一种光学镜片中心厚度测量仪制造技术

本发明专利技术涉及测量技术领域，更具体地说，它涉及一种光学镜片中心厚度测量仪，其包括三爪卡盘、第一探针、第二探针、测量表、顶针和基子砝码；三爪卡盘用于对工件定位，工件为光学镜片或基子砝码；第一探针和第二探针均可活动，第一探针用于受驱动与工件上侧的中心相接触，第二探针用于受驱动与工件下侧的中心相接触；第一探针与测量表联动，第二探针与顶针联动，顶针用于推动测量表的探头运动，使测量表显示相应的读数。根据本发明专利技术的方案，其采用便捷易懂的检测手段，保证了操作人员简单的培训也可很快适应工作，减少对熟手的高度依赖，高精度的标准测量仪器以及高精度的加工件，保证了设备的高精度，大大提高了生产效率和测量精度。大大提高了生产效率和测量精度。大大提高了生产效率和测量精度。

【技术实现步骤摘要】
一种光学镜片中心厚度测量仪


[0001]本专利技术涉及测量
，特别涉及一种光学镜片中心厚度测量仪。

技术介绍

[0002]光学镜片是光学产品中的一种镜片，主要用于改变光线的路径或使光线发生某种变化。光学镜片在生产过程中需要经过多道工序，例如粗磨、研磨等等，光学镜片在进行相关加工后需要测量其尺寸是否符合要求，而光学镜片的中心厚度是必要测量要素。
[0003]现有技术中，光学镜片在测量中心厚度时一般采用手工方式测量，例如采用卡尺等测量工具对光学镜片的中心厚度作绝对测量。这种测量方式，测量效率低，对于大批量生产时并不适用，另外，这种测量方式的测量精度不高，降低了光学镜片的测量精度。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术提供一种光学镜片中心厚度测量仪，主要所要解决的技术问题是：如何提高光学镜片中心厚度的测量精度。
[0005]为达到上述目的，本专利技术主要提供如下技术方案：本专利技术的实施例提供一种光学镜片中心厚度测量仪，其包括三爪卡盘、第一探针、第二探针、测量表、顶针和高度机子套件；所述测量表具有可伸缩的探头，所述测量表用于根据探头的不同位置，指示相对应的不同读数；所述三爪卡盘用于对工件定位，所述工件为光学镜片或高度机子套件；所述第一探针和第二探针均可活动，所述第一探针用于受驱动与工件一侧的中心相接触，所述第二探针用于受驱动与工件相背另一侧的中心相接触；所述第一探针与所述测量表联动，所述第二探针与顶针联动，所述顶针用于推动测量表的探头运动，使测量表显示相应的读数。
[0006]可选的，所述的光学镜片中心厚度测量仪还包括第一活动基座，所述第一探针和测量表均设置在第一活动基座上，以在第一活动基座的带动下联动。
[0007]可选的，所述第一活动基座用于在重力作用下下降，以带动第一探针与工件上侧的中心相接触。
[0008]可选的，所述的光学镜片中心厚度测量仪还包括第一驱动机构，所述第一驱动机构的输出端可升降，所述第一驱动机构的输出端用于与第一活动基座的下侧相抵，以推动第一活动基座上升。
[0009]可选的，所述的光学镜片中心厚度测量仪还包括第二活动基座，所述第二探针和顶针均设置在第二活动基座上，以在第二活动基座的带动下联动。
[0010]可选的，所述的光学镜片中心厚度测量仪还包括第二驱动机构，所述第二驱动机构用于驱动第二活动基座升降，以带动第二活动基座上升时使第二探针与工件下侧的中心相接触。
[0011]可选的，所述第二驱动机构包括弹性件，所述弹性件用于提供所述第二活动基座上升的力；
和/或，所述第二驱动机构包括驱动缸，所述驱动缸用于驱动所述第二活动基座下降。
[0012]可选的，所述的光学镜片中心厚度测量仪还包括微调平台，所述微调平台用于对三爪卡盘在平面上的位置进行调节。
[0013]可选的，所述微调平台包括第一滑块和第二滑块；所述第一滑块用于沿X方向运动，所述第二滑块用于设置在第一滑块上、且沿Y方向运动，所述三爪卡盘用于设置在第二滑块上；其中，X方向与Y方向垂直。
[0014]借由上述技术方案，本专利技术光学镜片中心厚度测量仪至少具有以下有益效果：1、由于在测量光学镜片的中心厚度前，其先通过高度机子套件对测量表进行了校准，从而可以提高整个装置的测量精度；2、采用便捷易懂的检测手段，保证了操作人员简单的培训也可很快适应工作，减少对熟手的高度依赖，高精度的标准测量仪器以及高精度的加工件，保证了设备的高精度，大大提高了生产效率和测量精度。
[0015]上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本专利技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
