在无损（NDT）检查期间对制品进行视觉扫描的系统技术方案

提供了一种用于在无损检测(NDT)中使用的视觉系统辅助检查的系统(100)。基于无损检测(NDT)的设置可以被配置用于支持视觉扫描仪(158)的使用，其允许在NDT检查期间获得制品(154)的视觉扫描。可以处理与视觉扫描相对应的扫描数据，可以基于该处理识别检查指示，其中，每个检查指示对应于制品中的可能缺陷。无损检测可以进行液体渗透检查(LPI)或磁粉检查(MPI)。(MPI)。(MPI)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】在无损(NDT)检查期间对制品进行视觉扫描的系统
[0001]相关申请
[0002]本申请要求于2019年4月15日提交的名称为“METHODS AND SYSTEMS FOR vision system assisted inspections[用于视觉系统辅助检查的方法和系统]”的美国专利申请序列号16/384,544的权益。美国专利申请序列号16/384,544的全部内容通过援引明确并入本文。

技术介绍

[0003]无损检测(NDT)用于评估材料、部件和/或系统的属性和/或特性，而不会造成损坏或改变被测项。因为无损检测不会永久性地改变被检查的制品，所以它是一种非常有价值的技术，可以在用于产品评估、故障排除和研究时节省成本和/或时间。经常使用的无损检测方法包括磁粉检查、涡流检测、液体(或染剂)渗透检查、射线透照检查、超声检测和视觉检测。无损检测(NDT)通常用于比如机械工程、石油工程、电气工程、系统工程、航空工程、医学、艺术等领域。
[0004]在一些情况下，专用材料和/或产品可以用于无损检测。例如，对特定类型的制品的无损检测可能需要(例如，通过喷涂、注入、穿过等)对待测制品或零件施加被配置用于执行无损检测的材料。在这方面，可以基于具有适合于无损检测的特定特性(例如，磁性特性、视觉特性等)(比如允许基于所选NDT材料的特性来检测被检查制品的缺陷、不规则和/或瑕疵(以下统称为“缺陷”))来选择和/或制造这类材料(以下称为“NDT材料”或“NDT产品”)。
[0005]在许多情况下，基于NDT的检查是通过视觉进行的——即，通过视觉检查被检查制品来进行缺陷检测。如上所述，在一些情况下，施加NDT材料可以有助于进行视觉检查，比如基于NDT材料的特定特性而使缺陷更容易被检测到。例如，可以在视觉上基于例如颜色对比或某种与光相关的行为来识别缺陷。环境光可用于这类视觉检查——即，操作员可以简单地在光线充足的区域中(比如在施加NDT材料之后)对制品进行视觉检查。可替代地或另外，在一些情况下，可以在用于进行NDT检查的系统或设置内使用光源(例如，特殊灯)。在这方面，这种光源可以用于提供满足用于进行检查的特定标准的光。然而，视觉NDT检查有一些挑战和局限性。
[0006]通过将这类方法与在本公开内容的其余部分中参照附图阐述的本方法和系统的一些方面相比较，常规方法的进一步局限性和缺点对本领域内的技术管理人员而言将变得显而易见。

