一种测量物体特征频率的装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种测量物体特征频率的装置及方法，测试激光器所输出的激光依次经过光纤分束器输入端、光纤分束器分束端、光纤分束器第一输出端形成输出激光，输出激光入射到待测物体形成反射激光，反射激光与输出激光干涉，干涉信号被光纤分束器第一输出端收集，通过光纤分束器分束端、光纤分束器第二输出端进入光电探测器，光电探测器通过电学连接线与示波器连接，示波器与数据采集卡通过数据传输线连接，将电学信号用示波器记录时域信号C后，利用数据传输线将时域信号C经数据采集卡采集后进行傅里叶变换，对干涉信号谱进行频谱分析，得到待测物体的特征振动频率。本发明专利技术能解决对物体振动幅度小而无法精确测量的问题，测量精度高、操作简单。操作简单。操作简单。

【技术实现步骤摘要】
一种测量物体特征频率的装置及方法


[0001]本专利技术涉及物体特征频率的测量
，尤其涉及一种测量物体特征频率的装置及方法。

技术介绍

[0002]自从激光问世以来，自由表面微振动的测量技术有了很大的发展，测量方法大致有激光全息干涉计量技术，激光干涉仪技术，激光衍射技术等。
[0003]激光干涉仪由于系统固有的结构简单、测量精度高及非接触等优点，在实现对速度，特征频率等物理量的高精度测量上，具有广阔的应用前景。目前激光干涉仪普遍可以实现纳米精度，已有很多文献报道与激光干涉仪相关的理论和实验方案。激光干涉仪结合光学精密测量的原理和电子技术，可对机械频率实现高精度测量，广泛应用于精密制造、测试计量领域。长距离光束测量的激光干涉仪方法中，利用一块长焦距透镜将激光聚焦到振动零部件表面，振动表面把一小部分入射光沿原光路反射回到分束器与入射光束干涉，因此，对激光入射角度具有较高要求，这种方法要求激光入射需要直线传输，在狭小空间或真空结构等较复杂的系统中，长距离光线被遮挡，无法完成测量。
[0004]技术的进步及新的需求逐渐出现，现有方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量物体特征频率的装置，其特征在于：包括测试激光器、光纤分束器、光电探测器、示波器和数据采集卡，测试激光器所输出的激光依次经过光纤分束器输入端、光纤分束器分束端、光纤分束器第一输出端形成输出激光，输出激光入射到待测物体形成反射激光，反射激光与输出激光干涉，干涉信号被光纤分束器第一输出端收集，通过光纤分束器分束端、光纤分束器第二输出端进入光电探测器，其中，光纤分束器第一输出端与待测物体调节至近平行状态，使光电探测器测得经待测物体反射后的干涉信号谱，光电探测器通过电学连接线与所述示波器连接，所述示波器与数据采集卡通过数据传输线连接，将电学信号用示波器记录时域信号C后，利用数据传输线将时域信号C经数据采集卡采集后进行傅里叶变换，对干涉信号谱进行频谱分析，得到待测物体的特征振动频率。2.根据权利要求1所述的一种测量物体特征频率的装置，其特征在于：所述光纤分束器可用一体成形的一分二分束器。3.根据权利要求1所述的一种测量物体特征频率的装置，其特征在于：所述光纤分束器输入端、光纤分束器分束端、光纤分束器第一输出端和光纤分束器第二输出端为一体成型。...

【专利技术属性】
技术研发人员：张鹏飞，宋丽军，李刚，张天才，
申请(专利权)人：山西大学，
类型：发明
国别省市：