一种称量盘及具有所述称量盘的质量比较器制造技术

本发明专利技术公开了一种称量盘及具有所述称量盘的质量比较器，用于减小被检砝码加载在质量比较器上的质量值，从而实现用载荷较小的小分度值的质量比较器对大质量砝码的检定。包括：第一秤盘，位于第一平面，为环状秤盘，用于放置第一砝码；第二秤盘，通过垂直于所述第一平面的连接杆固定，用于放置第二砝码；所述第二秤盘在所述第一平面的投影，位于所述第一秤盘在所述第一平面的投影形成的内圆区域；杠杆组件，包括多个杠杆，所述杠杆包括支撑杆以及与所述支撑杆垂直连接的支点，所述第一秤盘连接有所述支撑杆的一端，所述第二秤盘连接有所述支撑杆的另一端，所述第一秤盘和所述第二秤盘位于所述支点的两侧。位于所述支点的两侧。位于所述支点的两侧。

【技术实现步骤摘要】
一种称量盘及具有所述称量盘的质量比较器


[0001]本专利技术涉及计量检测
，特别涉及一种称量盘及具有所述称量盘的质量比较器。

技术介绍

[0002]砝码检定/校准需依据国家计量检定规程JJG99
‑
2006《砝码检定规程》执行，通过高等级砝码与低等级砝码比较的方式，确定低等级砝码是否合格，以及低等级砝码的实际质量值。在实际应用中，通过比较被检砝码与相对被检砝码所在砝码等级的高等级的标准砝码之间的质量值的差值，确定被检砝码的实际质量值。在比较被检砝码和标准砝码质量值的差值时，需要用到衡量仪器，例如机械天平、电子天平或质量比较器。
[0003]但是在进行差值的衡量时，通常要求机械天平、电子天平或质量比较器的最大称量大于被检砝码的质量，最小分度值远小于被检砝码的最大允许误差，特别是对于准确度等级较高的砝码，要求分度数(分度数＝最大称量/分度值)极大才能满足衡量需求。可以满足相应要求的机械天平稳定性、适用性较差，已基本淘汰，电子天平或质量比较器则受传感器技术水平的制约，测量稳定性较差，而且造价高昂，且国内没有生产能力。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种称量盘及具有所述称量盘的质量比较器，用于减小被检砝码加载在质量比较器上的质量值，从而实现用低载荷小分度值的质量比较器对大质量砝码的检定。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供的一种称量盘，包括：
[0006]第一秤盘，位于第一平面，为环状秤盘，用于放置第一砝码；
[0007]第二秤盘，通过垂直于所述第一平面的连接杆固定，用于放置第二砝码；所述第二秤盘在所述第一平面的投影，位于所述第一秤盘在所述第一平面的投影形成的内圆区域；
[0008]杠杆组件，包括多个杠杆，所述杠杆包括支撑杆以及与所述支撑杆垂直连接的支点，所述第一秤盘连接有所述支撑杆的一端，所述第二秤盘连接有所述支撑杆的另一端，所述第一秤盘和所述第二秤盘位于所述支点的两侧。
[0009]作为一种可选的实施方式，所述第二秤盘上设置有齿状容器，通过所述齿状容器的相邻齿间的缝隙放置所述第二砝码。
[0010]作为一种可选的实施方式，所述第一砝码包括环状砝码，所述环状砝码在第一平面的投影面积和所述第二秤盘在第一平面的投影面积相同，所述第一砝码通过不同的厚度表示不同的质量。
[0011]作为一种可选的实施方式，所述第二秤盘包括称量秤盘和配衡秤盘，其中：
[0012]所述称量秤盘用于放置第二砝码；
[0013]所述配衡秤盘，通过所述连接杆与所述称量秤盘相连，固定在所述第一秤盘和所述称量秤盘之间，所述配衡秤盘在所述第一平面的投影，位于所述称量秤盘在所述第一平
面的投影区域内，所述第一秤盘连接有所述支撑杆的一端，所述配衡秤盘连接有所述支撑杆的另一端，所述第一秤盘和所述配衡秤盘位于所述支点的两侧。
[0014]作为一种可选的实施方式，所述第一秤盘的内圆面积大于所述第二秤盘的面积；和/或，所述称量秤盘的面积大于所述配衡秤盘的面积。
[0015]作为一种可选的实施方式，针对任意一个杠杆，所述杠杆的支点安装在质量比较器的秤体平面上。
[0016]作为一种可选的实施方式，所述杠杆为包括等臂杠杆在内的固定比例的杠杆。
[0017]作为一种可选的实施方式，所述连接杆靠近所述第一平面的一侧用于连接质量比较器的传感器。
[0018]第二方面，本专利技术实施例提供的一种具有所述称量盘的质量比较器，包括：
[0019]包括置于所述电子天平的秤体平面上方的所述称量盘；
[0020]所述称量盘的连接杆靠近所述第一平面的一侧与所述质量比较器的传感器连接部位相连接，所述杠杆的支点固定于所述质量比较器的秤体平面上。
