一种半导体制冷器件分类设备的定位装置制造方法及图纸

技术编号:32228782 阅读:20 留言:0更新日期:2022-02-09 17:33
本实用新型专利技术公开了一种半导体制冷器件分类设备的定位装置,包括定位座、第一限位组件和第二限位组件,定位座设有容纳位,且容纳位设有相邻的第一开边和第二开边;第一限位组件包括可位置移动的第一挡板,第一挡板可靠近和远离第一开边,第二限位组件包括可位置移动的第二挡板,第二挡板可靠近和远离第二开边,容纳位、第一挡板和第二挡板用于围成容纳半导体制冷器件的容纳腔。本技术方案提出的一种半导体制冷器件分类设备的定位装置,有效降低人为因素对半导体制冷器件的电性参数检测结果的干扰,解决现有利用人工方式对半导体制冷器件进行检测的过程中,因无法对半导体制冷器件进行定位而导致的误判率高的技术问题。行定位而导致的误判率高的技术问题。行定位而导致的误判率高的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体制冷器件分类设备的定位装置


[0001]本技术涉及半导体制冷器件自动生产线
,尤其涉及一种半导体制冷器件分类设备的定位装置。

技术介绍

[0002]半导体制冷器件是利用半导体材料的珀尔帖效应制成的、可以产生制冷、或制热作用的芯片,具有体积小、结构紧凑、制冷量控制方便等特点,在小型制冷如红酒冷藏柜、汽车用冷热两用箱、电子冰淇淋机等产品中得到了广泛的应用。
[0003]半导体制冷器件包括第一基板、第二基板和设置在第一基板与第二基板之间的晶粒。半导体制冷器件在装配过程中,通常会由于晶粒制备工艺以及半导体制冷器件装配工艺的影响,造成半导体制冷器件的电性参数存在差异,即导致半导体制冷器件的实际电性参数与理论电性参数存在误差。而不同的电性参数的半导体制冷器件所适用的应用场景有所不同,若忽略半导体制冷器件的实际应用参数,则会影响半导体制冷器件的工作效率,以及缩短其使用寿命。
[0004]现有采用人工方式对半导体制冷器件进行检测的过程中,时常会发生由于半导体制冷器件与检测设备之间的接触不良而导致的无法检测或检测不准的情况,或存在其他人为因素的干扰而造成对半导体制冷器件的误判,若将半导体制冷器件应用于与其电性参数不匹配的应用场景中,则会影响半导体制冷器件的工作效率,以及缩短其使用寿命。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提出一种半导体制冷器件分类设备的定位装置,有效降低人为因素对半导体制冷器件的电性参数检测结果的干扰,解决现有利用人工方式对半导体制冷器件进行检测的过程中,因无法对半导体制冷器件进行定位而导致的误判率高的技术问题,以克服现有技术中的不足之处。
[0006]为达此目的,本技术采用以下技术方案:
[0007]一种半导体制冷器件分类设备的定位装置,包括定位座、第一限位组件和第二限位组件,所述定位座设有容纳位,且所述容纳位设有相邻的第一开边和第二开边;
[0008]所述第一限位组件包括可位置移动的第一挡板,所述第一挡板可靠近和远离所述第一开边,所述第二限位组件包括可位置移动的第二挡板,所述第二挡板可靠近和远离所述第二开边,所述容纳位、所述第一挡板和所述第二挡板用于围成容纳半导体制冷器件的容纳腔。
[0009]优选的,所述定位装置还包括第三限位组件,所述第三限位组件包括可位置移动的第三挡板,所述第三挡板可靠近和远离所述容纳位的顶部,所述第三挡板用于抵于半导体制冷器件的顶部,并将半导体制冷器件限位于所述容纳腔。
[0010]优选的,所述第一限位组件还包括第一驱动件,所述第一驱动件的输出端与所述第一挡板相连,所述第一驱动件用于带动所述第一挡板靠近和远离所述第一开边。
[0011]优选的,所述第一开边位于所述容纳位的左侧或右侧,所述定位座的下部前侧安装有定位条,所述第一挡板的下部后侧连接有第一移动条,所述第一移动条安装于所述定位条,且所述第一移动条通过所述第一驱动件可沿所述定位条左右移动。
[0012]优选的,所述第二限位组件还包括第二驱动件,所述第二驱动件的输出端与所述第二挡板相连,所述第二驱动件用于带动所述第二挡板靠近和远离所述第二开边。
[0013]优选的,所述第二开边位于所述容纳位的前侧或后侧,所述第二限位组件还包括限位座和支撑板;
[0014]所述支撑板可前后移动地安装于所述限位座的顶部,所述支撑板用于支撑半导体制冷器件的导线;所述第二挡板与所述支撑板一体成型,且所述第二挡板位于所述容纳位与所述支撑板之间;所述第二驱动件安装于所述支撑板的底部,且所述第二驱动件的输出端与所述支撑板相连,所述第二挡板和所述支撑板通过所述第二驱动件可在所述限位座的顶部前后移动。
[0015]优选的,所述第二限位组件位于所述定位座的前侧或后侧,且所述第二限位组件和所述第三限位组件关于所述定位座相对设置。
[0016]优选的,所述第三限位组件还包括第三驱动件和转轴,所述第三驱动件的输出端与所述转轴相连,所述第三挡板固定安装于所述转轴,且所述第三挡板可通过第三驱动件以所述转轴为轴转动,令所述第三挡板与半导体制冷器件的顶部相抵。
[0017]优选的,所述容纳位设有多个,且所述第一挡板、所述第二挡板、所述第三挡板的数量与所述容纳位的数量相等。
[0018]优选的,还包括定位台,所述定位座、所述第一限位组件、所述第二限位组件和所述第三限位组件均可拆卸地安装于所述定位台的顶部。
[0019]本申请实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果:
[0020]1、定位座设有用于容纳半导体制冷器件的容纳位,且容纳位设有相邻的第一开边和第二开边,有利于使容纳位可以容纳不同规格的半导体制冷器件,从而有效提升定位装置的兼容性和通用性。
[0021]2、第一挡板可靠近和远离第一开边,第二挡板可靠近和远离第二开边,容纳位、第一挡板和第二挡板用于围成容纳半导体制冷器件的容纳腔,从而在水平方向上实现对半导体制冷器件的前、后、左、右四个方向上的固定和限位,有利于提升半导体制冷器件在定位座的安装稳定性。
[0022]3、第三挡板可靠近和远离容纳位的顶部,第三挡板用于抵于半导体制冷器件的顶部,并将半导体制冷器件限位于容纳腔,从而实现定位装置对半导体制冷器件在竖直方向上的固定和限位,更进一步地提升了半导体制冷器件在定位座的安装稳定性。
附图说明
[0023]图1是本技术一种半导体制冷器件分类设备的定位装置的第一视角的结构示意图(第三挡板处于限位状态)。
[0024]图2是本技术一种半导体制冷器件分类设备的定位装置的第二视角的结构示意图(第三挡板处于未限位状态)。
[0025]图3是本技术一种半导体制冷器件分类设备的定位装置的主视图。
[0026]图4是图3中A

