一种磁电编码器的自校准装置制造方法及图纸

技术编号:32180548 阅读:26 留言:0更新日期:2022-02-08 15:42
本发明专利技术属于磁电编码器技术领域,具体涉及一种磁电编码器的自校准装置,包括:主动电机及安装在其上的高精度编码器,从动电机及安装在其上的待校准磁电编码器;待校准磁电编码器中的处理器用于对磁传感器输出的正余弦信号进行直流偏差和幅值偏差校准并细分解码,得到初步校准后的角度位置数据;基于该角度位置数据查找校准表以确定该角度位置数据对应的高精度角度位置数据。本发明专利技术在建立校准表的过程中,是通过监听的方式获取角度信息,并且在同步旋转的过程中完成纠偏,从而省去了传统模式中通过控制器进行纠偏的步骤,节约了成本,同时提升了校准速度,使校准过程更加高效。使校准过程更加高效。使校准过程更加高效。

【技术实现步骤摘要】
一种磁电编码器的自校准装置


[0001]本专利技术属于磁电编码器
,更具体地,涉及一种磁电编码器的自校准装置。

技术介绍

[0002]磁电编码器的基本原理是通过相关的磁传感器芯片感知转子转动时所产生的变化磁场并将其转化为模拟量的正余弦信号进行输出,之后将其送到单片机的ADC通道进行采样,对采样值进行细分解码并最终得到转子的精确位置。
[0003]高精度磁电旋转编码器可通过对测得的正余弦信号进行适当的偏差补偿以及细分解码可以得到高精度的转子角度,同时其相对于光电编码器来说成本很低且可以满足纺织、物流等多行业的精度要求。随着磁编码技术的不断创新,磁电编码器正朝着“小体积,高精度,高稳定性”的趋势不断发展进步,具有良好的发展前景。
[0004]然而,目前广泛应用的磁传感器芯片,例如AMR,GMR等,其输出的正余弦信号存在非线性因素和谐波,这会导致最终送到单片机ADC通道进行采样的正余弦信号与标准的正余弦信号之间存在偏差。同时,ADC采样的精度不够高也会给后续细分解码得到的角度数据带来误差。除此之外,如果芯片的安装位置不准确,采样本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种磁电编码器的自校准装置,其特征在于,包括:主动电机及安装在其上的高精度编码器,从动电机及安装在其上的待校准磁电编码器;所述待校准磁电编码器中的处理器用于对磁传感器输出的正余弦信号进行直流偏差和幅值偏差校准并细分解码,得到初步校准后的从动电机转子的角度位置数据;基于该角度位置数据查找校准表,以确定该角度位置数据对应的高精度角度位置数据并输出;其中,所述校准表为预先通过以下方法得到:所述从动电机与所述主动电机通过连轴相连,同步旋转;所述处理器会对所述高精度编码器向外发送的主动电机转子角度数据进行监听,得到所述待校准磁电编码器每个输出角度对应的高精度编码器的输出角度并记录,得到所述校准表,所述待校准磁电编码器每个输出角度为通过对输出的正余弦信号进行所述直流偏差和幅值偏差校准并细分解码后得到。2.根据权利要求1所述的一种高精度磁电编码器,其特征在于,所述基于该角度位置数据查找校准表,以确定该角度位置数据对应的高精度角度位置数据,具体实现方式为:将初步校准后的从动电机转子的角度位置数据记录为与预设高精度输出数据相同的位数m;将所述角度位置数据的前n位用于查校准表以获取对应的高精度编码器输出的n位数据,其中,所述校...

【专利技术属性】
技术研发人员:沈安文张津航罗欣吴向泽唐其鹏
申请(专利权)人:华中科技大学
类型:发明
国别省市:

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