存储器装置的操作方法制造方法及图纸

技术编号:32029069 阅读:33 留言:0更新日期:2022-01-27 12:47
本发明专利技术公开了一种存储器装置的操作方法包括:进行擦除操作;对一存储器单元进行验证读取操作,以得到一单元电流,该存储器单元包括一第一晶体管与一第二晶体管;检查该单元电流是否小于一第一单元电流门限值;如果该单元电流未小于该第一单元电流门限值,增加一存储器栅电压,直到该单元电流小于该第一单元电流门限值,该存储器栅电压施加至该第一晶体管;固定该存储器栅电压并增加一漏极电压;检查该单元电流是否小于一第二单元电流门限值;以及如果该单元电流未小于该第二单元电流门限值,增加该漏极电压,直到该单元电流小于该第二单元电流门限值。元电流门限值。元电流门限值。

【技术实现步骤摘要】
存储器装置的操作方法


[0001]本专利技术是有关于一种存储器装置的操作方法。

技术介绍

[0002]深度神经网络(Deep Neural Networks,DNN)已在多种应用领域中达到成功,例如,影像识别,语音识别等。近年来,存储器内计算(computing in memory,CIM)已吸引许多注视,因其可以低功率实现深度神经网络的有效计算。因为CIM可以减少数据搬移,CIM直接使用存储器阵列当成计算单元,以加速DNN计算,且能减少系统功率消耗。
[0003]为增加CIM容量与降低成本,目前已发展出多位数据存储。因为,对于多位单元(MLC)而言,如何窄化电流分对于改善DNN识别准确度是重要的。

技术实现思路

[0004]根据本专利技术一实例,提出一种存储器装置的操作方法,包括:进行擦除操作;对一存储器单元进行验证读取操作,以得到一单元电流,该存储器单元包括一第一晶体管与一第二晶体管;检查该单元电流是否小于一第一单元电流门限值;如果该单元电流未小于该第一单元电流门限值,增加一存储器栅电压,直到该单元电流小于该第一单元本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储器装置的操作方法,其中,包括:进行擦除操作;对一存储器单元进行验证读取操作,以得到一单元电流,该存储器单元包括一第一晶体管与一第二晶体管;检查该单元电流是否小于一第一单元电流门限值;如果该单元电流未小于该第一单元电流门限值,增加一存储器栅电压,直到该单元电流小于该第一单元电流门限值,该存储器栅电压施加至该第一晶体管;固定该存储器栅电压并增加一漏极电压;检查该单元电流是否小于一第二单元电流门限值;以及如果该单元电流未小于该第二单元电流门限值,增加该漏极电压,直到该单元电流小于该第二单元电流门限值。2.根据权利要求1所述的存储器装置的操作方法,其中,该第一单元电流门限值大于该第二单元电流门限值。3.根据权利要求1所述的存储器装置的操作方法,其中,该第一单元电流门限值为一目标单元电流的200%至130%。4.根据权利要求1所述的存储器装置的操作方法,其中,该第二单元电流门限值为一目标单元电流的130%至110%。5.根据权利要求1所述的存储器装置的操作方法,其中,于读取时,根据该单元电流来调整一选择栅电压,该选择栅电压施加至该第二晶体管;该第一晶体管与该第二晶体管为串联;以及该第一晶体管的一中间层为一电荷存储层,该第二晶体管为一MOS晶体管。6.一...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐子轩许柏凯叶腾豪吕函庭
申请(专利权)人:旺宏电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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