盘(4)和上转盘(5)；所述竖板(2)竖向固定在底座(1)的上方，且竖板(2)固定在底座(1)的左侧上方，竖板(2)的左侧下方表面安装有工控电脑(17)；所述横板(3)横向固定在竖板(2)的右侧，且横板(3)横向固定在竖板(2)右侧的中间位置，所述横板(3)的右侧表面开设有贯穿口(7)，贯穿口(7)贯通横板(3)的上方和下方，且贯穿口(7)上方的横板(3)表面开设有支槽(15)，支槽(15)环绕设置在贯穿口(7)的外圈，且支槽(15)与贯穿口(7)连通；所述下转盘(4)设置在横板(3)的右侧下方，下转盘(4)的外圈上方表面嵌入安装有灯珠(8)，灯珠(8)设置有多个，且多个灯珠(8)均匀的分布在下转盘(4)的外圈表面，右侧的灯珠(8)位于贯穿口(7)的正下方，所述下转盘(4)中部下方的底座(1)表面竖向安装有第二电动推杆(21)，第二电动推杆(21)垂置于底座(1)表面，所述下转盘(4)通过第二转轴(22)可转动的安装在第二电动推杆(21)的顶部，且下转盘(4)下方的第二转轴(22)外圈安装有电滑环(12)，电滑环(12)与灯珠(8)电性连接，且电滑环(12)下方通过导线(20)与工控电脑(17)电性连接；所述上转盘(5)设置在横板(3)的右侧上方，且上转盘(5)中部下方的横板(3)表面竖向安装有第一电动推杆(14)，第一电动推杆(14)垂置于横板(3)的表面，所述上转盘(5)通过第一转轴(13)可转动的安装在第一电动推杆(14)的顶部，所述上转盘(5)的外圈表面开设有通口(6)，通口(6)设置有多个，且多个通口(6)均匀的分布在上转盘(5)的外圈表面，通口(6)的上方和下方贯通，通口(6)内部嵌入安...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘蒙，
申请(专利权)人：徐州鑫宇光伏科技有限公司，
类型：发明
国别省市：