显示面板及其亮度补偿方法技术

本发明专利技术提供一种显示面板及其亮度补偿方法，显示面板的每个像素单元中的多个子像素单元共用同一个感测单元，且将每个像素单元的正常显示过程和光学检测过程分开进行，在各个像素单元进行正常显示之后，使每个像素单元中的多个子像素单元依次发光，同时通过该像素单元对应的感测单元分别测量该像素单元中的多个子像素单元的实际亮度，并根据所实际亮度对各个子像素单元进行亮度补偿，以使得各个子像素单元达到目标亮度，从而使各个子像素单元的亮度均达到目标亮度，即显示面板各区域的亮度均匀，由此在对显示面板进行光学补偿时，减少了光学补偿系统中光学传感器的数量，从而简化显示面板的制造工艺，降低成本。降低成本。降低成本。

【技术实现步骤摘要】
显示面板及其亮度补偿方法


[0001]本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种显示面板及其亮度补偿方法。

技术介绍

[0002]有机发光显示二极管(OLED)作为一种电流型发光器件已越来越多地被应用于高性能显示中，OLED按照驱动方式可以分为无源矩阵型(Passive Matrix OLED，PMOLED)和有源矩阵型(Active Matrix OLED，AMOLED)两大类，即直接寻址和薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)矩阵寻址两类，其中，无源矩阵有机发光显示(PMOLED)随着显示尺寸的增大，需要更短的单个像素的驱动时间，因而需要增大瞬态电流，增加功耗，同时大电流的应用会造成ITO线上压降过大，并使OLED工作电压过高，进而降低其效率。而有源矩阵有机发光显示(AMOLED)通过开关管逐行扫描输入OLED电流，可以很好地解决这些问题。
[0003]然而，AMOLED显示面板也会由于薄膜晶体管的工艺不均匀或阈值电压漂移导致的电流差异、背板电源线的电容电阻负载导致的IR drop，以及OLED发光器件蒸镀时的膜厚不均导致的电学特性不均匀，使得各个像素的亮度出现差异，呈现显示不均匀(mura)或残影现象。因此，AMOLED显示面板一般集成了光学补偿系统，用于测量各像素的亮度，以将各像素的亮度调整为一致，但是，目前的光学补偿系统中，每个光学传感器仅对应一个子像素单元，随着显示面板尺寸的增大，像素数量急剧增加，会导致所需的光学传感器急剧增加，使得显示面板的制造工艺复杂、成本增加。
>[0004]因此，目前亟需一种显示面板及其亮度补偿方法，以尽量减少光学补偿系统中光学传感器的数量，从而简化显示面板的制造工艺，降低成本。