[0021]作为一种可选的实施方式，所述杠杆的支点通过焊接或粘连的方式固定在所述质量比较器的秤体平面上。
[0022]本申请的这些方面或其他方面在以下的实施例的描述中会更加简明易懂。
附图说明
[0023]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0024]图1为本专利技术实施例提供的一种称量盘的结构示意图；
[0025]图2A为本专利技术实施例提供的一种齿状容器的侧刨图；
[0026]图2B为本专利技术实施例提供的一种齿状容器位于第二秤盘的示意图；
[0027]图3为本专利技术实施例提供的一种质量比较器的秤体俯视图；
[0028]图4为本专利技术实施例提供的另一种称量盘的示意图；
[0029]图5为本专利技术实施例提供的一种具有上述称量盘的质量比较器的示意图；
[0030]图6为本专利技术实施例提供的另一种具有上述称量盘的质量比较器的示意图。
具体实施方式
[0031]为了使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0032]本专利技术实施例中术语“砝码等级”和“等级”都用于表示JJG99
‑
2006《砝码检定规程》中划分的砝码的等级。
[0033]本专利技术实施例描述的应用场景是为了更加清楚的说明本专利技术实施例的技术方案，并不构成对于本专利技术实施例提供的技术方案的限定，本领域普通技术人员可知，随着新应
用场景的出现，本专利技术实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。其中，在本专利技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
[0034]砝码检定/校准需依据国家计量检定规程JJG99
‑
2006《砝码检定规程》执行，通过高等级砝码与低等级砝码比较的方式，确定低等级砝码是否合格，以及低等级砝码的实际质量值。砝码等级依据JJG99
‑
2006《砝码检定规程》划分，由高到低依次为E1、E2、F1、F2、M1、M
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、M2、M3。在实际应用中，通过比较被检砝码与相对被检砝码所在等级的高等级的标准砝码之间的质量值的差值，确定被检砝码的实际质量值。在比较被检砝码和标准砝码质量值的差值时，需要用到衡量仪器，例如机械天平、电子天平或质量比较器。使用机械天平进行砝码的检定时，需人工读取多个摆动点计算平衡位置，工作效率低，受外界影响大，准确度不高，而且天平易损坏，目前基本淘汰；检定砝码时因不考虑衡量仪器的线性测量准确度，仅考虑衡量仪器的分辨力和测量重复性，所以将电子天平或质量比较器进行比较测量，使用电子天平或质量比较器进行砝码的检定时，由于电子天平或质量比较器均采用重力传感器制造，因此通过电子天平或质量比较器的重力传感器来检定本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种称量盘，其特征在于，包括：第一秤盘，位于第一平面，为环状秤盘，用于放置第一砝码；第二秤盘，通过垂直于所述第一平面的连接杆固定，用于放置第二砝码；所述第二秤盘在所述第一平面的投影，位于所述第一秤盘在所述第一平面的投影形成的内圆区域；杠杆组件，包括多个杠杆，所述杠杆包括支撑杆以及与所述支撑杆垂直连接的支点，所述第一秤盘连接有所述支撑杆的一端，所述第二秤盘连接有所述支撑杆的另一端，所述第一秤盘和所述第二秤盘位于所述支点的两侧。2.根据权利要求1所述的称量盘，其特征在于，所述第二秤盘上设置有齿状容器，通过所述齿状容器的相邻齿间的缝隙放置所述第二砝码。3.根据权利要求1所述的称量盘，其特征在于，所述第一砝码包括环状砝码，所述环状砝码在第一平面的投影面积和所述第二秤盘在第一平面的投影面积相同，所述第一砝码通过不同的厚度表示不同的质量。4.根据权利要求1所述的称量盘，其特征在于，所述第二秤盘包括称量秤盘和配衡秤盘，其中：所述称量秤盘用于放置第二砝码；所述配衡秤盘，通过所述连接杆与所述称量秤盘相连，固定在所述第一秤盘和所述称量秤盘之间，所述配衡秤盘在所述第一平面的投影，位于...

【专利技术属性】
技术研发人员：张越，马运涛，徐科英，
申请(专利权)人：北京优量云产业计量技术创新研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：