分光测定器制造技术

具有：衍射机构(504)，使从入射部(401)、(501)入射的被测定光(820)衍射；主传感器(506)，接收被衍射机构(504)衍射的被测定光；1个或多个辅助传感器(A)～(C)，配置在从入射部入射的光束中的、没有到达主传感器(506)的光束的光路中，接收该光；校正机构(700)，基于辅助传感器的输出值，校正主传感器的输出值。校正主传感器的输出值。校正主传感器的输出值。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】分光测定器


[0001]本专利技术涉及一种分光测定器，用于测定光源的亮度或色度、物体的分光反射率或色值等。

技术介绍

[0002]作为上述的分光测定器，以往已知的装置其构成为：将来自光源等测定区域的被测定光通过物镜、孔径光阑、聚光中继透镜等光学系统引导至作为入射部的入射狭缝，通过衍射光栅等衍射机构使从入射狭缝入射的被测定光衍射分光，通过受光传感器接收衍射的光并得到测定值。此外，还有一种已知的装置其构成上具备光纤束，该光纤束代替入射狭缝或与入射狭缝共同将被聚光中继透镜会聚的被测定光引导至入射位置(例如，参见专利文献1和2)。
[0003]在这种分光测定器中，受光传感器本身的精度可能会因测定环境的变化或老化而发生变化。另外，有时在从入射狭缝或光纤束等入射部起直到接收入射的被测定光的受光传感器为止的路径上，配置光学系统部件，在光学系统部件的透射率因环境条件或老化等而发生变化的情况下，也不能进行高精度的测定。下面将对光学系统部件进行说明。
[0004]作为光学系统部件，能够列举出ND滤光器、液晶快门、扩散板等减光部材，或者，阻断测定波长本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种分光测定器，具有：衍射机构，使从入射部入射的被测定光衍射；主传感器，接收被所述衍射机构衍射的被测定光；一个或多个辅助传感器，配置在从所述入射部入射的光束中的、没有到达所述主传感器的光束的光路，接收该光束；以及校正机构，根据所述辅助传感器的输出值，校正所述主传感器的输出值。2.如权利要求1所述的分光测定器，所述校正机构校正所述主传感器的输出值，以使根据所述主传感器的输出值计算而得的受光强度值与根据所述辅助传感器的输出值计算而得的受光强度值变为相同。3.如权利要求1或2所述的分光测定器，具有：受光光量调整部材，用于调整所述主传感器的受光光量。4.如权利要求3所述的分光测定器，所述受光光量调整部材是以相对于所述被测定光的光路能够插入并退出的方式被配置的减光部材。5.如权利要求3或4所述的分光测定器，在所述受光光量调整部材的前方配置了所述辅助传感器，所述校正机构同时取得所述主传感器和所述辅助传感器的输出值，校正所述主传感器的输出值。6.如权利要求4所述的分光测定器，在所述减光部材的后方配置了第1辅助传感器，所述校正机构，在所述减光部材向光路插入的状态下，取得所述主传感器的输出值，在所述减光部材从光路退出的状态下，取得所述第1辅助传感器的输出值，校正所述主传感器的输出值。7.如权利要求6所述的分光测定器，在所述减光部材的前方配置了第2辅助传感器，所述校正机构，在所述主传感器的输出值的取得时和所述第1辅助传感器的输出值的取得时的各个定时取得所述第2辅助传感器的输出值，根据取得的所述第2辅助传感器的输出值之比算出时间上的光量变化率，根据算出的所述光量变化率，校正时间上的光量变化。8.如权利要求3或4所述的分光测定器，在所述受光光量调整部材的前方配置了第1辅助传感器，...

【专利技术属性】
技术研发人员：鹤谷克敏，
申请(专利权)人：柯尼卡美能达株式会社，
类型：发明
国别省市：