本发明专利技术公开了一种过流保护测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质，本申请中的处理器可以通过电子负载控制待测主板中的待测VR芯片的输出电流从基准电流值开始以预设步幅递增，在此过程中可以对待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号进行监测，一旦发现属于过温保护触发断路，便可以在预设时长(待测VR芯片冷却)后通过电子负载控制待测VR芯片的输出电流从触发过温保护瞬间的电流值开始以预设步幅递增，从而继续进行测试，直至待测VR芯片触发过流保护并记录过流保护触发值，由于本申请应用于处理器中，工作效率较高，且能够准确地找到过流保护触发值，提高了测试准确性。性。性。
【技术实现步骤摘要】
一种过流保护测试方法、装置、设备及可读存储介质
[0001]本专利技术涉及服务器领域，特别是涉及一种过流保护测试方法，本专利技术还涉及一种过流保护测试装置、设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
[0002]服务器主板和其他板卡在开发阶段需要针对主板的电源设计方案进行测试，在测试过程中，需要对待测主板上的VR(voltage adjustment，电压调节)芯片进行电流保护的验证，来保证主板的供电稳定性，具体需要验证VR芯片真实的OCP(Over Current Protection，过流保护)触发点，然而现有技术中在进行过流保护测试时，通常需要工作人员手动调节负载大小以便对各个等级的电流进行测试，测试效率较低，并且还可能因为长时间的测试触发VR芯片的OTP(Over Temperature Protection，过温保护)从而误将过此时的电流值当做OCP触发点，测试准确性较差。
[0003]因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域技术人员目前需要解决的问题。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的是提供一种过流保护测试方法，本申请应用于处理器中，工作效率较高，且能够准确地找到过流保护触发值，提高了测试准确性；本专利技术的另一目的是提供一种过流保护测试装置、设备及计算机可读存储介质，本申请应用于处理器中，工作效率较高，且能够准确地找到过流保护触发值，提高了测试准确性。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种过流保护测试方法，应用于处理器，包括：
[0006]通过电子负载控制待测主板中的待测电压调节VR芯片的输出电流从基准电流值开始以预设步幅递增；
[0007]监测所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号；
[0008]在所述断路保护信号为过温保护类型时，在预设时长后通过所述电子负载控制所述待测VR芯片的输出电流从触发过温保护瞬间的电流值开始以所述预设步幅递增，并执行所述监测所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号的步骤；
[0009]在所述断路保护信号为过流保护类型时，将所述待测VR芯片触发过流保护瞬间的电流值作为过流保护触发值。
[0010]优选地，所述监测所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号包括：
[0011]通过通信装置对所述待测主板中的各个所述待测VR芯片进行寻址，确定出各个所述待测VR芯片的通信地址；
[0012]响应于通过人机交互装置接收到的选择指令，对所述选择指令指定的所述通信地址对应的所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号进行监测。
[0013]优选地，所述通信装置包括：
[0014]与所述处理器连接的控制芯片，用于在所述处理器的控制下通过寻址芯片获取各个所述待测VR芯片的通信地址，并将获取到的所述通信地址传输至所述处理器，以便所述处理器通过自身以及所述寻址芯片实现与指定的所述通信地址对应的VR芯片的通信；
[0015]分别与所述控制芯片以及各个所述待测VR芯片连接的所述寻址芯片。
[0016]优选地，所述通信装置还包括与所述控制芯片连接的提示装置；
[0017]所述监测所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号之后，该过流保护测试方法还包括：
[0018]通过所述控制芯片控制所述提示装置提示所述断路保护信号的具体类型。
[0019]优选地，所述提示装置为发光二极管。
[0020]优选地，所述在所述断路保护信号为过流保护类型时，将所述待测VR芯片触发过流保护瞬间的电流值作为过流保护触发值具体为：
[0021]在所述断路保护信号为过流保护类型时，通过示波器获取所述待测VR芯片触发过流保护瞬间的电流波形图并从所述电流波形图中确定出过流保护触发值和/或通过所述通信装置接收所述待测VR芯片触发过流保护前最后发送的自身输出电流的电流值并将其作为所述过流保护触发值。
[0022]优选地，该过流保护测试方法还包括：
[0023]通过所述通信装置获取所述待测VR芯片发送的自身的实时温度值；
[0024]在所述断路保护信号为过温保护类型时，将当前接收到的实时温度值作为过温保护触发值。
