一种辐射测温仪校准架制造技术

本发明专利技术涉及平衡校准设备技术领域，且公开了一种辐射测温仪校准架，所述支架的顶端活动连接有第一基座，所述第一基座的内部活动连接有第一调节把手，所述第一基座的上表面活动连接有第二调节把手，所述第一基座的表面活动连接有第三调节把手，所述支架的下端一侧滑动连接在滑台的内部，另一侧活动连接在安装在固定座的上表面的调节底脚内部，所述固定座的第一侧边上开设有一个螺纹孔，在相邻该侧边的第二侧边上开设有两个螺纹孔，所述第一基座上开设有多个通孔，所述通孔由所述滑动槽向下贯穿锁住第一基座，通过在支架上设置调节底脚，使得本装置的高度可调；通过多个距离调节组件，使得本装置三维空间位置可直线调整。得本装置三维空间位置可直线调整。得本装置三维空间位置可直线调整。

【技术实现步骤摘要】
一种辐射测温仪校准架


[0001]本专利技术涉及平衡校准设备
，具体为一种辐射测温仪校准架。

技术介绍

[0002]辐射温度计属非接触式测温仪表，是基于物体的热辐射特性与温度之间的对应关系设计而成。其特点为：测温范围广，原理结构复杂；测量时，感温元件不与被测对象直接接触，不破坏被测对象的温度场；通常用来测定1000℃以上的移动、旋转或反应迅速的高温物体的温度或表面温度；但不能直接测被测对象的真实温度，且所测温度受物体发射率、中间介质和测量距离等因素影响；
[0003]1.使用者局限性：
[0004]目前辐射测温仪夹具本质是一个桌子，只能通过手动控制测温仪的摆放位置、摆放位置和照射角度都无法达到精准固定。影响辐射测温仪的校定精准度；
[0005]2.测试局限性：
[0006]无法确保在同一距离，同一水平面测试，无法确保测试的结果的准确性
[0007]本专利技术，通过辐射测温仪与黑体辐射源高度位置和水平位置需要进行一定的微调对设备进行固定(调试距离和角度)，来确保仪器在同一位置进行测试，进而也消除了使用者无法精准定位对测试结果的影响。

