测距装置、信息处理方法及信息处理装置制造方法及图纸

本发明专利技术的测距装置(100)具备：发光装置(110)，朝向场景出射光；受光装置(120)，包含至少1个受光元件，由所述至少1个受光元件检测通过所述光的出射而产生的来自所述场景的反射光；以及信号处理电路(160)，基于从所述受光装置输出的信号，按每个帧生成输出数据并输出，该输出数据包含表示所述场景中的多个点的位置或者距离的计测数据。所述输出数据包含：表示按每个所述帧决定的基准时刻的基准时刻数据、以及表示按每个所述点决定的与所述基准时刻的差量的时刻差量数据。根据本发明专利技术，易于将包含距离图像数据或者点群数据的数据综合。包含距离图像数据或者点群数据的数据综合。包含距离图像数据或者点群数据的数据综合。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测距装置、信息处理方法及信息处理装置


[0001]本公开涉及测距装置、信息处理方法及信息处理装置。

技术介绍

[0002]以往，提出了利用光对空间进行扫描(scan)、接受来自物体的反射光并计测距物体的距离的各种设备。对象场景的距离信息例如可以被转换为3维的点群(point cloud)的数据并利用。点群数据典型而言，是由3维坐标表现在场景中物体所存在的点的分布的数据。
[0003]专利文献1及2公开了一种系统，通过光束对空间进行扫描，由光传感器检测来自物体的反射光，从而取得距物体的距离信息。该系统生成将计测时刻与点群数据的各点建立了对应的信息并输出。
[0004]专利文献3及4公开了一种装置，通过光束对空间进行扫描，由图像传感器接受来自物体的反射光并取得距离信息。
[0005]在先技术文献
[0006]专利文献
[0007]专利文献1:日本特开2011
‑
170599号公报
[0008]专利文献2:日本特开2009
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294128号公报r/>[0009]专本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种测距装置，具备：发光装置，向不同的方向以及在不同的定时将多个光束朝向场景出射；受光装置，包含至少1个受光元件，由所述至少1个受光元件检测通过所述光的出射而产生的来自所述场景的反射光；以及信号处理电路，基于从所述受光装置输出的信号，按每个帧生成输出数据并输出，该输出数据包含表示所述场景中的多个点的位置或者距离的计测数据；所述输出数据包含：表示按每个所述帧决定的基准时刻的基准时刻数据；以及表示按每个所述点决定的与所述基准时刻的差量的时刻差量数据，在生成1帧的输出数据的期间中的光束的出射次数按每个所述帧而不同。2.如权利要求1所述的测距装置，各点的所述时刻差量数据表示：为了取得关于所述点的所述计测数据而使用的所述光被出射的时刻或者所述光被检测出的时刻与所述基准时刻之间的差量。3.如权利要求1或者2所述的测距装置，所述受光装置包含以2维排列的多个受光元件的阵列，由所述多个受光元件检测通过各光束的出射而产生的来自所述场景的反射光。4.如权利要求3所述的测距装置，所述输出数据包含多个块的数据，该多个块的数据各自包含所述多个点之中的一部分点的所述计测数据，按每个所述块，表示与所述基准时刻的差量的个别的时刻差量数据作为所述块的各点的所述时刻差量数据被记录。5.如权利要求3或者4所述的测距装置，各帧的所述基准时刻是为了取得所述帧中的所述计测数据而出射的所述多个光束之中的最初的光束被出射的时刻。6.如权利要求5所述的测距装置，关于各点的所述时刻差量数据表示：为了取得关于所述点的所述计测数据而出射的光束的出射时刻与为了取得关于之前刚取得所述计测数据的其他点的所述计测数据而出射的光束的出射时刻之间的差量。7.如权利要求3至6中任一项所述的测距装置，在各帧的测距动作中，所述发光装置将所述多个光束以一定的时间间隔出射，各帧中的所述基准时刻是为了取得所述帧中的所述计测数据而最初出射的光束的出射时刻，所述帧中的各点的所述时刻差量数据包含：表示为了取得关于所述点的所述计测数据而出射的光束的序号的数据、以及表示所述多个光束的时间间隔的数据。8.如权利要求1至7中任一项所述的测距装置，所述信号处理电路生成包含所述多个点的3维坐标的信息的点群数据作为所述输出数据。9.如权利要求1至7中任一项所述的测距装置，所述信号处理电路生成表示所...

【专利技术属性】
技术研发人员：加藤弓子，稻田安寿，杉尾敏康，井口贺敬，
申请(专利权)人：松下知识产权经营株式会社，
类型：发明
国别省市：