技术实现思路

[0007]本公开内容的各方面涉及产品检测和检查。更具体地，根据本公开内容的各种实施方式涉及用于视觉系统辅助检查的方法和系统，基本上如通过至少一个附图展示或结合该至少一个附图描述的、并且如在权利要求中更彻底地阐述的。
[0008]从以下描述和附图，将更加充分地理解本公开内容的这些和其他优点、方面和新颖特征以及本公开内容的所展示实施方式的细节。
附图说明
[0009]图1A展示了可以被配置用于根据本公开内容进行操作的、可以用于进行视觉检查的示例基于光源的无损检测(NDT)检查设置。
[0010]图1B展示了可以被配置用于根据本公开内容进行操作的、可以用于进行视觉检查的示例基于湿式工作台的无损检测(NDT)检查设置。
[0011]图2展示了根据本公开内容的利用视觉系统进行辅助检查的示例视觉无损检测(NDT)检查设置。
[0012]图3展示了根据本公开内容的各方面的用于结合使用具有集成光传感器的检查灯的基于无损检测(NDT)的设置的示例控制器。
具体实施方式
[0013]根据本公开内容的各种实施方式涉及(特别是通过利用视觉系统或设备实施和操作基于无损检测(NDT)的设置)提供增强和优化的视觉无损检测(NDT)检查。在这方面，如上所述，在一些情况下，NDT检查可以在视觉上使用环境光和/或专门的光源(通常与施加于要检查的制品的NDT相关材料结合以使缺陷更易于识别)进行。例如，可以在视觉上基于表现某些独特且可识别的特性(比如基于颜色对比或某种与光相关的行为)识别缺陷。然而，视觉NDT检查有其独特的挑战和/或局限性集合。例如，一些缺陷可能在视觉上难以被操作员识别，即现有解决方案可能无法解决或补救的情况。因此，可能期望克服这些缺点中的至少一些缺点的NDT相关设置或系统。
[0014]因此，根据本公开内容的实施方式比如通过提供允许增强缺陷的视觉检测的基于无损检测(NDT)的设置来解决这类问题和缺点。例如，这可以通过结合使用视觉系统或设备来完成，该视觉系统或设备可以被配置用于辅助操作员在视觉NDT检查期间更好地识别缺陷。
[0015]如本文所使用的，术语“电路”和“电路系统”是指物理电子部件(例如，硬件)以及任何软件和/或固件(“代码”)，该软件和/或固件可以配置硬件、由硬件执行和/或以其他方式与硬件相关联。如本文所使用的，例如，特定的处理器和存储器(例如，易失性或非易失性存储器设备、通用计算机可读介质等)可以在执行第一一行或多行代码时构成第一“电路”，并且在执行第二一行或多行代码时构成第二“电路”。另外，电路可以包括模拟电路系统和/或数字电路系统。这样的电路系统例如可以对模拟信号和/或数字信号进行操作。应当理解，电路可以位于单个设备或芯片中、在单个母板中、在单个机架中、在单个地理位置处的多个机柜中、在分布在多个地理位置上的多个机柜中，等等。类似的，术语“模块”例如可以是指物理电子部件(即，硬件)以及任何软件和/或固件(“代码”)，该软件和/或固件可以配置硬件、由硬件执行和/或以其他方式与硬件相关联。
[0016]如本文所使用的，当电路系统或模块包括执行功能所必需的硬件和代码(如果有必要)时，电路系统或模块“可操作”以执行该功能，而不管该功能的执行是被禁用还是未被启用(例如，通过用户可配置的设置、出厂调节等)。
[0017]如本文所使用的，“和/或”是指列表中由“和/或”连接的多个项中的任何一项或多项。例如，“x和/或y”是指三元素集合{(x),(y),(x,y)}中的任何元素。换言之，“x和/或y”是指“x和y中的一个或两个”。作为另一示例，“x、y和/或z”是指七元素集合{(x),(y),(z),(x,
y),(x,z),(y,z),(x,y,z)}中的任何元素。换言之，“x、y和/或z”是指“x、y和z中的一个或多个”。如本文所使用的，术语“示例性”是指用作非限制性示例、实例、或图示。如本文所使用的，术语“例如(for example)”和“例如(e.g.)”引出一个或多个非限制性示例、实例、或例示的清单。
[0018]如本文所用的，“检查部件”包括被配置用于执行或促进制品的无损检测(NDT)检查的机器或设置的任何部件。例如，“检查部件”可以包括以下任何一项：机器或装置的整体结构或框架元件和/或执行检查的设置、被配置为固持被检查的制品(并以特定方式将其定位以进行检查)的固持器部件、被配置用于磁化被检查制品(在基于磁化的检查中)的磁化部件、被配置用于(例如，在基于渗透的检查中)将无损检测(NDT)材料施加于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于无损检测(NDT)的系统，所述系统包括：一个或多个检查部件，所述一个或多个检查部件被配置为对制品施加无损检测(NDT)检查；视觉扫描仪，所述视觉扫描仪被配置为在所述无损检测(NDT)检查期间获得所述制品的视觉扫描；以及一个或多个电路，所述一个或多个电路被配置为：处理与所述制品的视觉扫描相对应的扫描数据；以及基于所述处理识别所述制品中的一个或多个检查指示，其中，每个检查指示对应于所述制品中的可能缺陷。2.如权利要求1所述的系统，其中，所述一个或多个电路被配置为存储用于识别和/或评估检查指示的预编程控制数据。3.如权利要求1所述的系统，其中，所述一个或多个电路被配置为生成用于识别和/或评估检查指示的控制数据。4.如权利要求3所述的系统，其中，所述一个或多个电路被配置为基于学习算法生成所述控制数据，所述学习算法被配置用于添加或调整与识别一个或多个不同制品中的每一个中的一个或多个特定缺陷有关的信息，和/或与评估每个特定缺陷有关的信息。5.如权利要求4所述的系统，其中，所述学习算法基于模式识别进行配置；并且其中，所述一个或多个电路被配置用于为所述一个或多个不同制品中的每一个生成基于模式识别的控制数据。6.如权利要求1所述的系统，其中，所述一个或多个电路被配置为基于与所述制品相关联的验收标准数据来评估所述一个或多个检查指示中的每一个，其中，所述验收标准数据定义每个可能缺陷何时是可接受的或不可接受的；以及7.如权利要求1所述的系统，其中，所述一个或多个电路被配置为针对被认为不可接受的至少一个检查标识生成用于警告所述系统的操作员的通知。8.如权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：萨基夫，
申请(专利权)人：伊利诺斯工具制品有限公司，
类型：发明
国别省市：