技术实现思路

[0008]本专利技术的目的在于针对现有技术的不足之处，提供一种辐射测温仪校准架，以解决
技术介绍
中提出的问题。
[0009]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种辐射测温仪校准架，包括固定座，所述固定座的上表面固定连接有滑台，所述滑台的内部滑动连接有支架，所述支架的顶端活动连接有第一基座，所述第一基座的内部活动连接有第一调节把手，所述第一基座的上表面活动连接有第二调节把手，所述第一基座的表面活动连接有第三调节把手。
[0010]作为本专利技术的优选技术方案，所述支架的下端一侧滑动连接在滑台的内部，另一侧活动连接在安装在固定座的上表面的调节底脚内部，最大限度加强了对整体装置的控制能力，保证了整体装置的实用性。
[0011]作为本专利技术的优选技术方案，所述固定座的第一侧边上开设有一个螺纹孔，在相邻该侧边的第二侧边上开设有两个螺纹孔，有效的加强了对各个构件的稳定性，同时加强了对整体装置的支撑力度。
[0012]作为本专利技术的优选技术方案，所述固定座为中空的矩形框架，更好的加强了整体装置的灵活性，提高了使用感受。
[0013]作为本专利技术的优选技术方案，所述第一基座上开设有多个通孔，所述通孔由所述滑动槽向下贯穿锁住第一基座，有效的加强了整体装置的使用效果，增加了使用的便捷性。
[0014]与现有技术相比，本专利技术提供了一种辐射测温仪校准架，具备以下有益效果：
[0015]1、该辐射测温仪校准架，通过在支架上设置调节底脚，使得本装置的高度可调；通过多个距离调节组件，使得本装置三维空间位置可直线调整；
[0016]2、该辐射测温仪校准架，通过高精度红外距离测量装置可精确测量辐射测温仪与黑体辐射源之间的距离。
附图说明
[0017]图1为本专利技术整体外观结构直视示意图；
[0018]图2为本专利技术整体外观结构左视示意图；
[0019]图3为本专利技术整体外观结构右视示意图；
[0020]图4为本专利技术整体外观结构前视示意图；
[0021]图5为本专利技术整体外观结构俯视示意图；
[0022]图6为本专利技术整体外观结构仰视示意图。
[0023]图中：1、固定座；2、滑台；3、支架；4、第一调节把手；5、第二调节把手；6、第三调节把手；7、第一基座。
具体实施方式
[0024]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0025]请参阅图1
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6，本实施方案中：一种辐射测温仪校准架，包括固定座1，固定座1的上表面固定连接有滑台2，加强了对整体装置的控制能力，滑台2的内部滑动连接有支架3，加强了对各个构件的稳定性，支架3的顶端活动连接有第一基座7，加强了整体装置的灵活性，第一基座7的内部活动连接有第一调节把手4，加强了整体装置的使用效果，第一基座7的上表面活动连接有第二调节把手5，保护了整体装置的使用不受影响，第一基座7的表面活动连接有第三调节把手6，增加了使用的便捷性。
[0026]本实施例中，支架3的下端一侧滑动连接在滑台2的内部，另一侧活动连接在安装在固定座1的上表面的调节底脚内部，更好的增强了整体装置的灵活性，保证了在拆卸后再次安装时仍然能够正常使用；固定座1的第一侧边上开设有一个螺纹孔，在相邻该侧边的第二侧边上开设有两个螺纹孔，加强了整体运行时的使用效果，最大限度的避免了可能在使用过程中所发生的意外事故；固定座1为中空的矩形框架，更好的保持了整体装置在工作时的平衡性，加强了整体装置的实用效果；第一基座7上开设有多个通孔，通孔由滑动槽向下贯穿锁住第一基座7，有效的加强了整体装置的平衡效果，避免了不同方向的受力不均匀，保证了整体装置的实用性。
[0027]本专利技术的工作原理及使用流程：在使用时，请参阅图1
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6，距离调节组件设置在支架上，距离调节组件包括固定座1和滑台2在该两个螺纹孔内分别设有第二调节把手5和第三调节把手6，每个调节把手均安装一伸入固定座内的螺纹调节杆，每个螺纹调节杆前端安装一导向柱，滑台2卡设在三个导向柱之间，在第二侧边的两个螺纹孔之间设有一导向孔，在导向孔上贯穿安装一锁紧柱，该锁紧柱的一端与滑台2连接，另一端露出固定座1，距离调
节组件还包固定组件：设置有滑动槽；螺杆，螺杆穿设过滑动槽，且螺杆的两端固定在第一基座7上；以及滑块，滑块位于滑动槽内，且滑块螺纹连接在螺杆上；螺杆作用在滑块上，并通过滑块使固定组件上的测温仪移动，距离调节组件上还包括：高精度红外距离测量装置，可精确测量辐射测温仪与黑体辐射源之间的距离。
[0028]以上，仅为本专利技术较佳的具体实施方式，但本专利技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本专利技术揭露的技术范围内，根据本专利技术的技术方案及其专利技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本专利技术的保护范围之内。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种辐射测温仪校准架，包括固定座，其特征在于：所述固定座的上表面固定连接有滑台，所述滑台的内部滑动连接有支架，所述支架的顶端活动连接有第一基座，所述第一基座的内部活动连接有第一调节把手，所述第一基座的上表面活动连接有第二调节把手，所述第一基座的表面活动连接有第三调节把手。2.根据权利要求1所述的一种辐射测温仪校准架，其特征在于：所述支架的下端一侧滑动连接在滑台的内部，另一侧活动连接在安装在固...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹平，
申请(专利权)人：苏州莱测检测科技有限公司，
类型：发明
国别省市：