一种可调式微短压降产生装置，包含第一与一第二输出端，直流输入电源，其一端电连接于所述第一输出端，其另一端接地且电连接于所述第二输出端，固定值电容，其一端电连接于所述第一输出端，可调限流电阻，其一端电连接于所述固定值电容的另一端，开关，其一端电连接于所述可调限流电阻的另一端，其另一端接地，以及可调直流电压源，具第一端电连接于所述固定值电容的另一端，及另一端接地，且用以产生可调电压，俾藉调整所述可调电压，在所述第一输出端与所述所述第二输出端间产生可调压降。出端与所述所述第二输出端间产生可调压降。出端与所述所述第二输出端间产生可调压降。
【技术实现步骤摘要】
电容测试系统及可调式微短压降产生装置
[0001]本专利技术涉及一种电容测试系统，所述系统包含可调式微短压降产生装置与电容测试装置，其中所述电容测试装置是用于检测待测电容是否具有微短路缺陷，而所述可调式微短压降产生装置是用于产生可调压降，用以输入至所述电容测试装置，以检测所述电容测试装置是否运作正常。
技术介绍
[0002]当前在检测电路板上两根金属线间耦合电容时，常会遭遇微短路(Micro short)的现象，即两根相邻金属线间有微小的电阻值(例如10mΩ或100mΩ)，当加上直流电压一段时间后，所述两相邻金属线有可能相互导通，而产生电压降，此时所述两相邻金属线间具有微短路。例如，导电性阳极细丝物(CAF(Conductive Anodic Filament)，或称阳极性玻璃纤维丝漏电现象)即为电路板上的微短路。
[0003]用于检测两根金属线间耦合电容的微短路缺陷的电容测试装置的重要性自不待言，但如何确保所述电容测试装置运作正常，亦是一值得深思的问题。
[0004]职是的故，专利技术人鉴于习知技术的缺失，乃思及改良专利技术的意念，终能专利技术出本案的“电容测试系统及可调式微短压降产生装置”。
技术实现思路
[0005]本专利技术的主要目的在于提供一种电容测试系统，包含可调式微短压降产生装置与电容测试装置，其中所述电容测试装置是用以判断电路板的相邻两线路间的耦合电容在充电过程中，是否会产生微小的压降，当所述耦合电容在所述充电过程中产生了所述微小的压降时，则所述相邻二线路间存在微短路的缺陷；而所述可调式微短压降产生装置是用于产生可调压降，且使所述电容测试装置接收所述可调压降以检测所述电容测试装置是否运作正常。
[0006]本案的又一主要目的在于提供一种电容测试系统，包含可调式微短压降产生装置，包括可调限流电阻，具第一端与第二端，开关，具第一端与第二端，其中所述开关的所述第二端接地，且所述开关的所述第一端电连接于所述可调限流电阻的所述第二端，可调直流电源，具第一端与第二端，其中所述可调直流电源的所述第一端电连接于所述可调限流电阻的所述第一端，且所述可调直流电源的所述第二端接地，固定值电容，具第一端与第二端，其中所述固定值电容的所述第二端电连接于所述可调直流电源的所述第一端与所述可调限流电阻的所述第一端，以及直流输入电源，具第一端与第二端，其中所述直流输入电源的所述第一端电连接于所述固定值电容的所述第一端，所述直流输入电源的所述第二端接地，且所述产生装置是用于在所述固定值电容的所述第一端与所述接地间产生可调压降，以及电容测试装置，与所述可调式微短压降产生装置耦接，用以接收所述可调压降以检测所述电容测试装置。
[0007]本案的下一主要目的在于提供一种可调式微短压降产生装置，包含第一与第二输
出端，直流输入电源，其一端电连接于所述第一输出端，其另一端接地且电连接于所述第二输出端，固定值电容，其一端电连接于所述第一输出端，一可调限流电阻，其一端电连接于所述固定值电容的另一端，开关，其一端电连接于所述可调限流电阻的另一端，其另一端接地，以及可调直流电压源，具第一端电连接于所述固定值电容的另一端，及另一端接地，且用以产生可调电压，俾藉调整所述可调电压，在所述第一输出端与所述所述第二输出端间产生可调压降。
附图说明
[0008]图1是显示依据本专利技术构想的优选实施例的可调式微短压降产生装置的电路图。
[0009]图2是显示依据本专利技术构想的优选实施例的电容测试装置用于检测待测电容时的电路示意图。
[0010]图3是显示依据本专利技术构想的优选实施例的电容测试系统的电路示意图。
[0011]图4(a)是显示依据本专利技术构想的优选实施例的可调式微短压降产生装置于其输出端产生可调压降的第一波形图。
[0012]图4(b)是显示依据本专利技术构想的优选实施例的可调式微短压降产生装置于其输出端产生可调压降的第二波形图。
具体实施方式
[0013]图1是显示依据本专利技术构想的优选实施例的可调式微短压降产生装置的电路图。在图1中，可调式微短压降产生装置11包括具第一端与第二端的可调限流电阻R
x
，具第一端与第二端的开关SW1，其中所述开关SW1的所述第二端接地，且所述开关SW1的所述第一端电连接于所述可调限流电阻R
