采用TEOS源PECVD生长氧化硅厚膜的方法技术

技术编号:3216902 阅读:448 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种采用TEOS源PECVD生长氧化硅厚膜的方法,清洗硅片表面,将硅片放入反应室;采用He作携带气体,用固泡法将TEOS和H↓[2]O携带进入反应室;通过水浴加热装置,使TEOS恒温在30℃-50℃,H↓[2]O恒温在20℃-30℃;对氧化硅进行高温退火。采用TEOS源CVD技术生长SiO↓[2],其膜厚度均匀(±1.5%,2英寸衬底);折射率可控制在1.453±0.001内,折射率稳定,且退火后不会改变;与高温退火技术相结合,可进行厚膜生长。整个生长工艺与硅工艺兼容。(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于半导体材料,特别是生长氧化硅厚膜的方法。波分复用技术(WDM)是解决宽带、大容量光纤网络通信的一种有效方法。复用/解复用器是构成WDM系统的关键器件。现在实用的复用器件已经开发研制出来,它们包括干涉过滤器,光纤光栅和平面光波回路器件等。然而在通道数不断增加的情况下,干涉过滤器,光纤光栅等器件变得异常复杂,且损耗随通道数增大而迅速增加,出现通道损耗的严重不均衡。基于阵列波导光栅(AWG)的平面波导复用/解复用器,此时最具有吸引力。通过设计可以得到大通道数、通带响应平坦、通道间隔可以相同或不同、带宽可以改变等优秀性能。AWG器件已经成功地应用到WDM系统中,并已商品化,见Electron.Lett.,Vol.32,pp.1474-14761996。基于氧化硅的AWG器件大多采用与光纤匹配的波导结构,这样器件的传输损耗很低且其光纤耦合效率高。目前性能最好的AWG器件在氧化硅/硅上获得(已报道128路),插入损耗只有3-5dB,氧化硅器件的串扰优于-30dB。氧化硅波导器件应用于光通讯领域中,要求氧化硅平面波导模式与光纤相匹配。目前采用的单模光纤芯区尺寸约为6微米,制备氧本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种采用TEOS源PECVD生长氧化硅厚膜的方法,包括步骤:(1) 清洗硅片表面,将硅片放入反应室;(2) 通过水浴加热装置,使TEOS恒温在30℃-50℃,H2O恒温在20℃-30℃;(3) 采用He作携带气体,用固泡法将TE OS和H↓[2]O携带进入反应室,在等离子体的作用下,水解缩合成氧化硅薄膜;(4) 对氧化硅进行高温退火。

【技术特征摘要】
1.一种采用TEOS源PECVD生长氧化硅厚膜的方法,包括步骤(1)清洗硅片表面,将硅片放入反应室;(2)通过水浴加热装置,使TEOS恒温在30℃-50℃,H2O恒温在20℃-30℃;(3)采用He作携带气体,用固泡法将TEOS和H2O携带进入反应室,在等离子体的作用下,水解缩合成氧化硅薄膜;(4)对氧化硅进行高温退火。2.按权利要求1所述的方法,其特征在于反应...

【专利技术属性】
技术研发人员:雷红兵王红杰胡雄伟邓晓清王启明
申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]

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