一种自动检测装置制造方法及图纸

技术编号:32246364 阅读:38 留言:0更新日期:2022-02-09 17:50
本实用新型专利技术属于自动检测技术领域,特别是涉及一种自动检测装置。该自动检测装置包括机架、三轴运动平台、治具组件、用于定位待检测件的相机,以及用于检测待检测件厚度的激光测距仪;所述三轴运动平台安装在所述机架上,所述相机和所述激光测距仪均安装在所述三轴运动平台的输出端;所述治具组件包括夹具板、吸附接头以及安装在所述机架上的旋转驱动件;所述夹具板安装在所述旋转驱动件的输出端,所述夹具板上设有吸附通孔和用于安装待检测件的容纳槽,所述吸附通孔的一端连通所述容纳槽,所述吸附通孔的另一端连通所述吸附接头。该自动检测装置的提高了待检测件的检测精度和检测效率。效率。效率。

【技术实现步骤摘要】
一种自动检测装置


[0001]本技术属于自动检测
,特别是涉及一种自动检测装置。

技术介绍

[0002]随着人工智能芯片、5G芯片、汽车电子、物联网等等电子行业的不断发展,全球半导体的需求量越来越大;半导体行业的发展不仅关系到电子行业的命运,还涉及到国家安全、国计民生等的要务。晶圆是指制作半导体集成电路所需的晶圆片,在晶圆片上可以加工制成各种电路元件结构,从而使得晶圆片成为有特定电性功能的微型电子器件。并且,晶圆需要硅元素加以纯化,接着是将这些纯硅制成硅晶棒,成为制造集成电路的石英半导体的材料,经过照相制版,研磨,抛光,切片等程序,将多晶硅融解拉出单晶的硅晶棒,然后切割成一片一片薄薄的晶圆片。晶圆片制成后还需要贴合在陶瓷盘上进行研磨,来保证晶圆片的厚度及表面光整度。
[0003]现有技术中,为了保证晶圆片的质量,晶圆片通常采用光学测量机械对产品的尺寸进行测量,但是在测量过程中,需要人工带动光学测量仪进行移动,从而导致晶圆片检测的精度低,测量效率低等问题

技术实现思路

[0004]本技术针对现有晶圆片检测的精度低,测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自动检测装置,其特征在于,包括机架、三轴运动平台、治具组件、用于定位待检测件的相机,以及用于检测待检测件厚度的激光测距仪;所述三轴运动平台安装在所述机架上,所述相机和所述激光测距仪均安装在所述三轴运动平台的输出端;所述治具组件包括夹具板、吸附接头以及安装在所述机架上的旋转驱动件;所述夹具板安装在所述旋转驱动件的输出端,所述夹具板上设有吸附通孔和用于安装待检测件的容纳槽,所述吸附通孔的一端连通所述容纳槽,所述吸附通孔的另一端连通所述吸附接头。2.根据权利要求1所述的自动检测装置,其特征在于,所述三轴运动平台包括X轴驱动模组、Y轴驱动模组以及Z轴驱动模组;所述Y轴驱动模组安装在所述机架上,且所述Y轴驱动模组用于带动所述X轴驱动模组和所述Z轴驱动模组沿Y轴方向移动;所述X轴驱动模组安装在所述Y轴驱动模组的输出端,且所述X轴驱动模组用于带动所述Z轴驱动模组沿X轴方向移动;所述Z轴驱动模组安装在所述X轴驱动模组的输出端,所述相机和所述激光测距仪均安装在Z轴驱动模组的输出端,且Z轴驱动模组用于带动所述相机和所述激光测距仪沿Z轴方向移动。3.根据权利要求2所述的自动检测装置,其特征在于,所述X轴驱动模组包括X轴驱动件、X轴导轨、X轴丝杆、X轴螺母、支撑座以及设有X轴滑动槽的连接板;所述支撑座安装在所述机架上,所述X轴导轨沿X轴方向安装在所述支撑座上,所述X轴驱动件和所述X轴丝杆均安装在所述支撑座上,所述X轴丝杆连接所述X轴驱动件的输出端,所述X轴螺母与所述X轴丝杆螺纹连接,所述连接板安装在所述X轴螺母上,且所述连接板通过所述X轴滑动槽与所述X轴导轨滑动连接;所述Y轴驱动模组安装在所述连接板上。4....

【专利技术属性】
技术研发人员:高泂邱国良杜荣钦尹建刚高云峰
申请(专利权)人:大族激光科技产业集团股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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