具有抗凹蚀绝缘层的半导体结构制造技术

技术编号:3225689 阅读:180 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术是关于一种具有抗凹蚀绝缘层的半导体结构,此结构包括:一基底,其上设置有一绝缘层;多个半导体岛,分隔地设置于绝缘层上并部分遮蔽上述绝缘层;以及多个抗凹蚀区(recess-resistantregion),个别地设置于未为此些半导体岛所遮蔽的该绝缘层内。(*该技术在2014年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术是有关于一种于绝缘层上有硅(silicon on insulator;SOI)上集成电路的制作技术,且特别是有关于绝缘层上有硅(silicon oninsulator;SOI)基底上所形成图案化的主动层所自体隔离而成的岛状隔离物结构,且于上述主动层的岛状隔离物间绝缘层内设置有抗凹蚀区(recess-resistant region),以避免绝缘层于后续组件制程中遭受蚀刻影响而形成凹陷,并确保形成于此些主动层上的半导体组件的电性表现。
技术介绍
绝缘层上有半导体层(semiconductor on insulator;SOI)的集成电路组件是将传统的组件(active devices)设置于一绝缘层上有半导体层的晶片(silicon on insulator wafer)上,上述晶片例如为一绝缘层上有硅的晶片(silicon on insulator wafer)。经由SOI技术所制作而成的集成电路组件可避免如设置于传统整体硅晶片(bulk silicon wafer)上的组件所可能遭遇的电路闭锁(latch-up)、软错记(soft-error)等问题的出现并具有消除组件于晶本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有抗凹蚀绝缘层的半导体结构,其特征在于包括:    一基底,其上设置有一绝缘层;    多个半导体岛,分隔地设置于该绝缘层上并部分遮蔽该绝缘层;以及    多个抗凹蚀区,个别地设置于未为该半导体岛所遮蔽的该绝缘层内。

【技术特征摘要】
US 2003-5-9 10/435,2861.一种具有抗凹蚀绝缘层的半导体结构,其特征在于包括一基底,其上设置有一绝缘层;多个半导体岛,分隔地设置于该绝缘层上并部分遮蔽该绝缘层;以及多个抗凹蚀区,个别地设置于未为该半导体岛所遮蔽的该绝缘层内。2.根据权利要求1所述的具有抗凹蚀绝缘层的半导体结构,其特征在于该半导体岛为一硅层或一应变硅层。3.根据权利要求1所述的具有抗凹蚀绝缘层的半导体结构,其特征在于该半导体岛为一硅锗层。4.根据权利要求1所述的具有抗凹蚀绝缘层的半导体结构,其特征在于该抗凹蚀区于一晶片清洗程序中表现出低于10埃/每分钟的被蚀刻率。5.根据权利要求4所述的具有抗凹蚀绝缘层的半导体结构,其特征在于于该晶片清洗制程中所使用的化学品为APM、SPM、HPM或经稀释氢氟酸溶液...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨育佳陈豪育曹训志杨富量胡正明
申请(专利权)人:台湾积体电路制造股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:71[中国|台湾]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1
相关领域技术
  • 暂无相关专利