附图说明
[0016]图1是本专利技术的一实施例提供的一种光学镜片中心厚度测量仪的结构示意图；图2是图1中A处的放大示意图；图3是图1中光学镜片中心厚度测量仪隐藏外壳的结构示意图；图4是图1中光学镜片中心厚度测量仪隐藏外壳的另一视角的结构示意图；图5是三爪卡盘的结构示意图；图6是三爪卡盘的分解结构示意图。
[0017]附图标记：1、第一探针；2、三爪卡盘；3、第二探针；4、测量表；5、高度机子套件；6、顶针；7、第一活动基座；8、第一驱动机构；9、第一滑块；10、第二滑块；11、气动开关；12、第二活动基座；13、弹性件；14、驱动缸；15、导轨；41、探头；81、第一驱动机构的输出端；141、驱动缸的输出端；21、卡盘体；22、调节件；23、活动卡爪；24、轴承；25、固定件；26、环形手调盘；211、凸轴；212、限位导向槽；221、平面螺纹；231、卡齿；232、安装位；251、螺杆；2300、底座；2301、连接块。
具体实施方式
[0018]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0019]需要说明，若本专利技术实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0020]另外，若本专利技术实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等
的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本专利技术要求的保护范围之内。
[0021]如图1和图2所示，本专利技术的一个实施例提出的一种光学镜片中心厚度测量仪，其包括三爪卡盘2、第一探针1、第二探针3、测量表4、顶针6和高度机子套件5。测量表4具有可伸缩的探头41，测量表4用于根据探头41的不同位置，指示相对应的不同读数。其中，测量表4可以为万分表、千分表等。优选的，为了提高测量精度，本专利技术中的测量表4为万分表。
[0022]三爪卡盘2用于对工件定位，工件为光学镜片或高度机子套件5。高度机子套件5具有基子砝码，基子砝码是条形砝码，其为标准件，其加工精度可以达到正负0.001mm以内。可以使用基子砝码对测量表4比如万分表进行校准，以提高万分表的测量精度，使万分表在测量镜片厚度时的数据更加趋于真实。
[0023]前述的第一探针1和第二探针3均可活动。如图2所示，第一探针1用于受驱动与工件一侧的中心相接触，第二探针3用于受驱动与工件相背另一侧的中心相接触。在一个具体的应用示例中，第一探针1和第二探针3均可升降，第一探针1可以为上探针，其位于工件本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学镜片中心厚度测量仪，其特征在于，包括三爪卡盘(2)、第一探针(1)、第二探针(3)、测量表(4)、顶针(6)和高度机子套件(5)；所述测量表(4)具有可伸缩的探头(41)，所述测量表(4)用于根据探头(41)的不同位置，指示相对应的不同读数；所述三爪卡盘(2)用于对工件定位，所述工件为光学镜片或高度机子套件(5)；所述第一探针(1)和第二探针(3)均可活动，所述第一探针(1)用于受驱动与工件一侧的中心相接触，所述第二探针(3)用于受驱动与工件相背另一侧的中心相接触；所述第一探针(1)与所述测量表(4)联动，所述第二探针(3)与顶针(6)联动，所述顶针(6)用于推动测量表(4)的探头(41)运动，使测量表(4)显示相应的读数。2.根据权利要求1所述的光学镜片中心厚度测量仪，其特征在于，还包括第一活动基座(7)，所述第一探针(1)和测量表(4)均设置在第一活动基座(7)上，以在第一活动基座(7)的带动下联动。3.根据权利要求2所述的光学镜片中心厚度测量仪，其特征在于，所述第一活动基座(7)用于在重力作用下下降，以带动第一探针(1)与工件上侧的中心相接触。4.根据权利要求3所述的光学镜片中心厚度测量仪，其特征在于，还包括第一驱动机构(8)，所述第一驱动机构(8)的输出端(81)可升降，所述第一驱动机构(8)的输出端(81)用于...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘望，黄华英，陈波，
申请(专利权)人：苏州创联精密自动化科技有限公司，
类型：发明
国别省市：