一种测试方法、电子设备、系统及计算机存储介质技术方案

本申请实施例公开了一种测试方法，包括：控制无线综测仪向待测终端发送传输码块，且控制频谱分析仪通过近场探头采集待测终端所产生的电信号，对电信号进行分析，得到存取控制器将传输码块存储至内存中的总时长和内存的工作时钟频率，根据预先获取到的内存的数据带宽，预设的传输码块的长度，总时长和工作时钟频率，调用预设的访存效率的计算公式，计算得到存取控制器的访存效率。本申请实施例还同时提供了一种电子设备、测试系统及计算机存储介质。质。质。

【技术实现步骤摘要】
一种测试方法、电子设备、系统及计算机存储介质


[0001]本申请涉及基带芯片中存取控制器的访问效率的测试技术，尤其涉及一种测试方法、电子设备、系统及计算机存储介质。

技术介绍

[0002]目前，双倍速率同步动态随机内存储器(Double Data Rate Synchronous Dynamic Random
‑
Access Memory，DDR)作为数据存取交互的核心，已被广泛集成于各类移动终端的片上系统(System On Chip，SOC)，DDR中的存储颗粒并不能直接和数据处理芯片进行数据交互，必须经由存取控制器进行统一管理调度。
[0003]其中，存取控制器通常会作为一个独立的知识产权核(Intellectual Property core，IP核)进行设计，对存取控制器的性能进行测试、分析和评估，然而，相关技术中，通常采用仿真软件对其进行仿真测试，或者利用测试程序对其进行测试，由于上述方法均存在一定的局限性，使得得到的测试结果均无法准确的表征存取控制器在实际场景中的性能；由此可以看出，现有的对存取控制器访存本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试方法，其特征在于，所述方法应用于电子设备中，包括：控制无线综测仪向待测终端发送传输码块，且控制频谱分析仪通过近场探头采集所述待测终端所产生的电信号；其中，所述电信号为所述待测终端的基带芯片在接收到所述传输码块之后所述基带芯片的存取控制器将所述传输码块存储至所述待测终端的内存中所产生的信号；对所述电信号进行分析，得到所述存取控制器将所述传输码块存储至所述内存中的总时长和所述内存的工作时钟频率；根据预先获取到的所述内存的数据带宽，预设的所述传输码块的长度，所述总时长和所述工作时钟频率，调用预设的访存效率的计算公式，计算得到所述存取控制器的访存效率。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制无线综测仪向待测终端发送传输码块，包括：向所述无线综测仪发送配置信息；其中，所述配置信息包括：所述无线综测仪向所述待测终端发送的所述传输码块，所述传输码块的长度以及传输所述传输码块的信道参数；控制所述无线综测仪按照所述信道参数，向所述待测终端发送所述传输码块。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述电信号进行分析，得到所述存取控制器将所述传输码块存储至所述内存中的总时长和所述内存的工作时钟频率，包括：对所述电信号中的时域信号进行分析，得到所述总时长；对所述电信号中的频域信号进行分析，得到所述工作时钟频率。4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述根据预先获取到的所述内存的数据带宽，预设的所述传输码块的长度，所述总时长和所述工作时钟频率，调用预设的访存效率的计算公式，计算得到所述存取控制器的访存效率，包括：根据所述内存的数据带宽，所述传输码块的长度，所述总时长和所述工作时钟频率，调用预设的存储的实际时长的计算公式，计算得到所述存取控制器将所述传输码块存储至所述内存中的实际时长；将所述实际时长和所述总时长的比值，确定为所述存取控制器的访存效率。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，预设的存储的实际时长的计算公式如下：其中，t
DQ
表示所述实际时长，T
P
表示所述传输码块的长度，f
CK
表示所述工作时钟频率，B
W
表示所述内存的数据带宽。6.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，预设的访存效率的计算公式如下：其中，η表示所述存取控制器的访存效率，T
P
表示所述传输码块的长度，f
CK
表示所述工作时钟频率，B
W
表示所述内存的数据带宽，t
CK
表示所述总时长。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述基带芯片对所述传输码块译码失败
时，得到所述传输码块对应的软比特码块，所述方法还包括：对所述电信号进行分析，得到所述存取控制器将所述传输码块对应的软比特码块中的一个软比特码块存储至所述内存中的所需时长；根据所需时长，调用预设的软比特压缩率的计算公式，计算得到所述基带芯片的软比特压缩率。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述根据所需时长，调用预...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡瑞韬，
申请(专利权)人：哲库科技北京有限公司，
类型：发明
国别省市：