一种微颗粒片上偏振传感器制造技术

本发明专利技术公开了一种微颗粒片上偏振传感器，其特征在于，包括半波片、聚焦物镜、双光子聚合微结构、成像物镜、滤光片、偏振片、透镜和成像设备；其中，经半波片调节的线偏振激励光束入射到所述聚焦物镜；所述聚焦物镜用于将输入的线偏振激励光束汇聚到所述双光子聚合微结构；所述双光子聚合微结构用于基于入射光束激励产生三次谐波作为样品的光源，对样品进行成像；所述成像物镜用于接收样品的成像光束并进行样品不同位置成像，输入所述滤光片；所述滤光片用于对输入光束进行滤波，去除线偏振激励光，并将得到的三次谐波经所述偏振片输入到所述透镜；所述偏振片用于分析三次谐波的偏振态；所述透镜用于对输入光束汇聚入射到所述成像设备进行成像。像设备进行成像。像设备进行成像。

【技术实现步骤摘要】
一种微颗粒片上偏振传感器


[0001]本专利技术属于集成电路、光学芯片设计与研制领域，具体涉及一种基于双光子聚合结构表面三次谐波的微颗粒片上偏振传感器。

技术介绍

[0002]光的特点是有振幅、频率、相干性和偏振性。偏振在成像技术中很受关注，可以描述光电场振荡及其状态量度，从遥感到显微镜的使用再到工业监测都有广泛的应用。光的偏振状态对反射面的纹理和形状非常敏感，偏振信息为机器视觉和特征识别提供了新的策略。偏振信息可用于增强图像的对比度和清晰度，当过强或过弱能量进入传感器时其滤波特性可以提高收集的数据的精度，例如镜面重建和植被阴影区遥感。此外，偏振传感还可以与其他光学技术相结合，实现更复杂、更有前景的应用，如用于目标检测的多波段偏振成像、用于精确计量的偏振相关横向剪切干涉仪和用于分析样品结构的光学谐波产生偏振显微镜。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种基于双光子聚合结构表面三次谐波的微颗粒片上偏振传感器。
[0004]光谐波的产生可用于生成新的波长。由于古依相移，三次谐波(TH)在具有聚焦激发的均匀介质本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微颗粒片上偏振传感器，其特征在于，包括半波片、聚焦物镜、双光子聚合微结构、成像物镜、滤光片、偏振片、透镜和成像设备；其中，经半波片调节的线偏振激励光束入射到所述聚焦物镜；所述聚焦物镜用于将输入的线偏振激励光束汇聚到所述双光子聚合微结构；所述半波片用于控制线偏振激励光束的偏振状态；所述双光子聚合微结构用于基于入射光束激励产生三次谐波作为样品的光源，对样品进行成像；所述成像物镜用于接收样品的成像光束并进行样品不同位置成像，输入所述滤光片；所述滤光片用于对输入光束进行滤波，去除线偏振激励光，并将得到的三次谐波经所述偏振片输入到所述透镜；所述偏振片用于分析三次谐波的偏振态；所述透...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵海盟，焦健楠，
申请(专利权)人：桂林航天工业学院，
类型：发明
国别省市：