x
的所述第二端，一具第一端与第二端的可调直流电源(其为可调直流电压源)V
x
，其中所述可调直流电源V
x
的所述第一端电连接于所述可调限流电阻R
x
的所述第一端，且所述可调直流电源V
x
的所述第二端接地，一具第一端与第二端的固定值电容C1，其中所述固定值电容C1的所述第二端电连接于所述可调直流电源V
x
的所述第一端与所述可调限流电阻R
x
的所述第一端，以及一具第一端与第二端的直流输入电源V
S
，其中所述直流输入电源V
S
的所述第一端电连接于所述固定值电容C1的所述第一端，所述直流输入电源V
S
的所述第二端接地，且所述产生装置11是用于在所述固定值电容C1的所述第一端与所述接地间产生可调压降。所述可调压降是任意大小的正值，代表电容压降，且所述电容压降作为电容变异检查的测试信号，以测试所述电容测试装置的运作是否正常。
[0014]如图1所示，所述直流输入电源V
S
具有第一等效内阻R1，电连接于所述固定值电容C1的所述第一端与所述直流输入电源V
S
的所述第一端间，所述可调直流电源V
x
具有第二等效内阻R2，电连接于所述固定值电容C1的所述第二端与所述可调直流电源V
x
的所述第一端间，调整所述可调直流电源V
x
大小以调整所述电容压降大小，所述开关是双极晶体管(BJT)或场效晶体管(FET)，调整所述开关的速度以调整所述电容压降的一产生速度，所述可调限流电阻是用以调整所述电容压降的信号强弱，当所述开关导通时，产生所述电容压降，且所述电容压降是所述直流输入电源与所述可调直流电源间的电压差。
[0015]图2是显示依据本专利技术构想的优选实施例的电容测试装置用于检测待测电容时的电路示意图。在图2中，所述电容测试装置12用于检测待测电容C
in
。所述待测电容C
in
可为电
路板上两金属线间的耦合电容。所述待测电容C
in
是并联电连接于直流输入电源(提供输入电压V
in
)与所述电容测试装置12间。所述电容测试装置12是用以判断电路板的相邻两线路间的耦合电容在充电过程中，是否会产生微小的压降，俾据以判断所述两线路间是否存在一微短路的缺陷。当所述待测电容(例如所述耦合电容)在所述充电过程中，产生所述微小的压降时，则知所述两线路间存在微短路的缺陷。
[0016]图3是显示依据本专利技术构想的优选实施例的电容测试系统的电路示意图。在本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电容测试系统，包含：可调式微短压降产生装置，包括：可调限流电阻，具第一端与第二端；开关，具第一端与第二端，其中所述开关的所述第二端接地，且所述开关的所述第一端电连接于所述可调限流电阻的所述第二端；可调直流电源，具第一端与第二端，其中所述可调直流电源的所述第一端电连接于所述可调限流电阻的所述第一端，且所述可调直流电源的所述第二端接地；固定值电容，具第一端与第二端，其中所述固定值电容的所述第二端电连接于所述可调直流电源的所述第一端与所述可调限流电阻的所述第一端；以及直流输入电源，具第一端与第二端，其中所述直流输入电源的所述第一端电连接于所述固定值电容的所述第一端，所述直流输入电源的所述第二端接地，且所述产生装置是用于在所述固定值电容的所述第一端与所述接地间产生可调压降；以及电容测试装置，与所述可调式微短压降产生装置耦接，用以接收所述可调压降以检测所述电容测试装置。2.根据权利要求1所述的电容测试系统，其中所述可调压降是任意大小的正值，代表电容压降，且所述电容压降作为电容变异检查的测试信号，以测试所述电容测试装置的运作是否正常。3.根据权利要求2所述的电容测试系统，其中所述电容测试装置是用以判断电路板的相邻两线路间的耦合电容在充电过程中，是否会产生微小的压降，俾据以判断所述两线路间是否存在微短路的缺陷。4.根据权利要求3所述的电容测试系统，其中当所述电容测试装置感测到所述耦合电容在所述充电过程中产生了所述微小的压降，且所述微小的压降为正值时，则所述相邻二线路间存在所述微短路的缺陷。5.根据权利要求3所述的电容测试系统，其中当所述电容测试装置接收所述可调式微短压降产生装置所产生的所述电容压降，且所述电容测试装置输出高电位，代表侦测到所述微短路的缺陷，则所述电容测试装置的所述运作是正常的；以及当所述电容测试装置接收所述可调式微短压降产生装置所产生的所述电容压降，且所述电容测试装置输出低电位，代表未侦测到所述微短路的缺陷，则所述电容测试装置的所述运作是不正常...
【专利技术属性】
技术研发人员：许哲嘉，
申请(专利权)人：兴城科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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