BMC的I2C监控功能测试方法、系统、终端及存储介质技术方案

本发明专利技术提供一种BMC的I2C监控功能测试方法、系统、终端及存储介质，包括：查询I2C总线的寄存器地址，并根据寄存器地址读取寄存器的时钟值；通过修改时钟值模拟I2C总线异常；监控基板管理控制器的是否在I2C总线异常状态下同步生成告警日志，若是，则判定测试通过。本发明专利技术可快速准确模拟I2C通道连通性异常及恢复的情况，有利于提高测试效率，减少资源浪费，有利于提高产品质量，符合公司利益及客户期望。符合公司利益及客户期望。符合公司利益及客户期望。

【技术实现步骤摘要】
BMC的I2C监控功能测试方法、系统、终端及存储介质


[0001]本专利技术涉及服务器测试
，具体涉及一种BMC的I2C监控功能测试方法、系统、终端及存储介质。

技术介绍

[0002]在IPMI管理平台中，BMC(Baseboard Management Controller，因为多集成于主板而得名)是核心控制器，系统管理软件对各个被管理器件的管理，都是通过与BMC通信来实现的。BMC与主处理器和板上各元件相连接，监控并且在一定程度上管理各物理组件的状态。
[0003]I2C总线是服务器BMC嵌入式系统中最为常用的串行总线，BMC对其他硬件设备监控功能很多都是通过I2C通信实现的，I2C协议的优点是兼容性好，管脚占用少，芯片实现简单，但实际使用过程中问题也很多，最为常见的就是I2C总线挂死，如果当出现I2C总线连通性异常的情况，BMC要及时监控并详细记录对应I2C通道异常的告警日志，便于及时发现和解决问题。
[0004]目前关于BMC监控所有I2C通道连通性的测试，主要是通过在服务器主板上飞线的方法进行模拟触发I2C通道连通性异常。该方法需要硬件设计工程师对服务器主板上所有I2C通道进行焊线处理。该方法不仅工作量大，效率低，而且测试过程中容易出现抖动，造成误报现象，使得测试准确性变差，且飞线后的主板大概率不能继续使用，造成资源浪费。