技术实现思路

[0005]为了解决上述问题，本专利技术实施例提供一种显示面板及其亮度补偿方法。
[0006]第一方面，本专利技术实施例提供一种显示面板，该显示面板包括多个阵列排布的像素单元，每个所述像素单元包括多个子像素单元，，所述显示面板还包括感测单元，每个所述像素单元中的多个所述子像素单元分别连接同一个所述感测单元；每个所述感测单元用于测量对应的所述像素单元中的各个所述子像素单元的实际亮度，并根据所述实际亮度对各个所述子像素单元进行亮度补偿，以使得各个所述子像素单元达到目标亮度。
[0007]在一些实施例中，每个所述子像素单元包括第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管、第三薄膜晶体管、第一存储电容和有机发光二极管；所述第一薄膜晶体管的栅极分别连接所述第二薄膜晶体管的漏极和所述第一存储电容的第一端，所述第一薄膜晶体管的源极连接电源正极，所述第一薄膜晶体管的漏极连接所述第一存储电容的第二端、所述有机发光二极管的阳极以及所述第三薄膜晶体管的源极，所述有机发光二极管的阴极连接电源负极，所述第二薄膜晶体管的栅极和第三薄膜晶体管的栅极连接第一扫描线，所述第二薄膜晶体管的源极连接数据线，所述第三薄膜晶体管的漏极连接感测线。
[0008]在一些实施例中，所述感测单元包括第四薄膜晶体管、光敏二极管和第二存储电
容，所述第四薄膜晶体管的栅极连接第二扫描线，所述第四薄膜晶体管的漏极连接所述感测线，所述第四薄膜晶体管的源极连接该所述感测单元对应的各个所述子像素单元的所述第三薄膜晶体管的漏极，所述第四薄膜晶体管的漏极连接所述光敏二极管的第一端，所述光敏二极管的第二端连接控制线，所述第二存储电容的第一端连接所述感测线。
[0009]在一些实施例中，所述感测单元包括补偿模块，所述补偿模块连接所述第二存储电容的第二端，所述补偿模块用于根据所述子像素单元的实际亮度，调整所述数据线向该所述子像素单元提供的数据电压，以使得所述子像素单元达到所述目标亮度。
[0010]在一些实施例中，所述有机发光二极管包括有机发光层，所述光敏二极管设于所述有机发光层和薄膜晶体管阵列之间，所述有机发光层出射光线至所述光敏二极管。
[0011]第二方面，本专利技术实施例还提供一种显示面板的亮度补偿方法，包括：
[0012]在所述显示面板进行预设帧图像的显示间隙，使每个像素单元中的多个子像素单元依次发光，并通过感测单元测量对应的所述像素单元中的各个所述子像素单元的实际亮度；
[0013]通过感测单元根据各个所述子像素单元的实际亮度，对各个所述子像素单元进行亮度补偿，以使得各个所述子像素单元达到目标亮度。
[0014]在一些实施例中，所述使每个像素单元中的多个子像素单元依次发光，并通过感测单元测量对应的像素单元中的各个所述子像素单元的实际亮度，具体包括：
[0015]依次使每个所述像素单元的其中一个所述子像素发光，并通过该所述像素单元对应的所述感测单元测量其中一个所述子像素的实际亮度。
[0016]在一些实施例中，所述通过感测单元根据各个所述子像素单元的实际亮度，对各个所述子像素单元进行亮度补偿，以使得各个所述子像素单元达到目标亮度，具体包括：
[0017]通过补偿模块计算各个所述子像素单元的实际亮度与目标亮度的差值，并调整数据线向各个所述子像素单元提供的数据电压，使各个所述子像素单元的实际亮度达到所述目标亮度。
[0018]在一些实施例中，所述显示面板进行每帧图像的显示，具体包括：
[0019]在复位阶段，第一扫描线打开，使第二薄膜晶体管和第三薄膜晶体管打开，以复位第一存储电容的第一端和第二端的电位；
[0020]在写入阶段，通过数据线写入数据信号，使第一薄膜晶体管打开，并向所述第一存储电容充电；
[0021]在发光阶段，利用所述第一存储电容的耦合效应，使所述第一薄膜晶体管保持打开，并通过电源正极使有机发光二极管发光。
[0022]在一些实施例中，所述通过感测单元测量对应的像素单元中的各个所述子像素单元的实际亮度，还包括：
[0023]在所述发光阶段之后进行感测阶段，所述第一扫描线关闭，使所述第二薄膜晶体管和所述第三薄膜晶体管关闭；所述第二扫描线打开，使第四薄膜晶体管打开，以利用感测单元测量对应的所述像素单元中的各个所述子像素单元的实际亮度。
[0024]本专利技术实施例提供的显示面板及其亮度补偿方法中，显示面板的每个像素单元中的多个子像素单元共用同一个感测单元，将每个像素单元的正常显示过程和光学检测过程分开进行，在各个像素单元进行正常显示之后，使每个像素单元中的多个子像素单元依次
发光，同时通过该像素单元对应的感测单元分别测量该像素单元中的多个子像素单元的实际亮度，并根据所实际亮度对各个子像素单元进行亮度补偿，以使得各个子像素单元达到目标亮度，从而使各个子像素单元的亮度均达到目标亮度，即显示面板各区域的亮度均匀，由此在OLED显示面板由于各驱动晶体管的迁移率不一致或阈值电压漂移，又或者是有机发光二极管OLED老化而出现显示不均匀或残影等现象，需要对显示面板进行光学补偿时，减少了光学补偿系统中感测单元的数量，从而简化显示面板的制造工艺，降低成本。
附图说明
[0025]下面结合附图，通过本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板，包括多个阵列排布的像素单元，每个所述像素单元包括多个子像素单元，其特征在于，所述显示面板还包括感测单元，每个所述像素单元中的多个所述子像素单元分别连接同一个所述感测单元；每个所述感测单元用于测量对应的所述像素单元中的各个所述子像素单元的实际亮度，并根据所述实际亮度对各个所述子像素单元进行亮度补偿，以使得各个所述子像素单元达到目标亮度。2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，每个所述子像素单元包括第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管、第三薄膜晶体管、第一存储电容和有机发光二极管；所述第一薄膜晶体管的栅极分别连接所述第二薄膜晶体管的漏极和所述第一存储电容的第一端，所述第一薄膜晶体管的源极连接电源正极，所述第一薄膜晶体管的漏极连接所述第一存储电容的第二端、所述有机发光二极管的阳极以及所述第三薄膜晶体管的源极，所述有机发光二极管的阴极连接电源负极，所述第二薄膜晶体管的栅极和第三薄膜晶体管的栅极连接第一扫描线，所述第二薄膜晶体管的源极连接数据线，所述第三薄膜晶体管的漏极连接感测线。3.如权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述感测单元包括第四薄膜晶体管、光敏二极管和第二存储电容，所述第四薄膜晶体管的栅极连接第二扫描线，所述第四薄膜晶体管的漏极连接所述感测线，所述第四薄膜晶体管的源极连接所述光敏二极管的第一端，所述光敏二极管的第二端连接控制线，所述第二存储电容的第一端连接所述感测线。4.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述感测单元还包括补偿模块，所述补偿模块连接所述第二存储电容的第二端，所述补偿模块用于根据所述子像素单元的实际亮度，调整所述数据线向该所述子像素单元提供的数据电压，以使得所述子像素单元达到所述目标亮度。5.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述有机发光二极管包括有机发光层，所述光敏二极管设于所述有机发光层和薄膜晶体管阵列之间，所述有机发光层出射光线至所述光敏二极管。6.一种显示面板的亮度补偿方法，用于权利要求1
‑
5任一项所述的显示面板，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：付昭鸿，罗心颖，高国卿，王怀玉，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：