[0025]为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种过流保护测试装置，应用于处理器，包括：
[0026]控制模块，用于通过电子负载控制待测主板中的待测电压调节VR芯片的输出电流从基准电流值开始以预设步幅递增；
[0027]监测模块，用于监测所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号；
[0028]执行模块，用于在所述断路保护信号为过温保护类型时，在预设时长后通过所述电子负载控制所述待测VR芯片的输出电流从触发过温保护瞬间的电流值开始以所述预设步幅递增，并执行所述监测所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号的步骤；
[0029]记录模块，用于在所述断路保护信号为过流保护类型时，将所述待测VR芯片触发过流保护瞬间的电流值作为过流保护触发值。
[0030]为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种过流保护测试设备，包括：
[0031]存储器，用于存储计算机程序；
[0032]处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上所述过流保护测试方法的步骤。
[0033]为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述过流保护测试方法的步骤。
[0034]本专利技术提供了一种过流保护测试方法，本申请中的处理器可以通过电子负载控制待测主板中的待测VR芯片的输出电流从基准电流值开始以预设步幅递增，在此过程中可以对待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号进行监测，一旦发现属于过温保护触发断路，便可以在预设时长(待测VR芯片冷却)后通过电子负载控制待测VR芯片的输出电流从
触发过温保护瞬间的电流值开始以预设步幅递增，从而继续进行测试，直至待测VR芯片触发过流保护并记录过流保护触发值，由于本申请应用于处理器中，工作效率较高，且能够准确地找到过流保护触发值，提高了测试准确性。
[0035]本专利技术还提供了一种过流保护测试装置、设备及计算机可读存储介质，具有如上过流保护测试方法相同的有益效果。
附图说明
[0036]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0037]图1为本专利技术提供的一种过流保护测试方法的流程示意图；
[0038]图2为本专利技术提供的一种通信装置的结构示意图；
[0039]图3为本专利技术提供的一种过流保护测试装置的结构示意图；
[0040]图4为本专利技术提供的一种过流保护测试设备的结构示意图。
具体实施方式
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种过流保护测试方法，其特征在于，应用于处理器，包括：通过电子负载控制待测主板中的待测电压调节VR芯片的输出电流从基准电流值开始以预设步幅递增；监测所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号；在所述断路保护信号为过温保护类型时，在预设时长后通过所述电子负载控制所述待测VR芯片的输出电流从触发过温保护瞬间的电流值开始以所述预设步幅递增，并执行所述监测所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号的步骤；在所述断路保护信号为过流保护类型时，将所述待测VR芯片触发过流保护瞬间的电流值作为过流保护触发值。2.根据权利要求1所述的过流保护测试方法，其特征在于，所述监测所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号包括：通过通信装置对所述待测主板中的各个所述待测VR芯片进行寻址，确定出各个所述待测VR芯片的通信地址；响应于通过人机交互装置接收到的选择指令，对所述选择指令指定的所述通信地址对应的所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号进行监测。3.根据权利要求2所述的过流保护测试方法，其特征在于，所述通信装置包括：与所述处理器连接的控制芯片，用于在所述处理器的控制下通过寻址芯片获取各个所述待测VR芯片的通信地址，并将获取到的所述通信地址传输至所述处理器，以便所述处理器通过自身以及所述寻址芯片实现与指定的所述通信地址对应的VR芯片的通信；分别与所述控制芯片以及各个所述待测VR芯片连接的所述寻址芯片。4.根据权利要求3所述的过流保护测试方法，其特征在于，所述通信装置还包括与所述控制芯片连接的提示装置；所述监测所述待测VR芯片触发断路保护时产生的断路保护信号之后，该过流保护测试方法还包括：通过所述控制芯片控制所述提示装置提示所述断路保护信号的具体类型。5.根据权利要求4所述的过流保护测试方法，其特征在于，所述提示装置为发光二极管。6...
【专利技术属性】
技术研发人员：施秋云，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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