一种红外辐射计温度标定装置制造方法及图纸

技术编号:32089187 阅读:28 留言:0更新日期:2022-01-29 18:14
本实用新型专利技术公开了一种红外辐射计温度标定装置,包括面源黑体、红外辐射计、环境温控仪、加热器。面源黑体连接于基座一侧,基座顶部设有红外辐射计安装管,红外辐射计设于红外辐射计安装管内;环境温控仪、加热器均设于基座顶部,环境温控仪、加热器通信连接在一起,环境温控仪用于检测红外辐射计参考端的环境温度,还用于根据所述环境温度来调控加热器,加热器用于调节所述环境温度。优化外部环境温度对红外辐射计响应参数的影响,同时减少使用高精度大型校准设备带来的高额校准费用。大型校准设备带来的高额校准费用。大型校准设备带来的高额校准费用。

【技术实现步骤摘要】
一种红外辐射计温度标定装置


[0001]本技术涉及红外辐射计
,尤其涉及一种红外辐射计温度标定装置。

技术介绍

[0002]随着微电子工艺的发展与成熟,红外探测器的成本得到了极大的降低,使得热像仪、夜视仪、低成本的红外测温仪等产品大量涌现。红外辐射计是一种非接触式和非制冷型的红外探测器,相对于其他红外探测来说,具有能够主动检测恒定辐射量,可对静态物体进行探测输出信号,无需偏置电压,测试放大电路简单和制作成本低等优点,因此在得到了广泛的应用。
[0003]然而,受到半导体材料的非均匀性、掩膜误差、缺陷、工艺等因素影响,红外辐射计中的器件参数值可能会因为环境温度变化而变化,其中,红外辐射计的灵敏度是随环境温度的变化影响较大的参数,因此产品出厂前都需要利用大型的校准设备进行出厂校准,由此产生了高额的校准费用。

技术实现思路

[0004]为解决现有技术不足,本技术提供一种红外辐射计温度标定装置,优化外部环境温度对红外辐射计响应参数的影响,同时减少使用高精度大型校准设备带来的高额校准费用。
[0005]为了实现本技术的目本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种红外辐射计温度标定装置,其特征在于,包括面源黑体(1)、红外辐射计(13)、环境温控仪(3)、加热器(6);面源黑体(1)连接于基座(2)一侧,基座(2)顶部设有红外辐射计安装管(12),红外辐射计(13)设于红外辐射计安装管(12)内;环境温控仪(3)、加热器(6)均设于基座(2)顶部,环境温控仪(3)、加热器(6)通信连接在一起,环境温控仪(3)用于检测红外辐射计(13)参考端的环境温度,还用于根据所述环境温度来调控加热器(6),加热器(6)用于调节所述环境温度。2.根据权利要求1所述的红外辐射计温度标定装置,其特征在于,基座(2)顶部还设有密封外壳(5),红外辐射计...

【专利技术属性】
技术研发人员:史高潮
申请(专利权)人:北京轩宇空间科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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