【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉采用高介电常数陶瓷的层叠陶瓷电容以及具有负电阻温度特性的其他电子零件的试验方法以及试验装置。
技术介绍
这样的电子零件，在作为产品出厂前进行各种试验。试验中包含老化试验。众所周知，这种老化试验是在额定以上的一定温度(老化温度)下设定额定以上的一定电压(老化电压)以及由规定的短时间(老化时间)决定的规定的负荷量，加上与所述负荷量等量的负荷对电子零件进行老化之后，测量其内部的绝缘电阻，其绝缘电阻降低到规定以下的电子零件作为不合格品从合格品中排除出去。在这样把电子零件放置于老化温度环境中的状态下对电子零件施加老化电压时，由于电子零件自身因负荷电流而自行发热，实际上不能达到在恒温槽内设定的老化温度。此外，每个电子零件的自行发热温度也有差异。为使电子零件的自行发热温度保持一定，进行正确的老化，作为以往实施的老化试验，有外加恒定功率的方法。参考例如，特开平6-102312号(第4页，图3)。
技术实现思路
专利技术所要解决的课题然而，上述已有的老化试验方法，虽然能够适用于通过外部控制信号可以正确调整其消耗功率的电子零件，但是不能适用于诸如电容那样只采用外部控制信号...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电子零件的试验方法，是设定由老化温度、老化电压以及老化时间决定的规定的负荷量，加上与所述负荷量等量的负荷对电子零件进行老化的电子零件的试验方法，其特征在于，包含将具有负电阻温度特性的电子零件放置在低于老化温度的规定温度下，使所述电子零件的温度为所述规定温度的第1步骤、对电子零件通以恒定电流，控制电子零件的温度从所述规定温度上升到老化温度的第2步骤、以及在所述老化温度中，把外加在电子零件上的实际外加电压与所述老化电压进行比较，根据该比较修正所述老化时间并求出修正老化时间，基于该修正老化时间对电子零件通以恒定电流的第3步骤。2.根据权利要求1记载的电子零件的试验方法，其特征在于，监视在所述第2步骤对所述电子零件通以恒定电流的状态下对该电子零件施加的电压，依据该监视结果决定老化时间。3.根据权利要求1或2记载的电子零件的试验方法，其特征在于，所述第1步骤包含预先利用升温装置将所述电子零件的温度升温到比常温更接近所述老化温度的温度的工序。4.一种电子零件的试验装置，设定由老化温度、老化电压以及老化时间决定的规定的负荷量，加上与所述负荷量等量的负荷对电子零件进行老化的电子零件的试验装置，其特征在于，具有对所述电子零件通以恒定电流的恒...
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