A方向的剖视图。
[0027]其中:定位座31、容纳位311、定位条312、第一限位组件32、第一挡板321、第一移动条3211、第一驱动件322、第二限位组件33、第二挡板331、第二驱动件332、限位座333、支撑板334、第三限位组件34、第三挡板341、第三驱动件342、转轴343、定位台35、半导体制冷器件7。
具体实施方式
[0028]下面详细描述本技术的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本技术,而不能理解为对本技术的限制。
[0029]在本技术的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。此外,限定有“第一”、“第二”、“第三”本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体制冷器件分类设备的定位装置,其特征在于:包括定位座、第一限位组件和第二限位组件,所述定位座设有容纳位,且所述容纳位设有相邻的第一开边和第二开边;所述第一限位组件包括可位置移动的第一挡板,所述第一挡板可靠近和远离所述第一开边,所述第二限位组件包括可位置移动的第二挡板,所述第二挡板可靠近和远离所述第二开边,所述容纳位、所述第一挡板和所述第二挡板用于围成容纳半导体制冷器件的容纳腔。2.根据权利要求1所述的一种半导体制冷器件分类设备的定位装置,其特征在于:所述定位装置还包括第三限位组件,所述第三限位组件包括可位置移动的第三挡板,所述第三挡板可靠近和远离所述容纳位的顶部,所述第三挡板用于抵于半导体制冷器件的顶部,并将半导体制冷器件限位于所述容纳腔。3.根据权利要求1所述的一种半导体制冷器件分类设备的定位装置,其特征在于:所述第一限位组件还包括第一驱动件,所述第一驱动件的输出端与所述第一挡板相连,所述第一驱动件用于带动所述第一挡板靠近和远离所述第一开边。4.根据权利要求3所述的一种半导体制冷器件分类设备的定位装置,其特征在于:所述第一开边位于所述容纳位的左侧或右侧,所述定位座的下部前侧安装有定位条,所述第一挡板的下部后侧连接有第一移动条,所述第一移动条安装于所述定位条,且所述第一移动条通过所述第一驱动件可沿所述定位条左右移动。5.根据权利要求1所述的一种半导体制冷器件分类设备的定位装置,其特征在于:所述第二限位组件还包括第二驱动件,所述第二驱动件的输出端与所述第二挡板相连,所述第二驱动件用于带动所述第二挡板...

【专利技术属性】
技术研发人员:梁逸笙谭金旺
申请(专利权)人:广东富信科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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