技术实现思路

[0005]针对现有技术的上述不足，本专利技术提供一种BMC的I2C监控功能测试方法、系统、终端及存储介质，以解决上述技术问题。/>[0006]第一方面，本专利技术提供一种BMC的I2C监控功能测试方法，包括：
[0007]查询I2C总线的寄存器地址，并根据寄存器地址读取寄存器的时钟值；
[0008]通过修改时钟值模拟I2C总线异常；
[0009]监控基板管理控制器的是否在I2C总线异常状态下同步生成告警日志，若是，则判定测试通过。
[0010]进一步的，查询I2C总线的寄存器地址，并根据寄存器地址读取寄存器的时钟值，包括：
[0011]根据I2C总线的配置文件查询I2C总线的寄存器地址；
[0012]远程登录基板管理控制器，通过基板管理控制器根据寄存器地址从寄存器读取时钟值；
[0013]判断时钟值是否为正常值，若否，则生成报错提示并终止测试。
[0014]进一步的，通过修改时钟值模拟I2C总线异常，包括：
[0015]将时钟值的比特位下的正常值修改为异常值；
[0016]修改完成后将本次异常模拟操作和相应的修改时间写入测试日志。
[0017]进一步的，监控基板管理控制器的是否在I2C总线异常状态下同步生成告警日志，若是，则判定测试通过，包括：
[0018]设置基板管理控制器的告警信息存储地址为测试日志的地址，以使基板管理控制器将生成的告警信息写入测试日志；
[0019]提取测试日志中的异常模拟操作的修改时间，根据修改时间和设定的误差范围生成告警时间范围；
[0020]判断测试日志中是否存在告警时间范围内的告警信息，若存在则判定测试通过。
[0021]进一步的，方法还包括：
[0022]将时钟值的比特位下的异常值恢复为正常值；
[0023]修改完成后将本次异常恢复操作和相应的修改时间写入测试日志；
[0024]提取测试日志中的异常恢复操作的修改时间，根据异常恢复操作的修改时间和设定的误差范围生成告警恢复时间范围；
[0025]判断在告警恢复时间范围内，测试日志中的告警信息是否消失，若告警信息消失则判定测试通过。
[0026]第二方面，本专利技术提供一种BMC的I2C监控功能测试系统，包括：
[0027]地址查询单元，用于查询I2C总线的寄存器地址，并根据寄存器地址读取寄存器的时钟值；
[0028]异常模拟单元，用于通过修改时钟值模拟I2C总线异常；
[0029]告警监控单元，用于监控基板管理控制器的是否在I2C总线异常状态下同步生成告警日志，若是，则判定测试通过。
[0030]进一步的，地址查询单元用于：
[0031]根据I2C总线的配置文件查询I2C总线的寄存器地址；
[0032]远程登录基板管理控制器，通过基板管理控制器根据寄存器地址从寄存器读取时钟值；
[0033]判断时钟值是否为正常值，若否，则生成报错提示并终止测试。
[0034]进一步的，异常模拟单元用于：
[0035]将时钟值的比特位下的正常值修改为异常值；
[0036]修改完成后将本次异常模拟操作和相应的修改时间写入测试日志。
[0037]进一步的，告警监控单元用于：
[0038]设置基板管理控制器的告警信息存储地址为测试日志的地址，以使基板管理控制器将生成的告警信息写入测试日志；
[0039]提取测试日志中的异常模拟操作的修改时间，根据修改时间和设定的误差范围生成告警时间范围；
[0040]判断测试日志中是否存在告警时间范围内的告警信息，若存在则判定测试通过。
[0041]进一步的，系统还用于：
[0042]将时钟值的比特位下的异常值恢复为正常值；
[0043]修改完成后将本次异常恢复操作和相应的修改时间写入测试日志；
[0044]提取测试日志中的异常恢复操作的修改时间，根据异常恢复操作的修改时间和设定的误差范围生成告警恢复时间范围；
[0045]判断在告警恢复时间范围内，测试日志中的告警信息是否消失，若告警信息消失则判定测试通过。
[0046]第三方面，提供一种终端，包括：
[0047]处理器、存储器，其中，
[0048]该存储器用于存储计算机程序，
[0049]该处理器用于从存储器中调用并运行该计算机程序，使得终端执行上述的终端的方法。
[0050]第四方面，提供了一种计算机存储介质，计算机可读存储介质中存储有指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述各方面的方法。
[0051]本专利技术的有益效果在于，本专利技术提供的BMC的I2C监控功能测试方法、系统、终端及存储介质，通过查询I2C总线的寄存器地址，并根据寄存器地址读取寄存器的时钟值，然后通过修改时钟值模拟I2C总线异常，与此同时，监控基板管理控制器的是否在I2C总线异常状态下同步生成告警日志，如果BMC同步生成告警日志则判定测试通过。本专利技术可快速准确模拟I2C通道连通性异常及恢复的情况，有利于提高测试效率，减少资源浪费，有利于提高产品质量，符合公司利益及客户期望。
[0052]此外，本专利技术设计原理可靠，结构简单，具有非常广泛的应用前景。
附图说明
[0053]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种BMC的I2C监控功能测试方法，其特征在于，包括：查询I2C总线的寄存器地址，并根据寄存器地址读取寄存器的时钟值；通过修改时钟值模拟I2C总线异常；监控基板管理控制器的是否在I2C总线异常状态下同步生成告警日志，若是，则判定测试通过。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，查询I2C总线的寄存器地址，并根据寄存器地址读取寄存器的时钟值，包括：根据I2C总线的配置文件查询I2C总线的寄存器地址；远程登录基板管理控制器，通过基板管理控制器根据所述寄存器地址从寄存器读取时钟值；判断所述时钟值是否为正常值，若否，则生成报错提示并终止测试。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，通过修改时钟值模拟I2C总线异常，包括：将时钟值的比特位下的正常值修改为异常值；修改完成后将本次异常模拟操作和相应的修改时间写入测试日志。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，监控基板管理控制器的是否在I2C总线异常状态下同步生成告警日志，若是，则判定测试通过，包括：设置基板管理控制器的告警信息存储地址为测试日志的地址，以使基板管理控制器将生成的告警信息写入所述测试日志；提取测试日志中的异常模拟操作的修改时间，根据所述修改时间和设定的误差范围生成告警时间范围；判断所述测试日志中是否存在所述告警时间范围内的告警信息，若存在则判定测试通过。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：将时钟值的比特位下的异常值恢复为正常值；修改完成后将本次异常恢复操作和相应的修...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄岚岚，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：