仪表状态检测方法、电子设备及存储介质技术

本申请公开了一种仪表状态检测方法、电子设备及计算机可读存储介质。该方法包括：采集当前点位对应的待检测图像；获取待检测图像与多个候选点位对应的背景图像的相似度；基于相似度，从多个候选点位中选择目标点位；基于目标点位对应的仪表的识别信息，对待检测图像进行仪表状态检测，得到当前点位对应的所述仪表的第一状态信息。通过上述方式，能够降低仪表状态检测所需的人力成本。状态检测所需的人力成本。状态检测所需的人力成本。

【技术实现步骤摘要】
仪表状态检测方法、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及图像处理
，特别是涉及一种仪表状态检测方法、电子设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]变电站、机房、车间等场景下的设备一般都设置有仪表，并且需要实时检测仪表的状态。如果完全依靠人工巡检来检测仪表的状态，不仅需要耗费过多的人力成本，效率还不高，无法实时。
[0003]为此，现有技术中采用自动巡检的方式来检测仪表的状态，即在待检测区域设定多个点位，通过摄像头在点位拍摄仪表相关的图像，基于点位对应的识别信息对图像进行检测，以确定仪表的状态。但是现有的仪表状态检测方法仍然需要较高的人力成本。

技术实现思路

[0004]本申请提供一种仪表状态检测方法、电子设备及计算机可读存储介质，能够解决现有的仪表状态检测需要的人力成本较高的问题。
[0005]为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种特征匹配方法。该方法包括：采集当前点位对应的待检测图像；获取待检测图像与多个候选点位对应的背景图像的相似度；基于相似度，从多个候选点位中选择目标点位本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种仪表状态检测方法，其特征在于，包括：采集当前点位对应的待检测图像；获取所述待检测图像与多个候选点位对应的背景图像的相似度；基于所述相似度，从所述多个候选点位中选择目标点位；基于所述目标点位对应的所述仪表的识别信息，对所述待检测图像进行仪表状态检测，得到所述当前点位对应的所述仪表的第一状态信息。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述待检测图像与多个候选点位对应的背景图像的相似度，包括：获取所述待检测图像的第一灰度值分布情况和所述多个候选点位对应的背景图像的第二灰度值分布情况；分别计算所述第一灰度值分布情况与所述多个候选点位对应的所述第二灰度值分布情况之间的相似度。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，同一所述候选点位对应多张不同亮度的所述背景图像，所述获取所述多个候选点位对应的背景图像的第二灰度值分布情况，包括：对于每个所述候选点位，获取所述候选点位对应的每张所述背景图像的第三灰度值分布情况；获取所述候选点位对应的多个所述第三灰度值分布情况的均值，将所述均值作为所述候选点位对应的背景图像的第二灰度值分布情况。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法进一步包括：采集所述候选点位对应的所述背景图像；对所述候选点位对应的所述背景图像进行仪表识别，得到所述候选点位对应的所述仪表的识别信息。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述候选点位对应多张不同亮度的所述背景图像，所述对所述候选点位对应的所述背景图像进行仪表识别，得到所述候选点位对应的所述仪表的识别信息，包括：对所述候选点位对应的每张所述背景图像进行仪表识别，得到每张所述背景图像中所述仪表的识别信息；对每张所述背景图像中所述仪表的识别信息进行合并，...

【专利技术属性】
技术研发人员：李庆奇，
申请(专利权)人：浙江大华技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：