一种光纤型光源光斑性能检测装置制造方法及图纸

技术编号:32036124 阅读:29 留言:0更新日期:2022-01-27 14:11
本实用新型专利技术公开了一种光纤型光源光斑性能检测装置,包括检测接口、光纤接口和透镜组件,还包括CMOS传感器、多路开关、控制器和图像处理模块,所述一个检测接口通过多路光纤通道分别连多个光纤接口,每个光纤接口依次连接透镜组件和CMOS传感器,所述多个CMOS传感器与一个多路开关连接,所述多路开关分别连接控制器和图像处理模块,本实用新型专利技术通过采用CMOS传感器采集透镜组件整形后输出的光束,图像处理模块对已获得的图像信号进行减去参考暗电流信号的预处理,将数据传输至光谱仪进行分析与处理,在光斑性能的检测中降低了设备成本,减少了设备工作量,提高了检测精度,极大提高了光斑性能检测的效率。斑性能检测的效率。斑性能检测的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种光纤型光源光斑性能检测装置


[0001]本技术涉及光源检测设备领域,尤其涉及一种光纤型光源光斑性能检测装置。

技术介绍

[0002]光源发出的光束经过聚焦后形成光斑,光斑呈现出高斯分布的特性,光的强度表现为中心强而边缘弱。实际上,光源通常发出的是非均匀光束,高斯分布是最为重要的很平面分布模式,绝大多数气体激光器和一些特殊设计的半导体激光器的辐射方向图与高斯分布是一致的。假设用透镜或者透镜组合来聚焦高斯光束的话,则在焦平面上产生的光斑分布仍然是呈现高斯分布特性的。
[0003]光斑的检测与分析在光学系统成像质量、激光光束评价等方面具有非常重要的作 用。以往的检测方法采用基于彩色CCD的检测系统进行测量,整个系统需要先通过显微物镜将光斑进行方法,然后再对放大后的光斑进行成像后,在此基础上进行光斑的检测,再通过图像采集卡和计算机系统进行分析,但是CCD传感器造价比较昂贵不适用于光源光斑检测装置,而使用CMOS传感器可能会出现暗电流,导致检测不精确。

技术实现思路

[0004]为解决上述的问题,本技术提供一种光纤型光源光斑性本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光纤型光源光斑性能检测装置,包括检测接口、光纤接口和透镜组件,其特征在于,还包括CMOS传感器、多路开关、控制器和图像处理模块,所述一个检测接口通过多路光纤通道分别连多个光纤接口,每个光纤接口依次连接透镜组件和CMOS传感器,所述多个CMOS传感器与一个多路开关连接,所述多路开关分别连接控制器和图像处理模块。2.根据权利要求1所述的一种光纤型光源光斑性能检测装置,其特征在于,还包括供电模块,所述供电模块分别与CMOS传感器、多路开关、控制器和图像处理模块连接。3.根据权利要求1所述的一种光纤型光源光斑性能检测装置,其特征在于,所述图像处理模块连接外部设备,所述外部设备包括光谱仪。4.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员:李俊孟繁宇梁晓
申请(专利权)人:桂林电子科技大学
类型:新型
国别省市:

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