一种新型测试服务站架构制造技术

本发明专利技术公开了一种新型测试服务站架构，服务器分配集中式仪表的资源、管理分布式工位的任务、安装仪表的驱动、收集测试调试数据并分析比对；集中式仪表包括各工位共用且使用不密集的仪表、高精密的仪表、无法每个工位都配备的仪表；分布式工位包括工控机、分布式仪表和工位接口，工控机控制仪表、申请使用集中式仪表、控制被测件、上传测试调试数据；同等效率下，本发明专利技术的仪器仪表投入少，实现全平台仪表最大利用率，工位例程转换灵活，以较低成本搭建并行测试平台可应用于电子产品的测试、调试和维修场景，或各工位写入不同例程，实现流水线式的测试调试过程，或为同一调试测试例程提供并行扩展，不增加昂贵仪器仪表的同时扩大调试测试规模。试测试规模。试测试规模。

【技术实现步骤摘要】
一种新型测试服务站架构


[0001]本专利技术属于自动化
，具体涉及一种测试控制技术。

技术介绍

[0002]传统的测试服务站依照架构，可分为集中式测试服务站和分布式测试服务站。集中式测试服务站以工控机为核心，配备高性能数据采集仪，通过多通道、高速度、高精度的采集方式，精密测试对象。分布式测试服务站多用于流水线测试领域，按照测试步骤，分布式的编写测试例程。
[0003]传统架构的测试服务站固化测试项目与例程，对测试、调试与维修项目的应用场景使用受限，依照测试项目配置仪表，使用频率低的仪表经常出现闲置状态，使用频繁的仪表经常被占用，存在程序等待仪表的现象，模式固定，不适用于小批量、多品种和多场景的情况。

技术实现思路

[0004]本专利技术为了解决现有技术存在的问题，提出了一种新型测试服务站架构，为了实现上述目的，本专利技术采用了以下技术方案。
[0005]服务器实现云控制：分配集中式仪表的资源、管理分布式工位的任务、安装仪表的驱动、收集测试调试数据并分析比对；集中式仪表包括：各工位共用且使用不密集的仪表、高本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种新型测试服务站架构，其特征在于，包括：服务器实现云控制：分配集中式仪表的资源、管理分布式工位的任务、安装仪表的驱动、收集测试调试数据并分析比对；集中式仪表包括：各工位共用且使用不密集的仪表、高精密的仪表、无法每个工位都配备的仪表；分布式工位包括：工控机、分布式仪表和工位接口，工控机控制仪表、申请使用集中式仪表、控制被测件、上传测试调试数据。2.根据权利要求1所述的新型测试服务站架构，其特征在于，还包括：各工控机编写测试例程并运行，通过CAN总线与被测件通信，通过混合LAN、GPIB、USB组成的混合总线与分布式仪表通信，通过LAN总线与服务器通信，所有LAN总线组成信号中枢。3.根据权利要求2所述的新型测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：禹光华，王十佳，陈洲，赵良萍，徐敏，王颀，徐鸣，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第十四研究所，
类型：发明
国别省市：