数据处理方法技术

技术编号:3223982 阅读:152 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术是对有存储器的电子器件及用树脂注模成型的存储器组件进行数据处理的一种方法.本方法包括将数据存入存储器和擦除已存入存储器内的数据两道工序,数据擦除工序包括X射线照射处理和热处理.(*该技术在2006年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种,这种方法处理已存入电子器件存储器中的数据。特别是,本专利技术涉及一种将存入如EPROM(可编程擦除只读存储器)非易失性存储器中的数据擦除的方法。数据一旦存在用MOSFET(绝缘栅场效应半导体)制成的EPROM中,便可以用紫外线通过装在封装表面的窗口照射到芯片上的办法加以擦除。但是,装有玻璃窗口的陶瓷封装生产起来很昂贵,因此,可以用树脂(塑料)封装来降低生产成本。其典型产品为日立公司所生产的HN482764 P-3。尽管这种ROM能够以低成本进行生产,但其存储的数据却不能用紫外线照射的办法加以擦除。这种ROM被称之为“OTP(一次性电改写可编程)ROM”。对这种数据不能擦除型的ROM而言,最大的问题是,在产品的最终检测工序中得不到令人满意的可靠性。换句话说,尽管最好是在这种情况下,即存储器中没有任何数据写入,用户可以自由地写入数据的情况下将产品出厂,但是在这种情况下却不能进行如数据的写特性那样的可靠性试验。因此,为了提高测试的可靠性,通常的做法是对每批产品抽出予定数量的试样,然后对试样进行实际读或写测试,如果试样中即使有一个证明是不合格品,则就要报废这一批产品。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种由下述工序组成的数据处理方法:(1)在电子器件的存贮器中贮存数据,该电子器件具有上述存贮器和将存贮器注模的成型件;及(2)在上述存贮器中擦除所存贮的数据,上述擦除工序包括X射线照射处理和热处理。

【技术特征摘要】
JP 1985-8-9 174152/851.一种由下述工序组成的数据处理方法(1)在电子器件的存贮器中贮存数据,该电子器件具有上述存贮器和将该存贮器注模的成型件;及(2)在上述存贮器中擦除所存贮的数据,上述擦除工序包括X射线照射处理和热处理。2.根据权项1所指数据处理方法,上述注模成型件包括树脂和封装上述的存贮器。3.根据权项1所指数据处理方法,上述X射线照射处理是由上述注模成型件的外部施加的。4.根据权项1所指数据处理方法,上述X射线照射处理是使用软X射线实现的。5.根据权项1所指数据处理方法,上述X射线照射处理是使用波长大于几个埃( )的X射线来实现的。6.根据权项5所指数据处理方法,上述X射线的照射时间小于60分钟。7....

【专利技术属性】
技术研发人员:东海龙男阿部亨光石知国武居一郎
申请(专利权)人:株式会社日立制作所
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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